[發(fā)明專利]切割片用基材膜及切割片在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380057050.7 | 申請日: | 2013-10-09 |
| 公開(公告)號: | CN104756237A | 公開(公告)日: | 2015-07-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 田矢直紀(jì);上田公史;伊藤雅春 | 申請(專利權(quán))人: | 琳得科株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/301 | 分類號: | H01L21/301 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 謝順星;張晶 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 切割 基材 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及在將半導(dǎo)體晶片等被切斷物切斷分離成元件小片時,貼附在該被切斷物上的切割片、及用于該切割片的基材膜。
背景技術(shù)
硅、砷化鎵等半導(dǎo)體晶片及各種封裝類(以下將它們統(tǒng)稱為“被切斷物”),以大直徑狀態(tài)制造,并被切斷分離(切割步驟)成元件小片(以下稱為“芯片”)。
交付于該切割(dicing)步驟的被切斷物,以確保切割(dicing)步驟及其以后的步驟中被切斷物及芯片的操作性為目的,具備有基材膜以及設(shè)于其上的粘著劑層的切割片,預(yù)先貼附于與接近切斷用的切削工具一側(cè)相反側(cè)的被切斷物表面。這樣的切割片通常使用聚烯烴類膜或聚氯乙烯類膜等為基材膜。
作為切割步驟的具體技巧,在一般的全切割(full-cut?dicing)中,以旋轉(zhuǎn)的圓刀進(jìn)行被切斷物的切割。在全切割(full-cut?dicing)中,為使貼附切割片的被切斷物全面被切實地切斷,有時超過被切斷物將粘著劑層也切斷,或者有時將部分基材膜也切斷。
此時,自切割片產(chǎn)生由構(gòu)成粘著劑層及基材膜的材料所形成的切割屑,有時所得到的芯片因該切割屑而被污染。此種切割屑的型態(tài)的一,有附著在切割線、或因切割而分離的芯片截面附近的線狀的切割屑。
若在芯片上大量附著如上所述的線狀的切割屑而進(jìn)行芯片的密封,則附著于芯片的線狀切割屑因密封熱而分解,該熱分解物會破壞封裝,從而形成所得到的器件運作不良的原因。由于該線狀的切割屑難以經(jīng)由清洗而去除,因此因線狀切割屑的產(chǎn)生使得切割步驟的產(chǎn)率顯著下降。
另外,以固化的樹脂密封多個芯片而成的封裝作為被切斷物進(jìn)行切割的情況下,與切割半導(dǎo)體晶片時相比,使用刀刃寬度較厚的切割刀,同時切割的切入深度也更深。因此,在切割時被切斷除去的基材膜的量與半導(dǎo)體晶片的情況相比有所增加,線狀切割屑的產(chǎn)生量也有增加的傾向。因此,使用切割片進(jìn)行切割制造半導(dǎo)體封裝的情況下,需要進(jìn)一步防止線狀切割屑的產(chǎn)生。
切割步驟后所切斷的被切斷物,其后實施清洗、擴(kuò)展(expanding)步驟、拾取(pick?up)步驟的各步驟。因此,進(jìn)一步要求切割片在擴(kuò)展(expanding)步驟中的擴(kuò)張性優(yōu)異。
以抑制產(chǎn)生這樣的切割屑為目的,專利文獻(xiàn)1揭示了使用照射1~80Mrad電子束或γ(gamma)線的聚烯烴類膜為切割片的基材膜的發(fā)明。在該發(fā)明中,認(rèn)為經(jīng)過電子束或γ線照射,構(gòu)成基材膜的樹脂發(fā)生交聯(lián),從而抑制切割屑的產(chǎn)生。
在專利文獻(xiàn)1中,作為照射電子束或γ線的聚烯烴類膜,可以例示聚乙烯、聚丙烯、聚甲基戊烯、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物、乙烯-(甲基)丙烯酸共聚物、乙烯-(甲基)丙烯酸甲酯共聚物、乙烯-(甲基)丙烯酸乙酯共聚物、乙烯-離聚物(ionomer)共聚物、乙烯-乙烯醇共聚物、聚丁烯等樹脂。
在專利文獻(xiàn)2中,揭示了一種半導(dǎo)體切割用粘接待,其特征在于,在于基材膜的一個側(cè)面涂布粘著劑而成的半導(dǎo)體切割加工用帶上,上述基材膜至少由2層構(gòu)成,上述基材膜的與粘著層相接的層的樹脂融點為130℃~240℃,相對于至少1層與上述粘著劑層相接的層的下面相接的、100質(zhì)量份聚丙烯類樹脂,苯乙烯-丁二烯共聚物的氫加成物為2~400質(zhì)量份。
在專利文獻(xiàn)3中,作為賦予擴(kuò)展(expanding)步驟中的擴(kuò)張性的膜,揭示了一種在含有無規(guī)丙烯與烯烴類彈性體的基材層上,層積了粘著劑層的切割膜。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開平5-211234號公報
專利文獻(xiàn)2:日本特開2005-174963號公報
專利文獻(xiàn)3:日本特開2011-216595號公報
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題
然而,專利文獻(xiàn)1中所記載的膜在將如上所述樹脂一次成型為膜狀后照射電子束或γ線,因此增加了一個制造步驟,制造成本較一般基材膜有增加的傾向。專利文獻(xiàn)2的基材膜不能充分防止線狀切割屑的產(chǎn)生。專利文獻(xiàn)3中所記載的切割膜,擴(kuò)展(expanding)性雖然優(yōu)異,但是不能充分防止線狀切割屑的產(chǎn)生。
本發(fā)明是鑒于上述狀況所完成的,目的是提供一種無需施以電子束或γ線等物理能量,可抑制被切斷物切割時所產(chǎn)生的切割屑、特別是線狀切割屑的產(chǎn)生,在擴(kuò)展(expanding)步驟中具有充分的擴(kuò)張性(擴(kuò)展性)的切割片用基材膜及具備該切割片用基材膜的切割片。
解決技術(shù)問題的技術(shù)手段
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





