[發(fā)明專利]電氣設(shè)備，特別是有機(jī)發(fā)光設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201380063647.2
• 申請(qǐng)日: 2013-11-18
• 公開（公告）號(hào): CN104823300A
• 公開（公告）日: 2015-08-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: J.梅耶;S.哈特曼恩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號(hào): H01L51/52
• 分類號(hào): H01L51/52;G01N21/00
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 江鵬飛;景軍平

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及包括用于保護(hù)電氣設(shè)備的電氣單元以防水和/或氧氣的比如薄膜封裝（TFE）的保護(hù)元件的電氣設(shè)備、用于檢測(cè)保護(hù)元件的滲透性的檢測(cè)裝置以及對(duì)應(yīng)的檢測(cè)方法。本發(fā)明還涉及用于生產(chǎn)所述電氣設(shè)備的生產(chǎn)裝置和生產(chǎn)方法。

背景技術(shù)

有機(jī)發(fā)光設(shè)備對(duì)濕氣非常敏感。出于此原因，有機(jī)發(fā)光設(shè)備一般包括TFE，其可以包括單個(gè)無機(jī)層或形成多層堆疊的無機(jī)和/或有機(jī)層的組合。TFE一般提供抵擋濕氣的良好保護(hù)。然而，TFE屏障的質(zhì)量可能由于針孔或空隙而降低，從而提供用于使?jié)駳馔ㄟ^TFE的穿透通路。

US?7,767,498?B2公開了一種用于測(cè)試屏障結(jié)構(gòu)的有效性的系統(tǒng)。該系統(tǒng)使用利用多層屏障堆疊封裝的玻璃上的金屬鈣試樣。通過滲透的透明氧化鈣和氫氧化鈣的形成增加可見光通過鈣試樣的透射，可以對(duì)此進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)以用于確定多層屏障堆疊的滲透性程度。這種鈣測(cè)試在技術(shù)上相對(duì)復(fù)雜并且花費(fèi)相對(duì)長(zhǎng)的時(shí)間。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供包括電氣單元和用于保護(hù)電氣單元以防水和/或氧氣的保護(hù)元件的電氣設(shè)備、用于檢測(cè)電氣設(shè)備的保護(hù)元件的滲透性的檢測(cè)裝置以及對(duì)應(yīng)的檢測(cè)方法，其允許保護(hù)元件的滲透性的更快檢測(cè)。本發(fā)明還涉及用于生產(chǎn)電氣設(shè)備的生產(chǎn)裝置和生產(chǎn)方法。

在本發(fā)明的第一方面中，呈現(xiàn)了一種電氣設(shè)備，其中電氣設(shè)備包括：

-?電氣單元，

-?保護(hù)元件，其至少部分地覆蓋電氣單元，以用于保護(hù)電氣單元以防水和/或氧氣，

-?布置在保護(hù)元件與電氣單元之間或保護(hù)元件內(nèi)的檢測(cè)層，其中檢測(cè)層包括有機(jī)材料并且被適配成使得如果檢測(cè)層與可用于檢測(cè)保護(hù)元件的滲透性的接觸氣體接觸則檢測(cè)層的性質(zhì)改變。

由于檢測(cè)層包括有機(jī)材料并且如果檢測(cè)層與可用于檢測(cè)保護(hù)元件的滲透性的接觸氣體接觸則改變其性質(zhì)，并且由于該檢測(cè)層布置在保護(hù)元件與電氣單元之間或保護(hù)元件內(nèi)，因此用于檢測(cè)保護(hù)元件的滲透性的檢測(cè)測(cè)試可以容易地集成到用于生產(chǎn)電氣設(shè)備的生產(chǎn)過程中，即不要求如在上述專利文獻(xiàn)US?7,767,498?B2中所公開的耗時(shí)的外部滲透性測(cè)試。例如，用于使水，特別是濕氣和/或氧氣通過保護(hù)元件的穿透路徑可以在生產(chǎn)過程期間通過檢測(cè)包括有機(jī)材料的檢測(cè)層的性質(zhì)的改變來相對(duì)快速地檢測(cè)。特別是可以相對(duì)快速地檢測(cè)造成穿透路徑的針孔或其它缺陷。

接觸氣體優(yōu)選地為選自包括水、氧氣、臭氧、氟、溴、氯及其組合的組的氣體。然而，也可以使用其它氣體，其可以通過保護(hù)元件的有缺陷部分穿透。接觸氣體可以是具有小于或等于臭氧分子的尺寸，更優(yōu)選地小于或等于氧氣分子的尺寸，并且甚至更優(yōu)選地小于或等于水分子的尺寸的氣體分子的氣體。

電氣單元優(yōu)選地為比如有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）的有機(jī)發(fā)光單元，并且保護(hù)元件優(yōu)選地為TFE，其可以包括單個(gè)無機(jī)層或形成多層堆疊的若干無機(jī)和/或有機(jī)層。

優(yōu)選的是，檢測(cè)層被適配成使得檢測(cè)層的性質(zhì)在檢測(cè)層與接觸氣體接觸的位置處局部改變。這允許確定比如通過保護(hù)元件的穿透路徑的缺陷所存在的位置，其中然后在所確定的位置處可以修復(fù)該缺陷。

還優(yōu)選的是，檢測(cè)層被適配成通過與接觸氣體的化學(xué)反應(yīng)而改變其性質(zhì)。化學(xué)反應(yīng)優(yōu)選地為光化學(xué)反應(yīng)。為了執(zhí)行光化學(xué)反應(yīng)，可以使用具有某一波長(zhǎng)的光，比如紫外（UV）光。這允許以相對(duì)簡(jiǎn)單和可靠的方式修改檢測(cè)層的性質(zhì)，使得可以以相對(duì)高的精度檢測(cè)到檢測(cè)層與接觸氣體的接觸。

在優(yōu)選實(shí)施例中，檢測(cè)層被適配成改變其性質(zhì)使得通過光學(xué)測(cè)量設(shè)備可觀察到改變。特別地，檢測(cè)層被適配成如果檢測(cè)層與接觸氣體，特別是濕氣和/或氧氣接觸，則改變光致發(fā)光、反射率和吸收的組中的至少一個(gè)。

如果性質(zhì)中的改變應(yīng)當(dāng)在光學(xué)上檢測(cè)到，則保護(hù)元件可以關(guān)于用于光學(xué)檢測(cè)性質(zhì)改變的光至少部分地透明。如果保護(hù)元件是具有多個(gè)層的TFE并且如果檢測(cè)層布置在TFE的這些層之間，則布置在檢測(cè)層與測(cè)量設(shè)備的光源之間的TFE的僅一個(gè)或若干層可以對(duì)光源所發(fā)射的光至少部分地透明，以便允許光橫穿TFE的這一個(gè)或若干層使得其能夠到達(dá)檢測(cè)層以用于檢測(cè)可能的性質(zhì)改變。

檢測(cè)層可以具有在納米或微米范圍中的厚度。