[發(fā)明專(zhuān)利]利用移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)來(lái)確定空間坐標(biāo)的方法和系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380043952.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104583709B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-05-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 波·佩特爾松;帕斯卡爾·喬迪爾 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 赫克斯岡技術(shù)中心 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01B11/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01B11/00;G01B21/04 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 呂俊剛;劉久亮 |
| 地址: | 瑞士赫*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 移動(dòng) 坐標(biāo) 測(cè)量 確定 空間 標(biāo)的 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種用于利用移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)來(lái)確定對(duì)象(3)的局部結(jié)構(gòu)(2,2')的測(cè)量點(diǎn)的至少一個(gè)空間坐標(biāo)的方法,所述方法至少包括以下步驟:
·將所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)放置在要測(cè)量的所述對(duì)象(3)的表面(30)上,以使得所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)自主地直立在所述表面(30)上,
·利用感測(cè)頭接近所述測(cè)量點(diǎn),以及
·確定至少一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的至少一個(gè)空間坐標(biāo),
其特征在于,
建立所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)與所述局部結(jié)構(gòu)(2,2')之間的限定空間關(guān)系,其中,借助于以下各項(xiàng)建立所述限定空間關(guān)系:
·所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)到所述對(duì)象(3)的機(jī)械固定,和/或
·所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)相對(duì)于所述對(duì)象(3)的位置和取向的連續(xù)確定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,
其特征在于,
相對(duì)于所述局部結(jié)構(gòu)(2,2')來(lái)定位所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)并且維持所述位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,
其特征在于,
所述相對(duì)于所述局部結(jié)構(gòu)(2,2')來(lái)定位所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)并且維持所述位置,是
·完全自主地通過(guò)所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)的定位裝置(15,16,17,25)和/或
·以相對(duì)于所述局部結(jié)構(gòu)(2,2')和/或相對(duì)于外部勘測(cè)儀器(5,6)連續(xù)地確定所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)的基座(10)和/或所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)的傳感器裝置的位置和取向的這樣一種方式。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
所述局部結(jié)構(gòu)是孔(2),并且接近所述測(cè)量點(diǎn)包括將所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)的觸針(21)引入到所述孔(2)中。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,
其特征在于,
沿著所述孔(2)的中心軸(8)將所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)的觸針(21)引入到所述孔(2)中。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,
其特征在于,
所述孔(2)是鉆孔。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,
其特征在于,
所述至少一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的至少一個(gè)空間坐標(biāo)的所述確定包括
·使所述觸針(21)繞旋轉(zhuǎn)軸(7)旋轉(zhuǎn),
·向所述孔(2)的壁上的多個(gè)測(cè)量點(diǎn)發(fā)射第一測(cè)量光束(83),
·接收所述第一測(cè)量光束(83)從所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的反射,以及
·基于所述反射來(lái)確定所述多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的空間坐標(biāo)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-3中的任何一項(xiàng)所述的方法,
其特征在于,
所述限定空間關(guān)系具有比用于確定所述至少一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的所述至少一個(gè)空間坐標(biāo)的所應(yīng)用的方法的特性分辨率小的容差。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,
其特征在于,
所述限定空間關(guān)系具有比用于確定所述至少一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的所述至少一個(gè)空間坐標(biāo)的所應(yīng)用的方法的特性分辨率小至少兩個(gè)數(shù)量級(jí)的容差。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-3中的任何一項(xiàng)所述的方法,
其特征在于,
通過(guò)至少一個(gè)外部勘測(cè)儀器(5,6,6')和/或相對(duì)于基準(zhǔn)坐標(biāo)系統(tǒng)確定所述移動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(1)和所述對(duì)象(3)的位置和取向。
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