[發(fā)明專利]HE-3探測器防護帶

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380066142.1
• 申請日: 2013-11-19
• 公開（公告）號: CN104838290A
• 公開（公告）日: 2015-08-12
• 發(fā)明（設計）人: R.拉里克;M.伯恩斯
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01T3/00
• 分類號: G01T3/00;H01J47/12
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 嚴志軍;肖日松

1.?一種用于探測中子的中子探測器，所述中子探測器包括：

界定和密封內(nèi)部容積的外殼，所述外殼用作陰極；

在所述外殼內(nèi)沿縱向延伸的中心結(jié)構(gòu)，所述中心結(jié)構(gòu)用作陽極并且保持在第一電壓下；

在所述中心結(jié)構(gòu)與所述外殼之間沿徑向延伸的絕緣部分，所述絕緣部分朝所述中心結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)端部沿縱向延伸經(jīng)過所述外殼的殼端部；以及

圍繞所述絕緣部分的外絕緣表面沿周向延伸的防護結(jié)構(gòu)，所述防護結(jié)構(gòu)在所述殼端部與所述結(jié)構(gòu)端部之間定位在所述絕緣部分上，其中所述防護結(jié)構(gòu)保持在第二電壓下，使得所述絕緣部分的所述外絕緣表面上的泄漏電流由所述防護結(jié)構(gòu)吸收。

2.?根據(jù)權利要求1所述的中子探測器，其特征在于，所述中心結(jié)構(gòu)延伸超過所述外殼的所述殼端部，在所述外殼外，使得所述中心結(jié)構(gòu)的所述結(jié)構(gòu)端部與所述殼端部間隔開一距離。

3.?根據(jù)權利要求2所述的中子探測器，其特征在于，所述絕緣部分圍繞所述中心結(jié)構(gòu)的外表面沿周向延伸，所述絕緣部分從所述外殼的內(nèi)部容積朝所述中心結(jié)構(gòu)的所述結(jié)構(gòu)端部沿縱向向外延伸。

4.?根據(jù)權利要求3所述的中子探測器，其特征在于，所述絕緣部分與所述中心結(jié)構(gòu)電性隔離。

5.?根據(jù)權利要求4所述的中子探測器，其特征在于，所述第二電壓大致等同于所述第一電壓，使得所述絕緣部分和所述中心結(jié)構(gòu)保持在大致等同的電壓下。

6.?根據(jù)權利要求1所述的中子探測器，其特征在于，所述防護結(jié)構(gòu)包括傳導材料。

7.?根據(jù)權利要求6所述的中子探測器，其特征在于，所述防護結(jié)構(gòu)與所述絕緣部分的所述外絕緣表面接觸。

8.?根據(jù)權利要求7所述的中子探測器，其特征在于，所述防護結(jié)構(gòu)定位成相比于所述外殼的所述殼端部更緊鄰所述中心結(jié)構(gòu)的所述結(jié)構(gòu)端部。

9.?根據(jù)權利要求8所述的中子探測器，其特征在于，所述防護結(jié)構(gòu)包括圓形截面形狀。

10.?一種用于探測中子的中子探測器，所述中子探測器包括：

界定和密封內(nèi)部容積的外殼，所述外殼用作陰極；

在所述外殼內(nèi)沿縱向延伸的中心結(jié)構(gòu)，所述中心結(jié)構(gòu)用作陽極并且保持在第一電壓下；

在所述中心結(jié)構(gòu)與所述外殼之間沿徑向延伸的絕緣部分，所述絕緣部分朝所述中心結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)端部沿縱向延伸經(jīng)過所述外殼的殼端部；以及

圍繞所述絕緣部分的外絕緣表面沿周向延伸的防護結(jié)構(gòu)，所述防護結(jié)構(gòu)在所述殼端部與所述結(jié)構(gòu)端部之間定位在所述絕緣部分上，所述防護結(jié)構(gòu)保持在與所述中心結(jié)構(gòu)大致等同的電壓下，其中所述防護結(jié)構(gòu)與所述中心結(jié)構(gòu)電性隔離，使得所述絕緣部分的所述外絕緣表面上的泄漏電流由所述防護結(jié)構(gòu)吸收。

11.?根據(jù)權利要求10所述的中子探測器，其特征在于，所述中心結(jié)構(gòu)延伸超過所述外殼的所述殼端部，在所述外殼外，使得所述中心結(jié)構(gòu)的所述結(jié)構(gòu)端部與所述殼端部間隔開一距離。

12.?根據(jù)權利要求11所述的中子探測器，其特征在于，所述絕緣部分圍繞所述中心結(jié)構(gòu)的外表面沿周向延伸，所述絕緣部分從所述外殼的內(nèi)部容積朝所述中心結(jié)構(gòu)的所述結(jié)構(gòu)端部沿縱向向外延伸。

13.?根據(jù)權利要求12所述的中子探測器，其特征在于，所述防護結(jié)構(gòu)與所述絕緣部分的所述外絕緣表面接觸。

14.?根據(jù)權利要求13所述的中子探測器，其特征在于，所述絕緣部分與所述中心結(jié)構(gòu)電性隔離。

15.?根據(jù)權利要求10所述的中子探測器，其特征在于，所述防護結(jié)構(gòu)包括傳導材料。

16.?一種利用中子探測器探測中子的方法，所述方法包括以下步驟：

提供在外殼內(nèi)沿縱向延伸的中心結(jié)構(gòu)；

將所述中心結(jié)構(gòu)保持在第一電壓下；

在所述中心結(jié)構(gòu)與所述外殼之間沿徑向提供絕緣部分，其中所述絕緣部分沿縱向延伸經(jīng)過所述外殼的殼端部；

提供圍繞所述絕緣部分沿周向延伸的防護結(jié)構(gòu)；以及

將所述防護結(jié)構(gòu)保持在第二電壓下，使得所述絕緣部分上的泄漏電流由所述防護結(jié)構(gòu)吸收。

17.?根據(jù)權利要求16所述的方法，其特征在于，所述第二電壓大致等同于所述第一電壓。