[發明專利]用于X射線發光分離礦物的方法及進行所述方法的X射線發光揀選器

有效

• 申請號: 201380064284.4
• 申請日: 2013-11-21
• 公開（公告）號: CN104884179A
• 公開（公告）日: 2015-09-02
• 發明（設計）人: 萊昂尼德·瓦西里埃維奇·卡扎科夫;納塔利亞·帕弗洛弗納·科洛索瓦;帕維爾·尼古拉耶維奇·庫欽;弗拉基米爾·羅西弗維奇·斯維特科夫
• 申請（專利權）人: 布雷維斯特尼克研究與生產公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司 11111
• 代理人: 李春晅;段曉玲

技術領域

本發明涉及礦物加工領域，更具體涉及將包含礦物的碎石礦材料的分離為待濃縮的產品和尾礦產品，所述礦物在激發輻射的作用下發光。本發明可用于所有的選礦階段的X射線發光揀選器和用于產品檢驗裝置，如含鉆石的原材料的檢測。

背景技術

存在一些用于將各種礦物的散裝混合物分離為濃縮的和尾礦的產品的現有技術的方法，所述方法基于分析礦物在電磁輻射的作用下產生的發光配準信號。

例如，已知用于從鉆石與其他礦物的混合物和從鉆石混合物中通過其類別揀選鉆石的方法，特別是基于分析礦物配準的熱發光輻射的光譜特性分離為類型I或II【GB?1379923，B07C?5/342，1975.08.01；GB?1384813，B07C?5/34，1975.02.26】。在此方法中，傳送的礦物混合物首先通過來自γ(Co⁶⁰同位素)、X-射線或紫外輻射源的激發輻射來輻照，并且在礦物質產生的發光結束之后，在下一個傳輸部分，將混合物加熱，其導致了礦物的熱發光，通過光柵光譜設備裝置，將所述熱發光配準和分析。基于配準的光譜特征的差別，揀選鉆石。

此方法的特征在于礦物質分離具有足夠高的選擇性。

但是，由于其需要相當多的時間(多達幾百毫秒)配準并分析特征，其具有相對低的產量。因此，其在礦物加工廠的條件下的使用嚴重受限。此外，為了使用此方法，優選使用放射性輻射源(Co⁶⁰同位素)和具有足夠高的分辨率的分光儀。

已知基于用于礦物發光的積分信號的配準的光譜范圍的選擇用于X射線發光分離礦物的方法，其在分離尾礦產品的礦物發光的最小光譜密度區域中進行【RU?2334557，С2，В03В?13/06，B07C?5/342，2008.09.27】。

此方法具有足夠高的礦物分離選擇性。

但是，由于在所述礦物發光的光譜過濾中，待濃縮的礦物(鉆石)輻射的配準強度將降低一半，其對于在具有高(100噸/小時)和中等(10噸/小時)的生產能力的揀選器中使用，特別是用于提取發光較弱的鉆石時，其敏感性不夠高。

也已知，在電磁輻射的作用下分析鉆石和相關礦物質之間產生的它們發光的配準信號，基于使用X射線和光輻射的吸收參數中的差別用于分離各種礦物的散裝混合物的方法。

例如，已知礦物的分離方法由下述組成，通過單層流的礦物的輸送，通過激發礦物發光的貫穿輻射的礦物質的輻照，在穿透輻射側和相反側的發光強度的配準，礦物質穿透性程度的確定和通過其貫穿輻射的透明程度的有用礦物的分離【RU?2303495，C2，В07С?5/342，2007.07.27】。至于激發X射線輻射的礦物的透明程度，可以通過在貫穿輻射流束的一側和在相反側上配準的發光強度的對數的區別確定，或通過這些強度的比例的對數確定。

通過所述的礦物質分離方法，有可能檢測所有類型的鉆石。

但是，由于方法的分離參數不考慮礦物質的光學性能并取決于礦物質的線性尺寸(厚度)，所述礦物的線性尺寸的明顯變化不僅因為在被分離的材料的顆粒尺寸類別中的擴散，還因為不規則形狀的礦物制品的位置相對于在配準的時刻激發的輻射的作用方向上的差別。此外，由于在發光信號處理單元中使用的對數放大器，其對于接近天然噪音水平的弱信號具有高放大系數，導致明顯錯誤，所述方法并不能實現發光較弱的鉆石的可靠識別，尤其是在具有較強發光的相關礦物的發光信號中的識別。

在一定時期內配準的實際礦物發光信號具有動力學特性并能被看作是兩種組分的疊加(重疊)。通常，所述信號可以包含短期或快速的發光組分(“FC”)，所述組分在開始曝露于激發輻射時幾乎同時產生(在幾個微秒的間隙中)，并且在其終止之后立即消失，和長期的或慢的發光組分(“SC”)，所述組分的強度在曝露于激光輻射時連續增加并在其結束(發光余輝階段)之后相對緩慢地降低(從幾百微秒至毫秒單位)。

已知礦物分離的方法，其包括待分離材料的單層流的形式的礦物傳輸，此材料通過貫穿輻射的輻照，短期和長期的礦物發光組分在疊加輻射區域相對于貫穿輻射的入射流束呈鈍角或直角的配準，和僅長期發光組分的強度的配準，以及空氣發光強度的配準，空氣發光強度在超過待分離的材料的流的寬度上配準，和根據與配準的礦物發光強度的特定的臨界值的對比結果的可用礦物的分離，所述臨界值與空氣發光信號的強度成比例【RU?2310523，C2，В07С?5/342，2007.11.20】。