[發明專利]用于確定薄膜卷的卷繞質量的方法

有效

• 申請號: 201380054252.6
• 申請日: 2013-09-26
• 公開（公告）號: CN105008257B
• 公開（公告）日: 2017-10-31
• 發明（設計）人: 弗蘭克·霍夫曼
• 申請（專利權）人: 溫德默勒&霍樂沙兩合公司
• 主分類號: B65H18/26
• 分類號: B65H18/26
• 代理公司: 深圳新創友知識產權代理有限公司44223
• 代理人: 江耀純

1.用于確定薄膜(30)在卷繞輥(20)上的薄膜卷(10)的卷繞質量的方法，具有以下的步驟：

-薄膜(30)在卷繞輥(20)上卷繞期間直接在薄膜卷(10)上確定薄膜卷(10)的卷硬度(WH),作為薄膜(30)的各薄膜層之間的空氣隙的大小的尺度；

-確定薄膜卷(10)的所確定的卷硬度(WH)與薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的至少一個預定值(V1、V2)的偏差；

-根據所確定的偏差來確定薄膜卷(10)的卷繞質量。

2.按權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的步驟連續地或者基本上連續地進行。

3.按權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的步驟、確定薄膜卷(10)的所確定的卷硬度(WH)與薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的至少一個預定值(V1、V2)的偏差的步驟、根據所確定的偏差來確定薄膜卷(10)的卷繞質量的步驟連續地或者基本上連續地進行。

4.按權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述確定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的步驟在卷繞期間無接觸地實施。

5.按權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，所述確定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的步驟在卷繞期間借助下列方法中的至少一種方法實施：

-超聲波測量；

-激光測量；

-雷達波測量、太赫茲波測量、微波測量；

-接觸式滾輪測量。

6.按權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，至少兩個預定值(V1、V2)作為上預定值(V2)和作為下預定值(V1)限定一個預定范圍(VB)。

7.按權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，實施輸入至少一個影響卷繞質量的工作參數的步驟，其中，所述工作參數以特殊的方式按照薄膜卷(10)的薄膜(30)的尺寸進行設計。

8.按權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，使用所確定的卷繞質量和/或所確定的偏差作為輸入參量用于調節至少一個影響卷繞質量的工作參數，所述工作參數包括如下：

-接觸輥(40)的料幅拉力(BZ)；

-卷繞輥(20)的料幅拉力(BZ)；

-接觸輥(40)的壓緊力(AP)。

9.按權利要求8所述的方法，其特征在于，在調節所述至少一個工作參數時，考慮在薄膜卷(10)卷繞時出現的徑向的壓力分布。

10.按權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，沿著橫向于薄膜(30)的卷繞方向(50)的方向，在卷繞輥(20)上卷繞期間至少雙重分段確定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)。

11.按權利要求10所述的方法，其特征在于，沿著橫向于薄膜(30)的卷繞方向(50)的方向，通過調節至少一個工作參數使薄膜(30)的制造輪廓和/或卷硬度(WH)保持為恒定的或者基本上恒定的。

12.按權利要求10所述的方法，其特征在于，在薄膜(30)的寬度上，通過調節至少一個工作參數使薄膜(30)的制造輪廓和/或卷硬度(WH)保持為恒定的或者基本上恒定的。

13.按權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，基于所確定的卷繞質量和/或所確定的偏差，在一個在先的制造過程中實施薄膜(30)的制造輪廓的改變。

14.一種用于監控薄膜(30)在卷繞輥(20)上的薄膜卷(10)的卷繞質量的監控設備(100)，其特征在于，具有至少一個用于在薄膜(30)在卷繞輥(20)上卷繞期間直接在薄膜卷(10)上確定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的傳感器裝置(110),作為薄膜(30)的各薄膜層之間的空氣隙的大小的尺度；還具有控制裝置(120)，該控制裝置用于確定薄膜卷(10)的所確定的卷硬度(WH)與薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的至少一個預定值(V1、V2)的偏差和根據所確定的偏差來確定薄膜卷(10)的卷繞質量。

15.按權利要求14所述的監控設備(100)，其特征在于，控制裝置(120)設計為用于實施權利要求1至13中任一項所述的方法。

16.按權利要求14或15所述的監控設備(100)，其特征在于，控制裝置(120)設計為用于在手動的、半自動化的和全自動化的工作之間簡單地轉換。