[發(fā)明專利]石墨烯和金屬互連有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380065932.8 | 申請日: | 2013-12-09 |
| 公開(公告)號: | CN104885210B | 公開(公告)日: | 2018-07-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鮑軍靜;G·伯尼拉;R·G·菲利皮;N·E·拉斯汀;A·H·希門;S·S·喬伊 | 申請(專利權(quán))人: | 國際商業(yè)機(jī)器公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L21/3205;H01L21/28 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 王茂華;呂世磊 |
| 地址: | 美國紐*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 石墨 金屬 互連 | ||
1.一種互連結(jié)構(gòu),包括:
石墨烯(30)連接器;
襯墊層(28),其襯在包括所述石墨烯(30)連接器的溝槽(26)內(nèi);
上通孔(36),所述上通孔的下端與石墨烯(30)連接器的第一端相連,其中所述上通孔(36)穿透所述石墨烯(30)連接器;以及
下通孔(16),所述下通孔的頂端與石墨烯(30)連接器的第二端相連,其中所述襯墊層(28)和所述石墨烯(30)連接器的所述第二端二者的一部分水平地穿過所述下通孔(16)。
2.如權(quán)利要求1所述的互連結(jié)構(gòu),其中所述上通孔(36)與襯墊層(28)在所述石墨烯(30)連接器的底部處接觸。
3.如權(quán)利要求1所述的互連結(jié)構(gòu),其中所述上通孔(36)與襯墊層(28)在所述石墨烯(30)連接器的側(cè)壁處接觸。
4.如權(quán)利要求1所述的互連結(jié)構(gòu),其中所述襯墊層(28)包括Ru或Ta的至少之一。
5.如權(quán)利要求1所述的互連結(jié)構(gòu),其中所述石墨烯(30)連接器和所述下通孔(26)的頂端的一部分共面。
6.如權(quán)利要求1所述的互連結(jié)構(gòu),其中所述上通孔(36)和所述下通孔(26)的一個或全部包括填充其相應(yīng)內(nèi)部部分的填充金屬,所述填充金屬是銅、鋁、銀、金、鈣、鉑、錫、鋰、鋅、鎳、鎢中一種或多種的元素形式或合金。
7.一種形成互連結(jié)構(gòu)的方法,該方法包括:
刻蝕第一溝槽(26),從而去除第一通孔(16)的頂端的至少一部分,所述第一溝槽(26)的第一端與所述第一通孔(16)的頂部交叉;
形成進(jìn)入第一溝槽(26)的襯墊層(28);
形成進(jìn)入第一溝槽(26)的石墨烯催化劑層;
在所述第一溝槽(26)中形成多層石墨烯(30);
沉積介電材料層以便在第一溝槽和第一通孔上形成蓋(25);
在蓋(25)的頂上施加絕緣材料(32);以及
在絕緣材料(32)、蓋(25)以及被填充了石墨烯(30)的第一溝槽的第二端的一部分中形成開口,使得所述開口穿透所述多層石墨烯(30)。
8.如權(quán)利要求7所述的方法,進(jìn)一步包括:
向所述開口中沉積勢壘材料層(38);以及
用填充金屬填充所述開口以形成第二通孔(36)。
9.如權(quán)利要求8所述的方法,其中所述勢壘材料(38)包括鈷、釕、鉭、氮化鉭、氧化銦、氮化鎢和氮化鈦中的一個或多個。
10.如權(quán)利要求8所述的方法,其中所述填充金屬是銅、鋁、銀、金、鈣、鉑、錫、鋰、鋅、鎳、鎢中一種或多種的元素形式或合金。
11.如權(quán)利要求7所述的方法,其中生長多層石墨烯包括碳源的化學(xué)氣相沉積。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,其中所述碳源是液體。
13.如權(quán)利要求11所述的方法,其中所述碳源是固體。
14.如權(quán)利要求11所述的方法,其中所述化學(xué)氣相沉積時的溫度為300℃到400℃。
15.如權(quán)利要求7所述的方法,其中所述石墨烯催化劑層包括鎳、鈀、釕、銥和銅的一種或多種的元素形式或合金。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





