[發(fā)明專利]超導(dǎo)線圈的失超檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380054248.X
• 申請日: 2013-08-20
• 公開（公告）號: CN104756205B
• 公開（公告）日: 2017-08-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 三上行雄
• 申請（專利權(quán)）人: 住友重機械工業(yè)株式會社
• 主分類號: H01F6/02
• 分類號: H01F6/02;H01F6/00;H01F6/06
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司72002
• 代理人: 徐殿軍

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種超導(dǎo)線圈的失超檢測裝置。

背景技術(shù)

以往，作為超導(dǎo)線圈的失超檢測裝置，例如已知有專利文獻1所記載的裝置。該裝置的超導(dǎo)線圈由串聯(lián)連接的第1超導(dǎo)線圈和第2超導(dǎo)線圈構(gòu)成。第1超導(dǎo)線圈和第2超導(dǎo)線圈通過超導(dǎo)線圈的中點即線圈整體的中點連接。并且，通過測定第1超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓和第2超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓并求出這些測定值的偏差，來檢測伴隨失超而產(chǎn)生的微小電壓。

以往技術(shù)文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開平9-84252號公報

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的技術(shù)課題

然而，在上述現(xiàn)有的裝置中，若在超導(dǎo)線圈的附近具有鐵等磁性體，則該磁性體有可能成為干擾的主要原因。當超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓因磁性體的存在而受到影響時，即使在未發(fā)生失超的狀態(tài)下，第1超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓和第2超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓也不會被消除(偏差不會成為零)，導(dǎo)致電壓殘留。其結(jié)果，能夠檢測失超的電壓的偏差的下限值變大，導(dǎo)致失超的檢測靈敏度惡化。

因失超的檢測靈敏度的惡化，失超的檢測被延遲，超導(dǎo)線圈的燒損風(fēng)險增高。如此，以往難以以高靈敏度檢測失超。

本發(fā)明的目的在于提供一種能夠以高靈敏度檢測失超的超導(dǎo)線圈的失超檢測裝置。

用于解決技術(shù)課題的手段

本發(fā)明的一方面的超導(dǎo)線圈的失超檢測裝置具備串聯(lián)連接的第1超導(dǎo)線圈和第2超導(dǎo)線圈，第1超導(dǎo)線圈和第2超導(dǎo)線圈呈相同的形狀，第1超導(dǎo)線圈的第1軸線和第2超導(dǎo)線圈的第2軸線配置于相同的位置及相同的方向，并且在該方向上的第1超導(dǎo)線圈的位置和第2超導(dǎo)線圈的位置相同，第1超導(dǎo)線圈的繞組的長度和第2超導(dǎo)線圈的繞組的長度相同。

在該超導(dǎo)線圈的失超檢測裝置中，第1超導(dǎo)線圈和第2超導(dǎo)線圈呈相同的形狀。另外，第1超導(dǎo)線圈的第1軸線和第2超導(dǎo)線圈的第2軸線配置于相同的位置及相同的方向，并且在該方向上的第1超導(dǎo)線圈的位置和第2超導(dǎo)線圈的位置相同。如此，第1超導(dǎo)線圈和第2超導(dǎo)線圈的幾何形狀相同，且各自的軸線及位置一致。另外，第1超導(dǎo)線圈的繞組的長度和第2超導(dǎo)線圈的繞組的長度相同。由此，在第1超導(dǎo)線圈及第2超導(dǎo)線圈的附近存在磁性體時，磁性體對第1超導(dǎo)線圈及第2超導(dǎo)線圈帶來的影響也會大致相同。由此，在第1超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓與第2超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓的偏差下，由磁性體引起的干擾的影響大致被抵消。因此，能夠檢測失超的電壓的偏差的下限值變小，能夠以高靈敏度檢測失超。

并且，在第1超導(dǎo)線圈與第2超導(dǎo)線圈之間可以設(shè)有中間抽頭。根據(jù)該結(jié)構(gòu)，能夠以簡單的結(jié)構(gòu)測定第1超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓與第2超導(dǎo)線圈的端子之間的電壓的偏差。

并且，第1超導(dǎo)線圈的繞組和第2超導(dǎo)線圈的繞組可以相鄰。根據(jù)該結(jié)構(gòu)，磁性體對第1超導(dǎo)線圈及第2超導(dǎo)線圈帶來的影響保持更良好的一致性。由此，能夠以高精確度抵消干擾的影響，從而能夠進一步降低檢測失超的電壓的偏差的下限值。

并且，第1超導(dǎo)線圈的繞組和第2超導(dǎo)線圈的繞組可以被共同卷繞。能夠通過簡單的制造方法，以高靈敏度檢測失超。

并且，第1超導(dǎo)線圈的繞組和第2超導(dǎo)線圈的繞組可以呈扁平狀，且可以相互重合。

并且，第1超導(dǎo)線圈的繞組和第2超導(dǎo)線圈的繞組在徑向上的位置可以在中途被調(diào)換。

并且，第1超導(dǎo)線圈的繞組和第2超導(dǎo)線圈的繞組的截面可以呈圓形狀，且可以相互絞合。

并且，第1超導(dǎo)線圈的繞組和第2超導(dǎo)線圈的繞組可以通過將多個扁平(pancake)線圈在超導(dǎo)線圈的軸線方向上交替層疊而成。

發(fā)明效果

根據(jù)本發(fā)明的一方面，能夠以高靈敏度檢測失超。

附圖說明

圖1是表示本發(fā)明所涉及的失超檢測裝置的一實施方式的結(jié)構(gòu)的電路圖。

圖2是表示圖1中的超導(dǎo)線圈中的繞組的配置關(guān)系的圖。

圖3是第1超導(dǎo)線圈、第2超導(dǎo)線圈、超導(dǎo)線圈中的幾何形狀等的說明圖。

圖4是表示高溫超導(dǎo)和低溫超導(dǎo)時的電壓特性的圖。

圖5(a)是表示第2實施方式的超導(dǎo)線圈中的繞組的配置關(guān)系的圖，圖5(b)是表示第3實施方式的超導(dǎo)線圈中的繞組的配置關(guān)系的圖。

圖6是表示第4實施方式的超導(dǎo)線圈中的繞組的配置關(guān)系的圖。

圖7(a)及圖7(b)分別是表示現(xiàn)有的繞組的配置關(guān)系的圖。

具體實施方式

以下，參考附圖對本發(fā)明的實施方式進行說明。另外，在附圖說明中，對于相同要件標注相同符號，并省略重復(fù)說明。