[發明專利]角膜基質繪測

在審

• 申請號: 201380053383.2
• 申請日: 2013-03-15
• 公開（公告）號: CN104837399A
• 公開（公告）日: 2015-08-12
• 發明（設計）人: 邁克爾·熙
• 申請（專利權）人: 光視有限公司
• 主分類號: A61B3/10
• 分類號: A61B3/10;A61B3/14;A61B3/15
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 趙偉

1.一種測量方法，包括：

通過第一成像方法獲得第一測量結果；

通過第二成像方法獲得第二測量結果；

對所述第一測量結果和所述第二測量結果進行組合，以獲得眼睛結構的結構信息和圖像表示；

根據所述結構信息來計算至少一個形狀參數；以及

顯示所述眼睛結構的所述圖像表示。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述圖像表示可以是所述眼睛結構的地形圖或三維圖。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述眼睛結構可以是眼睛的角膜上皮表面、角膜基質、或前角膜基質交界面。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述結構信息是所述眼睛結構的形狀。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第一成像方法可以是普拉西多成像、超聲成像、向普魯攝影、或光學相干斷層掃描。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第二成像方法可以是超聲成像、向普魯攝影、或光學相干斷層掃描。

7.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第一測量結果可以是角膜前表面高度圖，并且所述第二測量結果可以是上皮厚度圖。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，對所述第一測量結果和所述第二測量結果進行組合可以是計算所述第一測量結果和所述第二測量結果之差。

9.根據權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個形狀參數可以是軸向力(徑向力)、軸向曲率(徑向曲率)、切向力(瞬時力)、切向曲率(瞬時曲率)、平均曲率、高度、以及相對于參考表面的高度。

10.根據權利要求1所述的方法，還包括：基于角膜上皮表面的結構信息來計算至少一個角膜擴張篩選參數。

11.根據權利要求1所述的方法，還包括：基于角膜上皮-基質交界面的結構信息來計算至少一個角膜擴張篩選參數。

12.一種測量方法，包括：

通過成像方法來獲得至少一個測量結果，所述成像方法選自由以下各項構成的獲得至少一個測量結果的組：光學相干斷層掃描OCT、高分辨率超聲、或向普魯攝影；

對所述至少一個測量結果進行處理，以獲得角膜上皮和角膜基質之間的交界面；

確定所述交界面的至少一個形狀參數；

計算至少一個角膜擴張篩選參數；

生成所述交界面的地形表示或三維表示；以及

顯示所述地形表示或所述三維表示。

13.一種圖像處理系統，包括：

第一成像器；

第二成像器；以及

處理器，耦合到所述第一成像器和所述第二成像器，所述處理器執行指令以：

通過所述第一成像器獲得第一測量結果；

通過所述第二成像器獲得第二測量結果；

對所述第一測量結果和所述第二測量結果進行組合，以獲得眼睛結構的結構信息和圖像表示；

根據所述結構信息來計算至少一個形狀參數；以及

顯示所述眼睛結構的所述圖像表示。

14.根據權利要求13所述的成像器，其中，所述第一成像器可以是普拉西多成像器、超聲成像器、向普魯攝影成像器、或光學相干斷層掃描成像器。

15.根據權利要求13所述的成像器，其中，所述第二成像器可以是超聲成像器、向普魯攝影成像器、或光學相干斷層掃描成像器。