[發明專利]電子設備

有效

• 申請號: 201380062962.3
• 申請日: 2013-11-27
• 公開（公告）號: CN104823526A
• 公開（公告）日: 2015-08-05
• 發明（設計）人: 井川祐太;隅谷憲;小野剛史
• 申請（專利權）人: 夏普株式會社
• 主分類號: H05B37/02
• 分類號: H05B37/02;H01L33/00
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳;楊藝

1.一種電子設備，其特征在于，包括：

至少一個元件列并聯連接而構成的第一元件列組，該元件列由至少一個元件串聯連接而構成；

至少一個所述元件列并聯連接而構成的第二元件列組；和

異常檢測部，其基于第一電流與第二電流是否滿足規定的關系，對構成所述第一元件列組和所述第二元件列組中的至少一個元件列組的所述元件列的異常進行檢測，該第一電流為構成所述第一元件列組的所述元件列中流動的電流的合計，該第二電流為構成所述第二元件列組的所述元件列中流動的電流的合計。

2.如權利要求1所述的電子設備，其特征在于：

所述異常檢測部包括：

第一負載部，其一端與所述第一元件列組連接，從該一端輸出作為與所述第一電流相應的電壓的第一電壓；

第二負載部，其一端與所述第二元件列組連接，從該一端輸出作為與所述第二電流相應的電壓的第二電壓；和

比較部，其通過進行所述第一電壓與所述第二電壓的大小比較，對屬于所述第一元件列組和所述第二元件列組中的至少一個元件列組的所述元件列的異常進行檢測，

所述第一負載部的另一端與所述第二負載部的另一端連接，

所述第一負載部的電阻值與所述第二負載部的電阻值之比，為構成所述第二元件列組的所述元件列的并聯數與構成所述第一元件列組的所述元件列的并聯數之比。

3.如權利要求2所述的電子設備，其特征在于：

所述第一負載部和所述第二負載部各自通過將至少一個電阻器并聯連接而構成，

構成所述第一負載部的所述電阻器的并聯數與構成所述第二負載部的所述電阻器的并聯數之比，為構成所述第一元件列組的所述元件列的并聯數與構成所述第二元件列組的所述元件列的并聯數之比。

4.如權利要求2所述的電子設備，其特征在于：

所述第一負載部和所述第二負載部各自通過將所述一端為第一電極、所述另一端為第二電極的至少一個晶體管并聯連接而構成，

分別構成所述第一負載部和所述第二負載部的所述晶體管的控制電極相互連接，并且構成所述第一負載部的至少一個所述晶體管的所述控制電極與所述第一電極連接，

構成所述第一負載部的所述晶體管的并聯數與構成所述第二負載部的所述晶體管的并聯數之比，為構成所述第一元件列組的所述元件列的并聯數與構成所述第二元件列組的所述元件列的并聯數之比。

5.如權利要求4所述的電子設備，其特征在于：

所述晶體管是所述第一電極為集電極、所述第二電極為發射極、所述控制電極為基極的NPN型雙極晶體管。

6.如權利要求2～5中任一項所述的電子設備，其特征在于：

還包括偏置負載部，其與所述第一負載部和所述第二負載部中的至少一個負載部并聯連接。

7.如權利要求1～6中任一項所述的電子設備，其特征在于：

構成所述第一元件列組和所述第二元件列組的各個所述元件列是電流電壓特性相同的元件列，

所述異常檢測部在所述第一電流與所述第二電流之比從構成所述第一元件列組的所述元件列的并聯數與構成所述第二元件列組的所述元件列的并聯數之比偏離超過規定程度的情況下，對構成所述第一元件列組和所述第二元件列組中的至少一個元件列組的所述元件列的異常進行檢測。