[發(fā)明專利]具有用于阻止引導(dǎo)孔中的不需要的移動的彈簧機構(gòu)的探針在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380067854.5 | 申請日: | 2013-10-29 |
| 公開(公告)號: | CN104884963A | 公開(公告)日: | 2015-09-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 凱思·J.·布賴因林格;凱文·J.·休斯 | 申請(專利權(quán))人: | 佛姆法克特股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073;G01R31/26 |
| 代理公司: | 上海脫穎律師事務(wù)所 31259 | 代理人: | 脫穎 |
| 地址: | 美國加*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 用于 阻止 引導(dǎo) 中的 不需要 移動 彈簧 機構(gòu) 探針 | ||
背景技術(shù)
一些類型的探針卡組件包括均布置在間隔開的導(dǎo)板的孔內(nèi)的長形探針。當(dāng)將被測試的電子裝置的端子被壓靠在探針的接觸端部上時,探針能夠在導(dǎo)板中的孔中滑動和/或彎曲,這能夠確保探針的相對端部被壓縮在正被測試的電子裝置的端子與探針卡組件的端子之間。然而,因為探針能夠在導(dǎo)板中的孔內(nèi)移動,所以在使用探針卡組件測試電子裝置之前探針可能移動脫位。另外,探針在孔中移動會使得探針卡組件的組裝操作和修理操作更為困難。本發(fā)明的實施方式能夠抑制探針的這種不需要的移動,因而避免由于這種不需要的移動而引起的問題。
發(fā)明內(nèi)容
在一些實施方式中,探針卡組件可以包括布置在基板上的導(dǎo)電端子和聯(lián)接至所述基板的探針組件。所述探針組件可以包括導(dǎo)板和導(dǎo)電探針。每個探針可以包括基礎(chǔ)端部、接觸端部和位于所述基礎(chǔ)端部和所述接觸端部之間的長形柔性本體。所述本體的一部分可以被布置在其中一個引導(dǎo)孔中并且可以包括被構(gòu)造成向所述引導(dǎo)孔的側(cè)壁施加法向力的彈簧機構(gòu)。所述法向力可以足夠大以減少所述探針在所述引導(dǎo)孔中的移動。
附圖說明
圖1A是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的探針卡組件的示例的仰視立體圖。
圖1B是圖1A的探針卡組件的側(cè)剖視圖。
圖1C是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的布置在引導(dǎo)孔中并且包括用于阻止探針在引導(dǎo)孔中非有意移動的彈簧機構(gòu)的探針的上本體部分的詳細視圖。
圖2A是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的其中彈簧機構(gòu)包括懸臂梁的探針的局部剖切側(cè)視圖。
圖2B示出了處于完全被壓縮狀態(tài)的圖2A的懸臂梁。
圖2C示出了被插入導(dǎo)板的引導(dǎo)孔內(nèi)的圖2A的探針。
圖3是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的其中彈簧機構(gòu)包括多個梁(每個梁都兩端受到支撐)的探針的局部剖切側(cè)視圖。
圖4是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的其中彈簧機構(gòu)包括在兩端受到支撐的梁的探針的局部剖切側(cè)視圖。
圖5A是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的圖1A至1C的探針卡組件的側(cè)剖視圖,但是其中一個探針具有可壓縮止動結(jié)構(gòu)。
圖5B是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的圖5A的可壓縮止動結(jié)構(gòu)的詳細視圖。
圖5C是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的處于被壓縮狀態(tài)的圖5B的可壓縮止動結(jié)構(gòu)的詳細圖。
圖6A是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的其中可壓縮止動結(jié)構(gòu)包括懸臂梁的探針的局部剖切側(cè)視圖。
圖6B是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的其中包括懸臂梁的可壓縮止動結(jié)構(gòu)被壓縮的圖6A的探針的局部剖切側(cè)視圖。
圖7A是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的其中可壓縮止動結(jié)構(gòu)包括空心球狀結(jié)構(gòu)的探針的局部剖切側(cè)視圖。
圖7B是根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的其中包括空心球狀結(jié)構(gòu)的可壓縮止動結(jié)構(gòu)被壓縮的圖6A的探針的局部剖切側(cè)視圖。
圖8示出了根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的其中能夠使用圖1A至1C的探針卡組件的測試系統(tǒng)的示例。
圖9示出了根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的探針的示例,其中位于下導(dǎo)板中的引導(dǎo)孔內(nèi)的該探針本體的下部與位于上導(dǎo)板中的引導(dǎo)孔內(nèi)的探針本體的上部錯開。
圖10示出了根據(jù)本發(fā)明的一些實施方式的下導(dǎo)板中的引導(dǎo)孔從上導(dǎo)板中的引導(dǎo)孔錯位的示例。
具體實施方式
該說明書將描述本發(fā)明的示例性實施方式和應(yīng)用。然而,本發(fā)明不限于這些示例性實施方式和應(yīng)用或這些示例性實施方式和應(yīng)用操作的方式或這里描述這些示例性實施方式和應(yīng)用的方式。而且,附圖可能示出簡化或部分視圖,并且這些圖中的元件的尺寸為了清楚起見可能被夸大或者并不成比例。另外,當(dāng)這里使用術(shù)語“在…上”、“附裝至”或“聯(lián)接至”時,一個對象(例如,材料、層、基板等)可以“在另一個對象上”、“附裝至”另一個對象或“聯(lián)接”至另一個對象,而不管所述一個對象是否直接在另一個對象上、直接附裝至另一個對象或直接聯(lián)接至另一個對象,或者不管在所述一個對象和另一個對象之間是否存在一個或多個居間對象。另外,如果提供的話,方向(例如,在…上方、在…下方、頂部、底部、側(cè)部、上、下、向下、在…下面、在…之上、上面、下面、水平、豎直、x、y、z等)都是相對的,并且僅僅通過示例的方式而不是限制的方式提供的,以便容易進行圖示和討論。另外,當(dāng)參照一列元件(例如,元件a、b、c)時,這種參考旨在包括所列元件本身中的任何一個、少于全部所列元件少的任何組合和/或全部所列元件的組合。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進;這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
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