[發明專利]用于檢查眼鏡片的光學特性的符合性的方法以及相關設備

在審

• 申請號: 201380067694.4
• 申請日: 2013-12-19
• 公開（公告）號: CN104870967A
• 公開（公告）日: 2015-08-26
• 發明（設計）人: P·艾利昂
• 申請（專利權）人: 埃西勒國際通用光學公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 楊曉光;于靜

技術領域

本發明涉及一種用于驗證矯正眼鏡片的光學特性與預期光學特性的符合性的方法。

本發明還涉及一種用于驗證眼鏡片的光學特性與預期光學特性的符合性的設備。

背景技術

重要的是，收到眼鏡片的眼鏡商能夠快速并且簡單地驗證所訂購的眼鏡片的所有光學特性實際上都與期望的光學特性相對應，特別是根據相應佩戴者的處方。

因為由于個性化設計的眼鏡片的發展所致，眼鏡片具有越來越復雜的光學特性，使得情況更是如此。

為此原因，已知的是通過手動焦度計來測量眼鏡片的正面屈光力。盡管如此，這種類型的裝置對眼鏡片在該裝置的固持器上的定心是非常敏感的，并且其允許僅僅局部地測量屈光力，通常在大約5至10毫米(mm)的有限區內。這可以例如用于測量漸進式鏡片的距離和近視覺屈光力。

“鏡片測繪儀(lens-mapper)”類型的電子焦度計產生眼鏡片的光學屈光力的完整地圖，但是通常是昂貴的，并且難于使用。

從文獻EP?1?324?015中還獲知一種測量方法，該測量方法使用莫爾效應(Moiré?effect)測量眼鏡片的光學參數，例如，允許產生對其光學屈光力的地圖。

這種測量方法利用了由均通過有待驗證的眼鏡片所看到的兩個周期柵格的對應圖像所形成的兩個圖像的組合。一旦被組合，這兩個圖像形成一個莫爾圖案，從該莫爾圖案可以在已經預先進行計算步驟的情況下計算出眼鏡片的光學特性。

因此，文獻EP?1?324?015的測量方法要求使用兩個單獨的柵格，每一個柵格都通過有待測量的眼鏡片進行成像，從而使得其難以實施。

而且，同樣重要的是，眼鏡商在接收到矯正眼鏡片時驗證鏡片制造商實際上已經遵守了由鏡片的設計者指定的鏡片的光學設計。該光學設計(法語為conception?optique或design?optique)產生了與所尋求的矯正相對應的光學屈光力分布。

眼鏡片的光學設計是特定于鏡片設計者的光學特性。

因此，為保證所制造的眼鏡片與期望的光學設計的符合性，已知的是使用如例如粘性地粘結到鏡片的正面上的防偽標簽(全息標簽；“數據矩陣”類型的條形碼等)等標識手段。這些標識手段允許從設計到接收對眼鏡片進行跟蹤，并用來標識眼鏡片的設計者。然而，這種類型的手段容易被偽造，并且不能保證令人滿意的安全水平。

發明內容

本發明提供了一種用于快速且簡便地檢查眼鏡片的光學性能的方法。這種實施起來不昂貴的方法使得可以對整個眼鏡片的光學特性進行地毯式檢查，或者對其多個相關區中的某些進行局部檢查。

更具體地，根據本發明，提供了一種用于基于各自具有不均勻對比度的未變形測試圖案與變形測試圖案驗證被驗證的眼鏡片的被驗證的光學特性與期望的光學特性的符合性的方法，所述方法包括以下步驟：

a)確定一個圖像測試圖案，即，在多個設定光學條件下所述變形測試圖案透過所述被驗證的眼鏡片的圖像；

b)組合所述圖像測試圖案與所述未變形測試圖案以便形成一個測試測試圖案；

c)將所述測試測試圖案與至少一個參考測試圖案進行比較；以及

d)根據步驟c)的比較來推斷所述被驗證的光學特性與所述期望的光學特性的符合性。

根據所述變形測試圖案和所述未變形測試圖案，可以驗證局部光學特性(例如，所述被驗證的眼鏡片的遠視覺光學屈光力)、或總體光學特性(如所述被驗證的眼鏡片的特定于其設計者的“光學設計”)。因此，可以使用根據本發明的方法檢查所述眼鏡片的光學性能、并且具體地驗證在所述眼鏡片的制造過程中是否已經遵循了其光學設計。還可以檢測“光學設計”的非法復制。

在光學器件中，“測試圖案”通常被定義為允許對光學儀器進行檢查的設備。舉例來說，可以提及西門子和傅科(Foucault)測試圖案或棋盤“鏡片棋盤格(lens?checker)”測試圖案。

在本發明的上下文中，表達“測試圖案”將具體地被理解為意指用于驗證被驗證的眼鏡片的手段。

在本發明的各個實施例的描述中將可以看出，這種手段將可能或者是物理的(例如，印刷在介質上或顯示在屏幕上的一組對比特征)、或者是虛擬的(例如，透過鏡片所看到的對比物體的圖像，具體地另一個測試圖案的圖像)。

實際上，為此目的，所述眼鏡片可以配備有所述變形測試圖案和/或所述未變形測試圖案，以便允許訂購該眼鏡片的眼鏡商通過實施根據本發明的驗證方法來測試這個被驗證的眼鏡片的光學特性。

有利的是，在步驟a)之前可以提供根據所述期望的光學特性確定所述變形測試圖案的步驟。