[發明專利]層疊透鏡陣列、層疊透鏡陣列的制造方法以及層疊透鏡的制造方法

無效

• 申請號: 201380066429.4
• 申請日: 2013-12-17
• 公開（公告）號: CN104871041A
• 公開（公告）日: 2015-08-26
• 發明（設計）人: 水金貴裕
• 申請（專利權）人: 柯尼卡美能達株式會社
• 主分類號: G02B3/00
• 分類號: G02B3/00;B29D11/00;G02B7/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 岳雪蘭

技術領域

本發明涉及層疊2個以上透鏡陣列的層疊透鏡陣列、該層疊透鏡陣列的制造方法以及從該層疊透鏡陣列獲得的層疊透鏡的制造方法。

背景技術

近年來，在透鏡制作時，不采用磨削的方法，而大多采用基于模具形狀的轉印的模制法。作為模制法的優點，可以舉出如下方面：利用制作1個模具，就能夠大量且廉價地生產透鏡；難以通過磨削來制作的非球面、自由曲面、陣列透鏡等也能夠生產。在利用模制法成型的情況下，若在安裝于成型機的2個模具的位置之間存在偏移，則會在成型出的透鏡的上表面和下表面之間產生偏移(偏心)。對于透鏡來說，存在即便是微小的偏移也無法達成期望的透鏡特性的情況。因此，在該情況下，需要調整成型機的模具的位置，而且需要對成型出的透鏡的偏心進行測定，并向模具的位置反饋。作為對成型出的透鏡的偏心進行測定的技術，存在如下方法，使用在旋轉對稱中心加工出標記形狀的模具來進行模制成型，并從成型透鏡的上表面和下表面的標記坐標算出透鏡的偏心，即上表面側光學面的光軸和下表面側光學面的光軸的偏移(例如，參照專利文獻1)。

層疊2個以上透鏡的情況也同樣地，存在當在透鏡間的中心位置產生偏移(偏心)時無法達成期望的透鏡特性的情況。因此，需要對透鏡間的偏心進行測定，并向透鏡間的定位反饋。作為測定透鏡間的偏心的技術，存在如下方法：在2個透鏡的旋轉對稱中心形成標記，從各自的坐標算出透鏡間的偏心，以使透鏡移動來使坐標一致的方式進行調整偏心(例如，參照專利文獻2)。

在通過模制法制作透鏡陣列、并層疊多個透鏡陣列時的偏心測定方法中，若使用上述專利文獻1和2的方法，則會產生如下問題。在透鏡陣列的情況下，由于具有多個光學面，所以需要以使對置的一對標記的坐標一致的方式調整模具的位置。因此，在成型出的透鏡陣列的一對光學面分別形成標記。當將該透鏡陣列彼此層疊時，以使2個透鏡的標記坐標一致的方式調整透鏡的位置。此時，在同一光軸上排列有4個標記。通常，雖然透鏡間的偏心調整在透鏡特性的偏心靈敏度最高的面彼此之間進行，但在上述情況下，在該偏心調整中由于不必要的標記也排列在光軸上，所以有可能測定到期望的標記以外的標記。在通過圖像處理來測定標記的坐標的情況下，該風險變得更高。若偏心測定錯誤，則會產生調整次數增加所導致的工時增加、流出不良品的問題。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：(日本)特表2007-519020號公報

專利文獻2：(日本)特開2006-146043號公報

發明內容

本發明的目的在于提供層疊透鏡陣列，其能夠進行精度良好的偏心測定和調整而不會測定到期望的標記以外的標記。

并且，本發明的目的在于提供上述層疊透鏡陣列的制造方法以及從該層疊透鏡陣列獲得的層疊透鏡的制造方法。

為了解決上述課題，本發明的層疊透鏡陣列為層疊多個透鏡陣列的層疊透鏡陣列，各透鏡陣列包括多個透鏡部，在物體側和像側分別具有與多個透鏡部對應的多個光學面，多個透鏡陣列包括：具有第1透鏡部和第2透鏡部的第1透鏡陣列，第1透鏡部在物體側的光學面具有第1標記并在像側的光學面具有第2標記，第2透鏡部在物體側的光學面和像側的光學面中的一個光學面具有第3標記并且在另一光學面沒有標記；及具有第3透鏡部的第2透鏡陣列，第3透鏡部在物體側的光學面和像側的光學面中的一個光學面具有第4標記并且在另一光學面沒有標記，從物體側或像側觀察時，第3標記和第4標記在兩者的中心處實質上重疊。

在本發明的具體的方式和觀點中，第1至第4標記設在各自對應的第1至第3透鏡部的光軸上。

在本發明的其他觀點中，第1透鏡陣列具備在分離的位置處設在至少2個部位的多個第1標記和多個第2標記。這里，所謂分離的位置是指比透鏡部間的最小間隔大的位置。例如若透鏡部的排列是規則的，則在透鏡部間的最小間隔的整數倍的分離的位置處設置標記。

在本發明進一步的其他觀點中，多個透鏡部呈矩陣狀排列，并且第1標記和第2標記沿對角線方向配置。

在本發明進一步的其他觀點中，多個透鏡部呈矩陣狀排列，并且第1標記和第2標記沿邊線方向配置。

在本發明進一步的其他觀點中，第1透鏡陣列具備在分離的位置處設在至少2個部位的多個第3標記。