[發(fā)明專(zhuān)利]Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置及其制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380059808.0 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104798185A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-07-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 谷本智;佐藤伸二;谷澤秀和;松井康平 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 日產(chǎn)自動(dòng)車(chē)株式會(huì)社;三墾電氣株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/52 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/52 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 張勁松 |
| 地址: | 日本神*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | au 系釬料模片 接合 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,具有在半導(dǎo)體元件芯片和以Cu為主要原料的Cu基板之間夾持Au系釬料層的模片接合構(gòu)造,其特征在于,具備:
致密金屬膜,其配設(shè)于所述Cu基板和所述Au系釬料層之間,并具有以在俯視時(shí)成為規(guī)定形狀的方式構(gòu)圖的微細(xì)槽;
微小亞鈴截面構(gòu)造體,其分別埋設(shè)于所述Cu基板、所述Au系釬料層及所述致密金屬膜的微細(xì)槽,以Cu和Au為主要元素。
2.如權(quán)利要求1所述的Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述致密金屬膜為以Ni、或Co、或Ni和Co雙方為主要材料的金屬膜。
3.如權(quán)利要求1所述的Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述致密金屬膜為通過(guò)無(wú)電解電鍍法而形成的含有P的以Ni、或Co、或Ni和Co雙方為主要材料的金屬膜。
4.如權(quán)利要求1所述的Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
形成于所述致密金屬膜的微細(xì)槽在俯視時(shí)二維周期地形成。
5.如權(quán)利要求4所述的Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述二維周期地形成的微細(xì)槽為方形周期圖案、六方周期圖案、三角周期圖案及等間隔平行線圖案中的任一種圖案。
6.如權(quán)利要求1所述的Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
形成于所述致密金屬膜的微細(xì)槽的寬度以相當(dāng)于所述Au系釬料層的厚度的值為最大,且是從該值到最小值0.1μm之間的值。
7.如權(quán)利要求1所述的Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述微細(xì)槽的總正投影面積占所述半導(dǎo)體元件芯片的接合面積整體的的比例為0.1%以上且10%以下。
8.如權(quán)利要求1所述的Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述Au系釬料層含有來(lái)源于所述Cu基板的Cu作為有效成分。
9.如權(quán)利要求1所述的Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述微小亞鈴截面構(gòu)造體的主要元素Cu及Au分別以所述Cu基板及所述Au系釬料層為起源。
10.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,
在加熱臺(tái)上依次疊置表面覆蓋有具有微細(xì)槽的致密金屬膜的Cu基板、液相線溫度在420℃以下的Au系釬料材及半導(dǎo)體元件芯片,
將疊置于加熱臺(tái)上的所述Cu基板、所述Au系釬料材及所述半導(dǎo)體元件芯片加熱升溫,使所述Au系釬料材熔化,作為夾持在所述Cu基板和所述半導(dǎo)體元件芯片之間的熔液層,
將所述Cu基板、所述半導(dǎo)體元件芯片、夾持在所述Cu基板和所述半導(dǎo)體元件芯片之間的熔液層冷卻,使所述熔液層固化,且使所述Cu基板和所述半導(dǎo)體元件芯片接合。
11.如權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,
通過(guò)圖案無(wú)電解電鍍法、或蝕刻法、或激光束加工法中的任一種方法使具有所述微細(xì)槽的致密金屬膜形成于所述Cu基板表面。
12.如權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,
在使具有所述微細(xì)槽的致密金屬膜形成于所述Cu基板表面的處理的最終工序中,施加對(duì)所述Cu基板整個(gè)面用厚度不足0.2μm的鍍膜覆蓋所述致密金屬膜的處理。
13.如權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,
在將疊置于加熱臺(tái)上的所述Cu基板、所述Au系釬料材及所述半導(dǎo)體元件芯片加熱升溫時(shí),在5毫巴以下的減壓下執(zhí)行。
14.一種Au系釬料模片接合半導(dǎo)體裝置,具有在半導(dǎo)體元件芯片和以Cu為主要原料的Cu基板之間夾持Au系釬料層的模片接合構(gòu)造,其特征在于,具備:
致密金屬膜,其配設(shè)于所述Cu基板和所述Au系釬料層之間,并具有以在俯視時(shí)成為規(guī)定形狀的方式構(gòu)圖的微細(xì)槽;
釬料結(jié)合單元,其分別埋設(shè)于所述Cu基板、所述Au系釬料層及所述致密金屬膜的微細(xì)槽,以Cu和Au為主要元素通過(guò)微小亞鈴截面構(gòu)造將所述Cu基板和所述Au系釬料層結(jié)合。
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