[發(fā)明專利]片材制造或加工系統(tǒng)中的使用相交線的片材產(chǎn)品非接觸厚度測(cè)量

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201380041890.4
• 申請(qǐng)日: 2013-05-13
• 公開（公告）號(hào): CN104520670B
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: J.F.莎士比亞;T.T.莎士比亞
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 霍尼韋爾國(guó)際公司
• 主分類號(hào): G01B11/06
• 分類號(hào): G01B11/06;G01N21/86;B65H43/00
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 李晨,李婷

1.一種用于片材測(cè)量的方法，所述方法包括：

獲得材料的片材（108）的多個(gè)圖像，所述圖像包含投影到所述片材的第一側(cè)上的第一條線（204、404、504、524a-524c、544a-544c）和投影到所述片材的第二側(cè)上的第二條線（206、406、506a-506c、526a-526c、546a-546c），所述圖像包括：

至少一個(gè)第一圖像，其包含了從所述片材的所述第一側(cè)反射的所述第一條線和透射穿過所述片材的所述第二條線；和

至少一個(gè)第二圖像，其包含了從所述片材的所述第二側(cè)反射的所述第二條線和透射穿過所述片材的所述第一條線；

識(shí)別所述圖像中的至少一個(gè)相交點(diǎn)（410、508、528、548），在所述至少一個(gè)相交點(diǎn)處，所述線在所述片材上相交；并且

使用所述至少一個(gè)相交點(diǎn)來識(shí)別所述片材的厚度。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中：

識(shí)別所述至少一個(gè)相交點(diǎn)包括：

識(shí)別所述至少一個(gè)第一圖像中的第一相交點(diǎn)；和

識(shí)別所述至少一個(gè)第二圖像中的第二相交點(diǎn)；并且

識(shí)別所述片材的厚度包括：

使用所述第一相交點(diǎn)來識(shí)別至所述片材的所述第一側(cè)的第一距離；

使用所述第二相交點(diǎn)來識(shí)別至所述片材的所述第二側(cè)的第二距離；和

使用所述第一和第二距離來識(shí)別所述片材的厚度。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中：

多條線（524a-524c、544a-544c、506a-506c、526a-526c、546a-546c）被投影到所述片材的至少一側(cè)的每側(cè)上；并且

識(shí)別所述至少一個(gè)相交點(diǎn)包括識(shí)別多個(gè)相交點(diǎn)。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中：

識(shí)別所述片材的厚度包括識(shí)別多個(gè)厚度測(cè)量結(jié)果，所述多個(gè)厚度測(cè)量結(jié)果是基于所述多個(gè)相交點(diǎn)并使用至所述片材的至少一側(cè)的每側(cè)的多個(gè)距離而識(shí)別的；并且

使用所述多個(gè)厚度測(cè)量結(jié)果來識(shí)別最終厚度測(cè)量結(jié)果。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，識(shí)別所述至少一個(gè)相交點(diǎn)包括：

在多個(gè)像素群（408）中識(shí)別與所述線中的一條相關(guān)的多個(gè)點(diǎn)，包括在估計(jì)的相交點(diǎn)（410）周圍的像素群；

使用所述多個(gè)點(diǎn)產(chǎn)生經(jīng)過插值的線或曲線；和

使用所述經(jīng)過插值的線來識(shí)別實(shí)際的相交點(diǎn)。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述多個(gè)像素群包括包含了所述估計(jì)的相交點(diǎn)的像素群（408）。

7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中：

所述線中的至少一條在其寬度上具有非均勻的強(qiáng)度；

所述方法還包括識(shí)別所述線中的至少一條的具有最大強(qiáng)度的部分；并且

識(shí)別所述至少一個(gè)相交點(diǎn)包括使用所述線中的至少一條的被識(shí)別的部分來識(shí)別相交點(diǎn)。

8.一種用于片材測(cè)量的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：

多個(gè)照明源（202a-202b），其被構(gòu)造成將第一條線（204、404、504、524a-524c、544a-544c）投影到片材（108）的第一側(cè)上，并將第二條線（206、406、506a-506c、526a-526c、546a-546c）投影到所述片材的第二側(cè)上；

多個(gè)探測(cè)器（208a-208b），其被構(gòu)造成獲得所述片材的多個(gè)圖像，所述圖像包括：

至少一個(gè)第一圖像，其包含了從所述片材的所述第一側(cè)反射的所述第一條線和透射穿過所述片材的所述第二條線；和

至少一個(gè)第二圖像，其包含了從所述片材的所述第二側(cè)反射的所述第二條線和透射穿過所述片材的所述第一條線；以及

至少一個(gè)處理設(shè)備（250），其被構(gòu)造成識(shí)別所述圖像中的至少一個(gè)相交點(diǎn)（410、508、528、548）并使用所述至少一個(gè)相交點(diǎn)來識(shí)別所述片材的厚度，在所述至少一個(gè)相交點(diǎn)處，所述線在所述片材上相交。

9.如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其中，所述至少一個(gè)處理設(shè)備被構(gòu)造成：

識(shí)別所述至少一個(gè)第一圖像中的第一相交點(diǎn)；

識(shí)別所述至少一個(gè)第二圖像中的第二相交點(diǎn)；

使用所述第一相交點(diǎn)來識(shí)別至所述片材的所述第一側(cè)的第一距離；

使用所述第二相交點(diǎn)來識(shí)別至所述片材的所述第二側(cè)的第二距離；并且

使用所述第一和第二距離來識(shí)別所述片材的厚度。