[發(fā)明專利]標(biāo)志訪問缺陷檢查裝置和標(biāo)志訪問缺陷檢查方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380071049.X
• 申請日: 2013-12-26
• 公開（公告）號: CN104937559B
• 公開（公告）日: 2016-10-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 市川智
• 申請（專利權(quán)）人: 日產(chǎn)自動(dòng)車株式會(huì)社
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 何立波;張?zhí)焓?/td>

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種標(biāo)志訪問缺陷檢查裝置、標(biāo)志訪問缺陷檢查方法以及標(biāo)志訪問缺陷檢查程序。

背景技術(shù)

當(dāng)前，已知一種對由編程語言記述的源程序中的控制流、數(shù)據(jù)流以不執(zhí)行該源程序的方式進(jìn)行分析的靜態(tài)分析方法(參照專利文獻(xiàn)1)。

專利文獻(xiàn)1：日本特開平09－282173號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)專利文獻(xiàn)1的靜態(tài)分析方法，能夠明確輸入與輸出的關(guān)系而使程序的構(gòu)造可視化。但是，無法使用戶注意到實(shí)現(xiàn)了可視化的程序構(gòu)造中的有可能產(chǎn)生缺陷的位置。

本發(fā)明就是鑒于上述課題而提出的，其目的在于提供一種能夠使用戶注意到程序構(gòu)造中的、有可能產(chǎn)生缺陷的位置的標(biāo)志訪問缺陷檢查裝置、標(biāo)志訪問缺陷檢查方法以及標(biāo)志訪問缺陷檢查程序。

本發(fā)明的一個(gè)方式所涉及的標(biāo)志訪問缺陷檢查裝置，從利用僅能設(shè)定兩個(gè)值的標(biāo)志而切換并執(zhí)行大于或等于兩個(gè)的不同的處理的計(jì)算機(jī)程序中檢測出標(biāo)志，分別確定對標(biāo)志進(jìn)行訪問的語句、該語句中的針對標(biāo)志的處理內(nèi)容、以及該語句的執(zhí)行順序。并且，基于針對標(biāo)志的處理內(nèi)容以及語句的執(zhí)行順序，判斷無法利用標(biāo)志而切換并執(zhí)行大于或等于兩個(gè)的不同的處理的可能性的有無，輸出其判斷結(jié)果。

附圖說明

圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式所涉及的標(biāo)志訪問缺陷檢查裝置的硬件結(jié)構(gòu)的框圖。

圖2是表示CPU11的功能結(jié)構(gòu)的框圖。

圖3是表示由本發(fā)明的實(shí)施方式所涉及的標(biāo)志訪問缺陷檢查裝置執(zhí)行的信息處理的流程、以及在信息處理過程中生成的中間數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)流圖。

圖4(a)～(g)是作為讀入的源代碼D01而示出用C語言記述的計(jì)算機(jī)程序的一例的圖。

圖5是表示通過變量檢測處理(S01)檢測的變量的一覽即“變量訪問一覽(D02)”的表。

圖6是表示通過標(biāo)志提取處理(S02)提取的標(biāo)志的一覽即“標(biāo)志一覽(D03)”的表。

圖7(a)～(g)是表示由分支程序塊確定部22確定的分支程序塊ID1～I(xiàn)D4的圖。

圖8是表示通過上述分支程序塊確定處理(S03)確定的分支程序塊的一覽即“程序塊ID一覽(D04)”的表。

圖9是表示對標(biāo)志進(jìn)行訪問的語句所屬的分支程序塊的一覽即“標(biāo)志訪問一覽(D05)”的表。

圖10是表示針對標(biāo)志的處理內(nèi)容的分類結(jié)果即“標(biāo)志判定一覽(D06)”的表。

圖11(a)～(d)是表示針對各個(gè)分支程序塊ID1～I(xiàn)D4確定各語句的執(zhí)行順序而得到的結(jié)果即“語句編號分配一覽(D07)”的表。

圖12是表示標(biāo)志訪問順序確定處理(S07)的結(jié)果即“標(biāo)志訪問順序一覽(D08)”的表。

圖13(a)、(b)是表示根據(jù)標(biāo)志(Flag)的狀態(tài)而切換并執(zhí)行兩個(gè)處理(處理1及處理2)的正常的計(jì)算機(jī)程序的事例的流程圖。

圖14(a)、(b)是表示通過第1缺陷模式判定處理(S08)而能夠檢測出的缺陷的事例的流程圖。

圖15(a)、(b)是表示通過第2缺陷模式判定處理(S09)而能夠檢測出的缺陷的事例的流程圖。

圖16(a)、(b)是表示通過第3缺陷模式判定處理(S?10)而能夠檢測出的缺陷的事例的流程圖。

圖17(a)～(c)是表示根據(jù)標(biāo)志(Flag)的狀態(tài)而切換并執(zhí)行3個(gè)處理(處理1、處理2以及處理3)的正常的計(jì)算機(jī)程序的事例的流程圖。

圖18(a)～(c)是表示通過第4缺陷模式判定處理(S?11)而能夠檢測出的缺陷的事例的流程圖。

圖19是表示“第1缺陷模式判定結(jié)果(D09)”的表。

圖20是表示“第2缺陷模式判定結(jié)果(D10)”的表。

圖21是表示“第3缺陷模式判定結(jié)果(D11)”的表。

圖22是表示“第4缺陷模式判定結(jié)果(D12)”的表。

圖23是表示“判斷結(jié)果一覽(D13)”的一例的表。

圖24(a)～(g)是表示基于圖23所示的判斷結(jié)果一覽(D13)對圖4(a)～(g)所示的計(jì)算機(jī)程序進(jìn)行修正的結(jié)果的圖。

圖25(a)～(g)是表示對標(biāo)志寫入的值出錯(cuò)的計(jì)算機(jī)程序的一例的圖。

圖26是表示將圖25(a)～(g)所示的計(jì)算機(jī)程序作為檢查對象的情況下的“判斷結(jié)果一覽(D13)”的一例的表。

圖27(a)～(g)是表示記述對標(biāo)志進(jìn)行訪問的處理的位置出錯(cuò)的計(jì)算機(jī)程序的一例的圖。