[發(fā)明專利]輪胎的均勻性波形的校正方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201380058807.4
• 申請(qǐng)日: 2013-11-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104769407A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-07-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 岡田徹;猿丸正悟
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 株式會(huì)社神戶制鋼所
• 主分類號(hào): G01M17/02
• 分類號(hào): G01M17/02;G01M1/22
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 樊建中

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及對(duì)從輪胎均勻性試驗(yàn)機(jī)得到的均勻性波形進(jìn)行校正的技術(shù)。

背景技術(shù)

一直以來(lái)，對(duì)制成產(chǎn)品的輪胎進(jìn)行測(cè)量均勻性(uniformity)等來(lái)判定優(yōu)劣的輪胎試驗(yàn)(輪胎均勻性試驗(yàn))。在該輪胎試驗(yàn)中，將輪胎推壓至輪胎均勻性試驗(yàn)機(jī)所具備的負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的外周面。在此基礎(chǔ)上，通過(guò)設(shè)置于負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的測(cè)壓元件(load?cell)等，測(cè)量使該輪胎旋轉(zhuǎn)時(shí)在輪胎的半徑方向、橫向方向上施加的載荷來(lái)作為均勻性波形，并基于測(cè)量到的均勻性波形進(jìn)行輪胎均勻性的評(píng)價(jià)。

但是，雖然設(shè)置于輪胎均勻性試驗(yàn)機(jī)的負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓例如被加工成截面為正圓的圓筒形狀，但是由于加工精度等的制約，嚴(yán)格來(lái)說(shuō)，該截面并不是完全的正圓。即，在負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的外周面會(huì)不可避免地產(chǎn)生一些凹凸。這樣，如果在使輪胎與并非完全的正圓的負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的外周面相接觸的基礎(chǔ)上使輪胎旋轉(zhuǎn)，則在輪胎通過(guò)少量存在于負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的外周面的凹凸時(shí)，負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)軸會(huì)產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)振動(dòng)。產(chǎn)生的旋轉(zhuǎn)振動(dòng)會(huì)作為誤差而包含在由測(cè)壓元件測(cè)量的均勻性波形中。其結(jié)果是，存在基于包含這樣的誤差的均勻性波形而計(jì)算出的輪胎均勻性的精度也發(fā)生降低的可能性。

因此，為了從由測(cè)壓元件等測(cè)量到的均勻性波形中去除起因于這樣的負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動(dòng)的誤差，換言之，為了校正測(cè)量到的均勻性波形，已經(jīng)想出幾個(gè)校正方法(專利文獻(xiàn)1、專利文獻(xiàn)2等)。

例如，在專利文獻(xiàn)1的校正方法中，在負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的直徑外側(cè)設(shè)置有能夠檢測(cè)負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的外周面的位移(沿著輪胎的半徑方向的位移，或者沿著輪胎的橫向方向的位移)的檢測(cè)器(傳感器)。并且，由該檢測(cè)器檢測(cè)出的負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的位移被作為旋轉(zhuǎn)振動(dòng)來(lái)測(cè)量。并且，在測(cè)量到的負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動(dòng)上乘以輪胎的彈簧常數(shù)而得到的值被作為由于旋轉(zhuǎn)振動(dòng)而作用到負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的力變動(dòng)的波形來(lái)計(jì)算。如果將這樣計(jì)算出的力變動(dòng)的波形作為用于校正起因于旋轉(zhuǎn)振動(dòng)的誤差的校正波形，從實(shí)際測(cè)量到的均勻性波形中減去，就能夠?qū)鶆蛐圆ㄐ芜M(jìn)行校正。

此外，在專利文獻(xiàn)2的校正方法中，由測(cè)壓元件測(cè)量到的均勻性波形被劃分成輪胎的每1次旋轉(zhuǎn)的數(shù)據(jù)區(qū)間，劃分后的均勻性波形彼此相互疊加。如果這樣按輪胎的每1次旋轉(zhuǎn)的數(shù)據(jù)區(qū)間進(jìn)行均勻性波形的疊加，則誤差會(huì)通過(guò)疊加而被抵消，能夠得到平均的均勻性波形。如果從由測(cè)壓元件實(shí)際測(cè)量到的均勻性波形中減去這樣的平均的均勻性波形，就得到包含因負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動(dòng)導(dǎo)致的誤差量的波形。接著，如果將所得到的含有誤差量的波形劃分成負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的每1次旋轉(zhuǎn)的數(shù)據(jù)區(qū)間，并使劃分后的波形彼此相互疊加，則含有誤差量的波形就被平均化。由此，能夠與專利文獻(xiàn)1同樣地求取出用于對(duì)因旋轉(zhuǎn)振動(dòng)導(dǎo)致的誤差進(jìn)行校正的校正波形。

在先技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本國(guó)特開(kāi)昭57-141532號(hào)公報(bào)

專利文獻(xiàn)2：日本國(guó)特開(kāi)平2-259445號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的課題

但是，在專利文獻(xiàn)1的校正方法中，有時(shí)由于輪胎的類別(種類、尺寸)的不同，很難精度良好地計(jì)算出上述的校正波形。

例如，在實(shí)際的輪胎均勻性試驗(yàn)機(jī)中，將輪胎推壓至負(fù)荷轉(zhuǎn)鼓的位置大多根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的種類、尺寸的輪胎而設(shè)定。但是，由輪胎均勻性試驗(yàn)機(jī)測(cè)量的輪胎中有寬度比標(biāo)準(zhǔn)的輪胎寬的輪胎和寬度比標(biāo)準(zhǔn)的輪胎窄的輪胎。在對(duì)這樣的輪胎進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，用來(lái)檢測(cè)外周面的位移的檢測(cè)器的高度會(huì)從最佳的位置偏離。即，在專利文獻(xiàn)1的校正方法中，根據(jù)要測(cè)量輪胎均勻性的輪胎的類別的不同，檢測(cè)器的設(shè)置位置會(huì)從最佳的位置偏離，而因?yàn)闄z測(cè)器的設(shè)置位置的偏離會(huì)使計(jì)算出的校正波形與適當(dāng)?shù)男Ｕㄐ蜗嗥x。由此，可能會(huì)很難求取出精度良好的校正波形。

此外，在專利文獻(xiàn)2記載的校正方法中，在重疊多個(gè)波形進(jìn)行平均化時(shí)，如果存在微小的相位偏離等誤差，則這樣的誤差也會(huì)被疊加并被加到校正波形上。其結(jié)果是，因疊加反而會(huì)使誤差變大，與專利文獻(xiàn)1的校正方法同樣地，有時(shí)會(huì)很難求取到精度良好的校正波形。

本發(fā)明鑒于上述問(wèn)題而完成，其目的在于，提供一種輪胎的均勻性波形的校正方法，該校正方法能夠?qū)⒁蜇?fù)荷轉(zhuǎn)鼓的旋轉(zhuǎn)振動(dòng)造成的影響從測(cè)量到的均勻性波形中去除，提高輪胎均勻性的測(cè)定精度。

用于解決課題的手段

為了達(dá)成上述目的，本發(fā)明的輪胎的均勻性波形的校正方法采取以下技術(shù)手段。