[發(fā)明專利]用于光學(xué)相干層析成像以及定位元件的系統(tǒng)和方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380056521.2
• 申請日: 2013-08-14
• 公開（公告）號: CN104736045A
• 公開（公告）日: 2015-06-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: W.肖雷;R.內(nèi)博西斯
• 申請（專利權(quán)）人: 愛克發(fā)醫(yī)療保健公司
• 主分類號: A61B5/00
• 分類號: A61B5/00;G01N21/47;G01B9/02;G06K9/32
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 朱君;劉春元

1.?一種用于光學(xué)相干層析成像的系統(tǒng)，帶有

-干涉儀(10)和傳感器頭(57)，通過所述傳感器頭(57)將電磁輻射從干涉儀(10)發(fā)送到待檢查的對象(1)處并且可將由所述對象(1)反射的電磁輻射引回到所述干涉儀(10)中，

-定位元件(3)，其用于相對于所述待檢查的對象(1)定位所述傳感器頭(57)，定位元件(3)帶有：支承，其布置在所述對象(1)處，并且所述傳感器頭(57)可放置在所述支承上；和第一區(qū)域(4)，其對于由所述干涉儀(10)發(fā)送的和由所述對象(1)反射的輻射基本上是可穿透的；和第二區(qū)域(5)，其對于由所述干涉儀(10)發(fā)送的和/或由所述對象(1)反射的輻射的穿透性不同于所述第一區(qū)域(4)的穿透性，

-圖像生成裝置(51)，其用于借助由所述對象(1)和/或所述定位元件(3)，尤其由所述定位元件(3)的第二區(qū)域(5)反射的電磁輻射生成一幅或多幅圖像(60,61)，

-顯示裝置(52)，其用于復(fù)現(xiàn)生成的圖像(60,61)，以及

-控制裝置(51)，其用于以這種方式控制圖像(60,61)的生成和復(fù)現(xiàn)，即，所述傳感器頭(57)可借助生成的和復(fù)現(xiàn)的圖像(60,61)帶到在所述定位元件(3)上的期望的位置中。

2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，用于由所述干涉儀(10)發(fā)送的和/或由所述對象(1)反射的輻射的所述第二區(qū)域(5)基本上是不可穿透的。

3.?根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其中，所述第二區(qū)域(5)具有這樣的結(jié)構(gòu)，其光學(xué)特性不同于對象(1)的尤其典型的結(jié)構(gòu)的光學(xué)特性。

4.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，所述支承可彎曲地來設(shè)計并且尤其可匹配所述對象(1)的輪廓。

5.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，所述支承可與所述對象(1)接觸，尤其可松開地固定在所述對象(1)處。

6.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，所述支承的第一區(qū)域(4)構(gòu)造為在所述支承中的穿口。

7.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，所述支承的第一區(qū)域(4)的形狀和/或大小匹配于所述傳感器頭(57)的穿透區(qū)域(57d)的形狀或大小，由所述干涉儀(10)發(fā)送的和由所述對象(1)反射的輻射可穿過穿透區(qū)域(57d)。

8.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，在所述定位元件(3)處設(shè)置有一個或多個標(biāo)記(6,6',7)，其支持所述傳感器頭(57)相對于所述定位元件(3)，尤其相對于所述支承的第一區(qū)域和/或第二區(qū)域(4或5)的定位。

9.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，所述支承的第二區(qū)域(5)具有用于由所述干涉儀(10)發(fā)送的或由所述對象(1)反射的、小于10^-4尤其小于10^-6的輻射的穿透性。

10.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，所述支承的第二區(qū)域(5)具有反射層，所述反射層反射由所述干涉儀(10)發(fā)送的輻射。

11.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，所述支承的第二區(qū)域(5)尤其所述反射層具有用于由所述干涉儀發(fā)送的輻射的至少30%尤其至少50%的反射能力。

12.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，其中，所述系統(tǒng)如此構(gòu)造，即，來自所述對象(1)的不同的深度的圖像(60,61)借助反射到所述對象(1)的不同的深度中的輻射生成和復(fù)現(xiàn)，其中，在由所述對象(1)的不同的深度獲得的和復(fù)現(xiàn)的圖像(60,61)中可識別出在對象(1)與定位元件(3)之間尤其在所述定位元件(3)的第一區(qū)域和第二區(qū)域(4和5)之間的過渡。

13.?根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)，帶有探測器(30)，探測器(30)用于探測由所述對象(1)和/或所述定位元件(3)反射的且引回到所述干涉儀(10)中的輻射，其中，用于操控所述探測器(30)的控制裝置如此構(gòu)造，即，其在探測由所述定位元件(3)反射的且引回到所述干涉儀(10)中的輻射時處于飽和運行中。