[發(fā)明專(zhuān)利]熔斷器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380043450.2 | 申請(qǐng)日: | 2013-07-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104584175A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 番場(chǎng)真一郎;酒井范夫 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 株式會(huì)社村田制作所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01H85/11 | 分類(lèi)號(hào): | H01H85/11;H01H85/02 |
| 代理公司: | 上海專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 張?chǎng)?/td> |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 熔斷器 | ||
1.一種熔斷器,其特征在于,包括:
絕緣性基板;
布線,該布線配置在所述絕緣性基板的一個(gè)主面上;
低熔點(diǎn)金屬部,該低熔點(diǎn)金屬部設(shè)置在所述布線上,具有比所述布線低的熔點(diǎn),并且在變成熔液時(shí)使所述布線熔化;以及
發(fā)熱體,該發(fā)熱體對(duì)所述低熔點(diǎn)金屬部進(jìn)行加熱,
在俯視時(shí),所述發(fā)熱體設(shè)置在相比于配置有所述低熔點(diǎn)金屬部的區(qū)域在所述布線的延伸方向上的一側(cè)端部更靠另一側(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的熔斷器,其特征在于,
在俯視時(shí),所述發(fā)熱體設(shè)置成從相比于配置有所述低熔點(diǎn)金屬部的區(qū)域在所述布線的延伸方向上的一側(cè)端部更靠另一側(cè)起,直到相比于配置有所述低熔點(diǎn)金屬部的區(qū)域在所述布線的延伸方向上的另一側(cè)端部更靠另一側(cè)。
3.如權(quán)利要求1或2所述的熔斷器,其特征在于,
所述布線包含:
熔斷部,該熔斷部由于熔化到所述低熔點(diǎn)金屬部的熔液中從而相對(duì)容易熔斷;以及
非熔斷部,該非熔斷部在所述布線的延伸方向上位于所述熔斷部的一側(cè),且相對(duì)不易熔斷,
在俯視時(shí),所述發(fā)熱體配置成不與所述熔斷部重疊。
4.如權(quán)利要求3所述的熔斷器,其特征在于,
所述熔斷部由相對(duì)于所述低熔點(diǎn)金屬部的熔液的熔化速度相對(duì)較高的金屬構(gòu)成,
所述非熔斷部由相對(duì)于所述低熔點(diǎn)金屬部的熔液的熔化速度相對(duì)較低的金屬構(gòu)成。
5.如權(quán)利要求4所述的熔斷器,其特征在于,
所述熔斷部包含Au和Ag中的至少一方,
所述非熔斷部包含Cu、Pb、Ni和Pt中的至少一種。
6.如權(quán)利要求3至5中的任一項(xiàng)所述的熔斷器,其特征在于,
所述熔斷部的寬度比所述非熔斷部窄。
7.如權(quán)利要求3至6中的任一項(xiàng)所述的熔斷器,其特征在于,
所述熔斷部比所述非熔斷部薄。
8.如權(quán)利要求1至7中的任一項(xiàng)所述的熔斷器,其特征在于,
還包括撥液部,該撥液部在所述絕緣性基板的一個(gè)主面上,相對(duì)于所述低熔點(diǎn)金屬部設(shè)置在所述布線的延伸方向的一側(cè),且排拒所述低熔點(diǎn)金屬部的熔液。
9.如權(quán)利要求1至8中的任一項(xiàng)所述的熔斷器,其特征在于,
所述發(fā)熱體設(shè)置在所述基板的一個(gè)主面上或所述基板的內(nèi)部。
10.如權(quán)利要求1至9中的任一項(xiàng)所述的熔斷器,其特征在于,
還包括絕緣層,該絕緣層使所述布線與所述低熔點(diǎn)金屬部相絕緣。
11.如權(quán)利要求1至10中的任一項(xiàng)所述的熔斷器,其特征在于,
所述低熔點(diǎn)金屬部以Sn為主要成分。
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H01H85-60 ..為與底座結(jié)合,在對(duì)應(yīng)兩端有觸頭的媒介或輔助部件





