[發明專利]光子計數X射線探測器

有效

• 申請號: 201380043287.X
• 申請日: 2013-07-15
• 公開（公告）號: CN104583806B
• 公開（公告）日: 2018-08-10
• 發明（設計）人: E·勒斯爾;H·德爾;R·斯特德曼布克
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01T1/17
• 分類號: G01T1/17
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 李光穎;王英

1.一種X射線探測器(100、200)，包括：

-至少一個傳感器單元(105、205)，其用于將入射X射線光子(X)轉換成電傳感器信號(s)，

其中，所述傳感器單元(105、205)包括轉換材料(101、201)，所述轉換材料用于將入射X射線光子(X)轉換成電荷信號(q)，

并且其中，至少一個電極(102、202)被耦合到所述轉換材料(101、201)以用于感測所述電荷信號(q)；

-至少一個通量傳感器(104、204)，其用于生成與入射X射線光子(X)的通量相關的通量信號(f)；

-數據處理系統，其用于基于所述通量信號(f)來校正所述傳感器信號(s)，其中，所述數據處理系統包括處理電路，所述處理電路被定位鄰近所述傳感器單元(105、205)并被結合到所述電極以用于收集并處理所述傳感器單元的傳感器信號(s)；

其中，所述通量傳感器(104、204)被集成到所述處理電路中或者關于X射線入射的主方向被放置在所述處理電路的后面。

2.根據權利要求1所述的X射線探測器(100、200)，

其特征在于，所述傳感器單元(105、205)和所述通量傳感器(104、204)關于所述X射線入射的主方向(-z)被對齊。

3.根據權利要求1所述的X射線探測器(100、200)，

其特征在于，所述轉換材料(101、201)包括從包括CdTe、CZT、Si、Ge、Se、GaAs和PbO的組中選擇的材料。

4.根據權利要求1所述的X射線探測器(100、200)，

其特征在于，所述處理電路包括集成電路。

5.根據權利要求1所述的X射線探測器(100、200)，

其特征在于，所述通量傳感器(104、204)包括從包括PIN二極管、GaAs二極管和Si-PM陣列的組中選擇的元件。

6.根據權利要求1所述的X射線探測器(200)，

其特征在于，所述通量傳感器(204)包括閃爍材料(206)。

7.根據權利要求1所述的X射線探測器(100、200)，

其特征在于，所述數據處理系統適于對由單個X射線光子(X)生成的傳感器信號(s)的脈沖進行計數。

8.根據權利要求7所述的X射線探測器(100、200)，

其特征在于，以譜分辨的方式對所述脈沖進行計數。

9.根據權利要求1所述的X射線探測器(100、200)，

其特征在于，所述傳感器信號(s)和對應的通量信號(f)的校準數據被用于使所述傳感器單元的輸出線性化。

10.一種X射線成像系統，包括：

-X射線源；

-根據權利要求1所述的X射線探測器(100、200)。

11.根據權利要求10所述的X射線成像系統，其中，所述X射線成像系統是譜分辨的光子計數CT系統。