[發明專利]用于X-射線圖像信息的圖像校正的方法和裝置

有效

• 申請號: 201380063142.6
• 申請日: 2013-09-29
• 公開（公告）號: CN104838288B
• 公開（公告）日: 2018-05-25
• 發明（設計）人: C·赫爾曼
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01T1/24
• 分類號: G01T1/24
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 李光穎;王英

1.一種用于X-射線圖像信息的圖像校正的方法(50)，包括：

接收(52)X-射線探測器元件(14)的讀出信息；

其中，所述讀出信息取決于生成光電流的撞擊X-輻射(20)；

根據所述讀出信息來確定(56)光子能量和/或光子計數；以及每個探測器像素元件(18)的所述光電流；

通過對所述光電流補償持續電流來確定(58)補償的光電流；

確定(60)補償信息，包括基于所述補償的光電流來確定補償的光子能量；并且

采用所確定的補償信息來對所述讀出信息補償(54)光電導增益。

2.根據權利要求1所述的方法，

其中，采用所述補償信息來對每個X-射線探測器像素元件(18)補償所述光電導增益。

3.根據權利要求1至2中的任一項所述的方法，其中，通過用于采集所述讀出信息的X-射線系統(10)的校準操作來確定針對每個像素的所述光電導增益的所述補償信息。

4.根據權利要求1至2中的任一項所述的方法，其中，所述補償信息是取決于X-輻射的通量的函數和具有取決于X-輻射的通量的每個探測器像素的至少一個值的查找表之一。

5.根據權利要求1至2中的任一項所述的方法，還包括補償基線偏移，包括：

確定(62)所述光子能量是否超過多個光子能量閾值的定義的光子能量閾值；

其中，確定的閾值的偏移能夠由所述持續電流引入；并且

采用所述補償信息來補償(64)所述偏移以獲得補償的光子能量閾值。

6.根據權利要求1至2中的任一項所述的方法，還包括：

通過采用基線復位來對包括光子能量信息的所述讀出信息補償緩慢變化的持續電流。

7.一種用于X-射線圖像信息的圖像校正的裝置(26)，包括：

存儲元件(30)，其用于存儲接收到的對象(22)的讀出信息；以及

處理器(28)，其用于生成補償的讀出信息；

其中，所述裝置(26)適于執行根據前述權利要求中的任一項所述的方法(50)。

8.一種X-射線系統(10)，其包括根據權利要求7所述的裝置(26)。

9.根據權利要求7所述的裝置(26)在X-射線系統和CT系統之一中的用途。

10.一種計算機可讀介質，在所述計算機可讀介質中存儲了用于X-射線圖像信息的圖像校正的計算機程序，所述計算機程序當由處理器(28)運行時適于執行根據權利要求1至6中的任一項所述的方法(50)。

11.一種用于X-射線圖像信息的圖像校正的設備，包括：

用于接收X-射線探測器元件(14)的讀出信息的模塊；

其中，所述讀出信息取決于生成光電流的撞擊X-輻射(20)；

用于根據所述讀出信息來確定光子能量和/或光子計數；以及每個探測器像素元件(18)的所述光電流的模塊；

用于通過對所述光電流補償持續電流來確定補償的光電流的模塊；

用于確定補償信息，包括基于所述補償的光電流來確定補償的光子能量的模塊；以及

用于采用所確定的補償信息來對所述讀出信息補償光電導增益的模塊。

12.根據權利要求11所述的設備，

其中，采用所述補償信息來對每個X-射線探測器像素元件(18)補償所述光電導增益。

13.根據權利要求11至12中的任一項所述的設備，其中，通過用于采集所述讀出信息的X-射線系統(10)的校準操作來確定針對每個像素的所述光電導增益的所述補償信息。