[發明專利]測量方法以及測量裝置

在審

• 申請號: 201380061313.1
• 申請日: 2013-10-10
• 公開（公告）號: CN104813138A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: 荒木要;高橋英二
• 申請（專利權）人: 株式會社神戶制鋼所
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;B60C19/00;G01C3/06
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 張玉玲

1.一種測量方法，在該測量方法中，將形成有凸部的輪胎的胎面或者胎邊面作為測量面，并對所述測量面的表面形狀進行測量，其中，

所述測量方法具備以下步驟：

第一測量步驟，在該第一測量步驟中，向所述測量面照射點光，一邊使所述點光在副掃描方向上挪動一邊執行多次下述的測量處理，從而獲取多個測量數據，在所述測量處理中，使所述點光在主掃描方向上掃描并接受反射光而獲取一條線的測量數據；

第一獲取步驟，在該第一獲取步驟中，根據所述多個測量數據中的各個測量數據來生成一維高度數據，并將生成的多個一維高度數據排列成矩陣狀，從而生成所述測量面的二維高度數據；以及

生成步驟，在該生成步驟中，使用輪廓提取濾波器從所述二維高度數據中提取所述凸部，并將提取出的凸部的位置與所述二維高度數據建立對應關系，從而生成基準形狀數據。

2.根據權利要求1所述的測量方法，其中，

所述測量方法還具備以下步驟：

第二測量步驟，在該第二測量步驟中，對成為測量對象的對象輪胎的所述測量面執行所述測量處理，從而獲取所述一條線的測量數據；

第二獲取步驟，在該第二獲取步驟中，基于通過所述第二測量步驟來獲取的測量數據而生成一維高度數據；以及

去除步驟，在該去除步驟中，對通過所述第二獲取步驟來獲取的一維高度數據即對象一維高度數據、以及所述副掃描方向上的位置與所述對象一維高度數據相同的所述基準形狀數據的一維高度數據進行比較，并從所述對象一維高度數據中去除所述凸部的高度成分。

3.根據權利要求2所述的測量方法，其中，

所述測量方法還具備跳動計算步驟，在該跳動計算步驟中，將通過所述去除步驟來去除所述高度成分后的所述對象一維高度數據的最高值與最低值之差計算為所述對象輪胎的跳動值。

4.根據權利要求1所述的測量方法，其中，

所述輪廓提取濾波器為索貝爾濾波器。

5.根據權利要求1所述的測量方法，其中，

在所述測量面為所述胎面的情況下，所述主掃描方向為輪胎的周向，所述副掃描方向為所述輪胎的寬度方向，

在所述測量面為所述胎邊面的情況下，所述主掃描方向為以所述輪胎的旋轉軸為中心的同心圓的方向，所述副掃描方向為所述輪胎的徑向。

6.一種測量裝置，其將形成有凸部的輪胎的胎面或者胎邊面作為測量面，并對所述測量面的表面形狀進行測量，其中，

所述測量裝置具備：

測量部，其向所述測量面照射點光，一邊使所述點光在副掃描方向上挪動一邊執行多次下述的測量處理，從而獲取多個測量數據，在所述測量處理中，使所述點光在主掃描方向上掃描并接受反射光而獲取一條線的測量數據；

第一獲取部，其根據所述多個測量數據中的各個測量數據來生成一維高度數據，將生成的多個一維高度數據排列起來，從而獲取所述測量面的二維高度數據；以及

生成部，其使用輪廓提取濾波器從所述二維高度數據中提取所述凸部，并將提取出的凸部的位置與所述二維高度數據建立對應關系，從而生成基準形狀數據。