[發明專利]自動分析裝置、自動分析方法

有效

• 申請號: 201380060805.9
• 申請日: 2013-11-05
• 公開（公告）號: CN104797940A
• 公開（公告）日: 2015-07-22
• 發明（設計）人: 垂水信二;藪谷千枝;牧野彰久;萬里千裕;光山訓
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01N33/86
• 分類號: G01N33/86;G01N33/49;G01N35/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 曾賢偉;郝慶芬

1.一種自動分析裝置，其對血凝反應進行分析，所述自動分析裝置的特征在于，

具備：

反應容器，用于使樣品與試劑混合并反應；

測定部，其向所述反應容器中的反應液照射光，并測定透射光量或散射光量；

控制部，其對所述測定部測定出的時序的光量數據進行處理；

存儲部，其存儲一個以上的對所述光量數據的時序變化進行近似的近似函數；以及

輸出部，其輸出所述控制部的處理結果，

其中，所述控制部執行以下處理：

選擇所述存儲部存儲的所述近似函數的某個；

實施使用選擇出的所述近似函數來計算表示所述光量數據的時序變化的近似曲線的第一處理、使用所述近似曲線來檢測所述光量數據中包含的異常數據點的第二處理以及將所述異常數據點從所述光量數據中排除的第三處理；

使用所述光量數據與所述近似曲線的至少一方來分析所述血凝反應，

所述控制部在所述第三處理中檢測所述異常數據點時，僅檢測所述光量數據中與所述近似曲線相比光量值大的數據點或小的數據點的一方，來作為所述異常數據點。

2.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述測定部檢測所述散射光量，

所述控制部僅檢測所述光量數據中與所述近似曲線相比光量值大的數據點，來作為所述異常數據點。

3.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述測定部檢測所述透射光量，

所述控制部僅檢測所述光量數據中與所述近似曲線相比光量值小的數據點，來作為所述異常數據點。

4.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述控制部至少重復實施一次以上所述第一處理、所述第二處理以及所述第三處理，使用在滿足預先確定的收斂條件的時間點的所述光量數據和所述近似曲線的至少一方來分析所述血凝反應。

5.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述控制部從所述光量數據中選擇部分集合，使用所述光量數據與所述近似曲線之間的每個數據點的誤差以及所述部分集合與所述近似曲線之間的每個數據點的誤差的標準偏差，來檢測所述光量數據中包含的所述異常數據點。

6.根據權利要求4所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述控制部從所述光量數據中選擇部分集合，使用所述部分集合與所述近似曲線之間的每個數據點的誤差的標準偏差，來判定是否滿足了所述收斂條件。

7.根據權利要求5所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述控制部使用所述測定部開始所述光量數據的測定起經過預定時間之后取得的光量數據，來作為所述部分集合。

8.一種自動分析裝置，其對血凝反應進行分析，所述自動分析裝置的特征在于，

具備：

反應容器，用于使樣品與試劑混合并反應；

測定部，其向所述反應容器中的反應液照射光，并測定透射光量或散射光量；

控制部，其對所述測定部測定出的時序的光量數據進行處理；

存儲部，其存儲一個以上的對所述光量數據的時序變化進行近似的近似函數；以及

輸出部，其輸出所述控制部的處理結果，

其中，所述控制部執行以下處理：

選擇所述存儲部存儲的所述近似函數的某個；

實施使用選擇出的所述近似函數來計算表示所述光量數據的時序變化的近似曲線的第一處理、使用所述近似曲線來檢測所述光量數據中包含的異常數據點的第二處理以及將所述異常數據點從所述光量數據中排除的第三處理；以及

至少重復實施一次以上所述第一處理、所述第二處理以及所述第三處理，使用在滿足預先確定的收斂條件的狀態下的所述光量數據和所述近似曲線的至少一方，來分析所述血凝反應。

9.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述控制部以所述近似函數與所述光量數據之間的平方誤差最小的方式改變所述近似函數的系數，由此來計算所述近似曲線。

10.根據權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

所述近似函數是具有與時刻對應的光量的變化量逐漸變大的第一區域、在所述第一區域之后的時刻與時刻對應的光量的變化量小于所述第一區域的第二區域的函數。