[發明專利]用于噪聲模擬信號的相位偏移檢測和校正的方法及裝置有效
| 申請號: | 201380054851.8 | 申請日: | 2013-08-23 |
| 公開(公告)號: | CN104756455B | 公開(公告)日: | 2017-12-08 |
| 發明(設計)人: | R·H·梅奧 | 申請(專利權)人: | 相量解決方案有限公司 |
| 主分類號: | H04L27/18 | 分類號: | H04L27/18 |
| 代理公司: | 北京泛華偉業知識產權代理有限公司11280 | 代理人: | 王勇,李科 |
| 地址: | 英國勒*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 噪聲 模擬 信號 相位 偏移 檢測 校正 | ||
1.一種關聯至少一個噪聲模擬信號的方法,其中,所述噪聲模擬信號是由多個接收器獲得的多個信號中的一個,所述方法包括:
通過對所述噪聲模擬信號的同相和正交分量中的每一個進行1比特的量化來對所述噪聲模擬信號進行1比特的量化;
通過將所述噪聲模擬信號的量化的同相和正交分量中的每一個與參考信號的量化的同相和正交分量中的每一個進行比較來比較量化的信號和量化的參考信號,其中所述參考信號是通過結合來自多個接收器的數據獲得的一致信號;以及
按如下方式對比較信號進行采樣,以遞增第一或第二向上/向下計數器:
如果所述噪聲模擬信號與所述參考信號的量化的同相分量相等,則在第一方向上遞增或遞減第一向上/向下計數器;并且如果不相等,則在第二方向上遞增或遞減第一向上/向下計數器;
如果所述噪聲模擬信號與所述參考信號的量化的正交分量相等,則在第一方向上遞增或遞減第一向上/向下計數器;并且如果不相等,則在第二方向上遞增或遞減第一向上/向下計數器;
如果所述噪聲模擬信號的量化的同相分量與所述參考信號的量化的正交分量相等,則在第一方向上遞增或遞減第二向上/向下計數器;并且如果不相等,則在第二方向上遞增或遞減第二向上/向下計數器;以及
如果所述噪聲模擬信號的量化的正交分量與所述參考信號的量化的同相分量相等,則在第二方向上遞增或遞減第二向上/向下計數器;并且如果不相等,則在第一方向上遞增或遞減第二向上/向下計數器。
2.根據權利要求1所述的方法,包括:
當所述第一和第二向上/向下計數器中的一個達到最大范圍時停止所述第一和第二向上/向下計數器。
3.根據權利要求1或2所述的方法,包括:
通過考慮所述第一和第二向上/向下計數器的值,確定在所述噪聲模擬信號的相位和所述參考信號的相位之間的相位偏移;
改變所述噪聲模擬信號的相位以便校正所述相位偏移;以及
重置所述第一和第二向上/向下計數器。
4.根據權利要求1或2所述的方法,包括:如果存在強負相關,則反轉量化的信號。
5.根據權利要求1或2所述的方法,包括:如果所述噪聲模擬信號始終在所述一致信號的預定范圍之外,則將所述噪聲模擬信號從所述一致信號中排除出來。
6.一種用于關聯至少一個噪聲模擬信號的裝置,其中,所述噪聲模擬信號是由多個接收器獲得的多個信號中的一個,所述裝置包括:
1比特量化元件,其中在使用時將所述噪聲模擬信號提供給該元件,并且所述1比特量化元件被配置為對所述噪聲模擬信號的同相和正交分量中的每一個進行1比特的量化;
比較器,其被配置為通過將所述噪聲模擬信號的量化的同相和正交分量中的每一個與參考信號的量化的同相和正交分量中的每一個進行比較來比較量化的信號和參考信號,其中所述參考信號是噪聲模擬信號并且是通過結合來自多個接收器的數據獲得的一致信號;以及
第一和第二向上/向下計數器,其被配置為根據比較信號的子集遞增;
采樣裝置,其被配置為按如下方式采樣比較信號,以遞增第一和第二向上/向下計數器:
如果所述噪聲模擬信號與所述參考信號的量化的同相分量相等,則所述第一向上/向下計數器被配置為在第一方向上遞增或遞減;并且如果不相等,則所述第一向上/向下計數器被配置為在第二方向上遞增或遞減;
如果所述噪聲模擬信號與所述參考信號的量化的正交分量相等,則所述第一向上/向下計數器被配置為在第一方向上遞增或遞減;并且如果不相等,則所述第一向上/向下計數器被配置為在第二方向上遞增或遞減;
如果所述噪聲模擬信號的量化的同相分量與所述參考信號的量化的正交分量相等,則所述第二向上/向下計數器被配置為在第一方向上遞增或遞減;并且如果不相等,則所述第二向上/向下計數器被配置為在第二方向上遞增或遞減;以及
如果所述噪聲模擬信號的量化的正交分量與所述參考信號的量化的同相分量相等,則所述第二向上/向下計數器被配置為在第二方向上遞增或遞減;并且如果不相等,則所述第二向上/向下計數器被配置為在第一方向上遞增或遞減。
7.根據權利要求6所述的裝置,包括振蕩器,其被配置為修改量化的信號的相位。
8.根據權利要求6或7所述的裝置,其中,所述比較器是異或門。
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