[發明專利]外殼設計固有的殼體減壓機構

在審

• 申請號: 201380070841.3
• 申請日: 2013-12-12
• 公開（公告）號: CN105122421A
• 公開（公告）日: 2015-12-02
• 發明（設計）人: E.J.鮑斯;J.P.康斯坦特
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: H01J47/02
• 分類號: H01J47/02;G01T1/185
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 嚴志軍;肖日松

1.一種輻射檢測組件，包括：

電離室，所述電離室用于檢測輻射，所述電離室包括一定體積的加壓氣體；

外部殼體，所述外部殼體將所述電離室容納在內部體積內，所述外部殼體包括易碎部段；以及

釋放組件，所述釋放組件限定了從所述電離室到所述外部殼體的易碎部段的氣流路徑，其中當所述電離室內的加壓氣體超過預定壓力時，所述易碎部段從所述電離室內釋放壓力，使得至少一些加壓氣體流過所述釋放組件并且流過所述外部殼體的易碎部段，由此加壓氣體被釋放到所述外部殼體的外部。

2.根據權利要求1所述的輻射檢測組件，其中所述易碎部段模制到所述外部殼體中。

3.根據權利要求1所述的輻射檢測組件，其中所述釋放組件定位在所述外部殼體的內部體積內。

4.根據權利要求1所述的輻射檢測組件，其中所述釋放組件相對于所述外部殼體密封，使得加壓氣體被限制流入所述外部殼體的內部體積中。

5.根據權利要求4所述的輻射檢測組件，其中所述釋放組件相對于所述電離室密封。

6.根據權利要求1所述的輻射檢測組件，其中所述外部殼體包括密封突出部，所述密封突出部從所述外部殼體的內表面向內延伸到所述內部體積中。

7.根據權利要求6所述的輻射檢測組件，其中所述釋放組件包括設置在所述釋放組件的外表面處的肩部。

8.根據權利要求7所述的輻射檢測組件，其中所述密封突出部與所述肩部相接合并且相對于所述肩部形成密封。

9.根據權利要求8所述的輻射檢測組件，其中所述肩部包括可彈性變形的材料。

10.一種輻射檢測組件，包括：

電離室，所述電離室用于檢測輻射，所述電離室包括一定體積的加壓氣體；

外部殼體，所述外部殼體將所述電離室容納在內部體積內，所述外部殼體包括易碎部段，所述易碎部段被模制到所述外部殼體中；以及

釋放組件，所述釋放組件限定了從所述電離室到所述外部殼體的易碎部段的氣流路徑，所述釋放組件定位在所述內部體積內并且在所述外部殼體和所述電離室中的每一個之間形成密封，其中當所述電離室內的加壓氣體超過預定壓力時，所述易碎部段從所述電離室內釋放壓力，使得至少一些加壓氣體流過所述釋放組件并且流過所述外部殼體的易碎部段，由此加壓氣體被釋放到所述外部殼體的外部。

11.根據權利要求10所述的輻射檢測組件，其中所述外部殼體包括密封突出部，所述密封突出部從所述外部殼體的內表面向內延伸到所述內部體積中。

12.根據權利要求11所述的輻射檢測組件，其中所述釋放組件包括肩部，所述肩部布置于所述釋放組件的外表面處。

13.根據權利要求12所述的輻射檢測組件，其中所述密封突出部與所述肩部相接合并且相對于所述肩部形成密封。

14.根據權利要求13所述的輻射檢測組件，其中所述肩部包括可彈性變形材料。

15.根據權利要求11所述的輻射檢測組件，其中所述易碎部段包括多個插入物，所述插入物突出到所述外部殼體的壁中。

16.根據權利要求15所述的輻射檢測組件，其中所述插入物通過易碎壁與所述外部殼體的外部分開。

17.一種降低輻射檢測組件內的壓力的方法，所述方法包括以下步驟：

提供電離室，所述電離室包括一定體積的加壓氣體；

提供外部殼體，所述外部殼體將所述電離室容納在內部體積內，所述外部殼體包括易碎部段；

提供釋放組件，所述釋放組件限定從所述電離室到所述外部殼體的易碎部段的氣流路徑；以及

通過在所述電離室內的加壓氣體超過預定壓力時使所述易碎部段破裂從而使得加壓氣體流過所述易碎部段來降低所述電離室內的壓力。

18.根據權利要求17所述的方法，其中所述易碎部段模制到所述外部殼體中。

19.根據權利要求17所述的方法，其中在降低所述電離室內的壓力的步驟之前，所述易碎部段未破碎并且防止空氣從所述外部殼體的外部通過所述易碎部段。

20.根據權利要求17所述的方法，其中所述易碎部段包括易碎壁，所述易碎壁的厚度小于所述外部殼體的壁的厚度。