[發(fā)明專利]用于改善的連續(xù)直拉法的熱屏障在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380062196.0 | 申請日: | 2013-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN104903496A | 公開(公告)日: | 2015-09-09 |
| 發(fā)明(設計)人: | T·N·斯瓦米納坦 | 申請(專利權)人: | 索拉克斯有限公司 |
| 主分類號: | C30B15/12 | 分類號: | C30B15/12;C30B15/14 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務所 11247 | 代理人: | 秘鳳華;吳鵬 |
| 地址: | 美國密*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 改善 連續(xù) 直拉法 屏障 | ||
1.一種用于通過直拉法生長晶錠的設備,所述晶錠在由晶體進料予以補充的一定量的熔融硅中從熔體/晶體界面被拉出,所述設備包括:
構造成保持所述熔融硅的坩堝;
支承在所述坩堝中的窯坎,所述窯坎構造成將所述熔融硅從構造為接納所述晶體進料的外部區(qū)分離到圍繞所述晶體/熔體界面的內部生長區(qū)中,所述窯坎包括至少一個豎直延伸的側壁,以及頂壁;和
設置在所述窯坎的所述頂壁上的環(huán)形熱屏障,所述環(huán)形熱屏障覆蓋所述外部區(qū)的至少約70%。
2.根據(jù)權利要求1所述的設備,其特征在于,所述環(huán)形熱屏障覆蓋所述外部區(qū)的至少90%。
3.根據(jù)權利要求1所述的設備,其特征在于,所述環(huán)形熱屏障由硅石制成。
4.根據(jù)權利要求1所述的設備,其特征在于,所述熱屏障基本是平面的。
5.根據(jù)權利要求1所述的設備,其特征在于,所述熱屏障為圓柱形。
6.根據(jù)權利要求1所述的設備,其特征在于,所述熱屏障包括用于進料從中通過的開口。
7.根據(jù)權利要求1所述的設備,其特征在于,所述熱屏障基本垂直于所述窯坎的側壁延伸。
8.一種用于通過直拉法生長晶錠的設備,所述晶錠在由晶體進料予以補充的一定量的熔融硅中從熔體/晶體界面被拉出,所述設備包括:
構造成保持所述熔融硅的坩堝;
用于供應所述晶體進料的進給供應源;
至少兩個窯坎,所述至少兩個窯坎支承在所述坩堝中,并且構造成將所述熔融硅分離到圍繞所述晶體/熔體界面的內部生長區(qū)、構造為接納所述晶體進料的外部區(qū)以及位于所述內部生長區(qū)和所述外部區(qū)之間的中間區(qū)中,每個所述窯坎都包括至少一個豎直延伸的側壁;
設置在至少其中一個窯坎的頂部上的環(huán)形熱屏障,所述至少一個熱屏障覆蓋所述外部區(qū)或所述中間區(qū)中的一個的至少一部分。
9.根據(jù)權利要求8所述的系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括至少兩個熱屏障,其中一個熱屏障覆蓋所述中間區(qū)的至少一部分,另一個熱屏障覆蓋所述外部區(qū)的至少一部分。
10.根據(jù)權利要求9所述的系統(tǒng),其特征在于,覆蓋所述外部區(qū)的熱屏障包括一個或多個用于所述進料從中通過的開口。
11.根據(jù)權利要求8所述的系統(tǒng),其特征在于,所述至少兩個窯坎基本是平面的。
12.根據(jù)權利要求11所述的系統(tǒng),其特征在于,所述至少兩個窯坎基本垂直于窯坎的側壁延伸。
13.根據(jù)權利要求8所述的系統(tǒng),其特征在于,所述熱屏障由硅石制成。
14.一種用于連續(xù)直拉晶體生長的方法,其中,將一個或多個晶錠從限定在坩堝中的晶體/熔體界面拉到生長室內,所述坩堝容納由晶體進料予以補充的熔融晶體材料,所述方法包括:
利用窯坎將所述熔融晶體材料分離到圍繞所述晶體/熔體界面的內部生長區(qū)和用于接納所述晶體進料的外部區(qū)中;
將環(huán)形熱屏障設置在所述外部區(qū)上方,以覆蓋所述外部區(qū)的至少一部分。
15.根據(jù)權利要求14所述的方法,其特征在于,還包括將第二窯坎設置在所述坩堝中,以便在所述內部生長區(qū)和所述外部區(qū)之間限定中間區(qū)。
16.根據(jù)權利要求14所述的方法,其特征在于,還包括將環(huán)形熱屏蔽設置在所述外部區(qū)上方,以使得所述熱屏障垂直于所述窯坎。
17.根據(jù)權利要求14所述的方法,其特征在于,還包括使進料通過限定在熱屏障中的開口,以補充熔融硅。
18.根據(jù)權利要求14所述的方法,其特征在于,還包括將第二窯坎設置在所述坩堝中,以便在所述內部生長區(qū)和所述外部區(qū)之間限定中間區(qū);以及
設置至少兩個熱屏障,以使得其中一個熱屏障覆蓋所述中間區(qū),并且另一個熱屏障覆蓋所述外部區(qū)。
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