[發(fā)明專利]液體介質中衍射體的光學參數(shù)重建方法和系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380045196.X
• 申請日: 2013-07-12
• 公開（公告）號: CN104797922B
• 公開（公告）日: 2017-09-05
• 發(fā)明（設計）人: C·阿里埃;S·凡希莫·科薩萬
• 申請（專利權）人: 原子能與替代能源委員會
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N21/17;G01N21/45;G01N21/47;G02B27/42
• 代理公司: 上海思微知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙)31237
• 代理人: 鐘晶

1.一種使用包括空間相干光源(26)及矩陣光電探測器(28)的重建系統(tǒng)(20)對浸于液體介質(24)中的衍射體(22)的光學參數(shù)進行重建的方法，所述液體介質(24)以一透明表面(42)為邊界，所述衍射體(22)與所述透明表面(42)相接觸，

所述重建方法包括如下步驟：

-使用所述空間相干光源(26)照明(100)所述介質(24)；

-使用所述矩陣光電探測器(28)測量(110)由被照明的所述介質(24)在一垂直方向(Z)上傳輸?shù)闹辽僖粋€衍射圖形的光強(I)，其中，每個所述衍射圖形與一個或多個衍射體(22)在所述介質(24)被照明時衍射出的波相對應；以及

-基于測得的所述光強(I)，根據(jù)一重建算法在一重建高度(Zr)上重建(120)所述衍射體(22)的光學參數(shù)；

其中，在所述重建步驟(120)中，所述重建高度(Zr)的值嚴格小于所述液體介質(24)和矩陣光電探測器(28)之間在所述垂直方向(Z)上的距離(D2)的值。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述重建高度(Zr)的值小于所述液體介質(24)和矩陣光電探測器(28)之間的所述距離(D2)的0.9倍。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述重建高度(Zr)的值小于所述液體介質(24)和矩陣光電探測器(28)之間的所述距離(D2)的0.8倍。

4.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述重建步驟(120)中，所述重建算法滿足以下等式：

I(x,y)*h-Zr(x,y)=ej2π-Zrλ(1-a(x,y)-ej2π2Zrλ.a*(x,y)*h-2Zr(x,y))]]>

其中：

I為由所述矩陣光電探測器(28)測得的所述光強；

x,y表示垂直于所述垂直方向(Z)的一平面內的坐標，*表示卷積；

Zr表示所述重建高度；

λ表示所述光源(26)的波長，j表示虛數(shù)單位；

a表示某一衍射體(22)的復變不透明度函數(shù)，a*表示a的共軛復變函數(shù)；

h_z由下式定義：

hz(x,y)=1jλzej2πzλexp(jπx2+y2λz).]]>