[發(fā)明專利]具有高吞吐量的離子遷移率譜儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380040768.5 | 申請日： | 2013-05-02 |
| 公開（公告）號： | CN104508475B | 公開（公告）日： | 2018-05-04 |
| 發(fā)明（設計）人： | A·N·維爾恩馳寇韋 | 申請（專利權）人： | 萊克公司 |
| 主分類號： | G01N27/62 | 分類號： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務所11038 | 代理人： | 張榮海 |
| 地址： | 美國密*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 具有 吞吐量 離子遷移率 | ||
1.一種離子遷移率譜儀，依次包括：
離子源，所述離子源充滿氣壓為1mBar～1Bar的氣體；
離子門，由前端蓋電極、之后的前網(wǎng)格和再之后的后網(wǎng)格形成，所述前網(wǎng)格和后網(wǎng)格都限定多個網(wǎng)格單元，每個網(wǎng)格單元的網(wǎng)格單元大小在0.1-1mm之間，所述前網(wǎng)格與所述后網(wǎng)格平行并且隔開與網(wǎng)格單元大小相當?shù)木嚯x以便累積離子；
連接在所述前網(wǎng)格與所述后網(wǎng)格之間的射頻RF發(fā)生器；
連接到所述前端蓋電極、所述前網(wǎng)格以及所述后網(wǎng)格的切換的或可調(diào)整的DC信號，用于利用通過間隔不均勻并且平均頻率等于或高于1kHz的重復脈沖串進行脈動或質(zhì)量相關離子噴射，來噴射離子；
充滿氣壓為1～30mBar的氣體的離子漂移空間，用于離子流的離子遷移率分離和空間聚焦；
正交加速器，具有用間隔不均勻并且平均頻率等于或高于100kHz的重復脈沖串編碼的脈動正交離子加速；以及
離子檢測器，用于在考慮到編碼的不均勻脈沖時間間隔的情況下解碼與離子遷移時間、離子質(zhì)量以及離子強度有關的信息以及解碼與對應于相同m/z核素的信號系列內(nèi)的強度分布有關的信息之前，檢測飛行時間信號。
2.按照權利要求1所述的離子遷移率譜儀，其中所述離子源的軸平行于所述網(wǎng)格地定向。
3.按照權利要求1和2中的一項所述的離子遷移率譜儀，還包括在所述離子源和所述離子門之間的至少一個RF離子導向器，并且其中所述RF離子導向器包括下述組中的一個：(i)離子漏斗；(ii)RF通道；和(iii)具有軸向場的多極離子導向器。
4.按照權利要求1和2中的一項所述的離子遷移率譜儀，其中所述離子源具有裂解裝置，和以色譜分離的時間尺度切換所述裂解的裝置。
5.按照權利要求1所述的離子遷移率譜儀，還包括：
兩組同軸電極，外電極和內(nèi)電極，其中在每組電極內(nèi)，借助電阻鏈連接所述電極，以便提供軸向DC梯度；
在至少一組電極內(nèi)，所述電極被連接到交替的射頻供給源，以便實現(xiàn)徑向離子排斥；以及
偏置所述兩組同軸電極之間的DC電位分布，以致形成徑向DC場，從而將離子推向RF屏障。
6.按照權利要求5所述的離子遷移率譜儀，還包括至少以下裝置中的至少一個離子輸送裝置：(i)同軸射頻離子導向器；(ii)在所述遷移率譜儀最前面的同軸射頻離子阱；(iii)具有軸向DC場的錐形離子導向器或離子漏斗；以及(iv)具有軸向DC場并且具有用于提供徑向DC排斥的一組內(nèi)部錐形電極的錐形同軸離子導向器；所述裝置位于所述遷移率譜儀的上游或下游。
7.按照權利要求1所述的離子遷移率譜儀，還包括具有分布式軸向DC場的射頻離子導向器的陣列，所述陣列被空間排列成二維平面陣列、或者同軸卷繞的二維陣列、或者包含多個平面層的三維陣列。
8.按照權利要求7所述的離子遷移率譜儀，其中所述陣列包含具有導電片段的印刷電路板，所述片段或者由深槽隔離，或者由抗靜電材料隔離。
9.一種離子遷移率譜分析方法，依次包括以下步驟：
在1mBar～1Bar的氣壓下工作的離子源內(nèi)，產(chǎn)生離子；
將離子引入由前端蓋電極、之后的與后網(wǎng)格平行隔開的前網(wǎng)格形成的離子門中，每個單獨的網(wǎng)格都限定多個網(wǎng)格單元，每個網(wǎng)格單元的網(wǎng)格單元大小在0.1-1mm之間；
在所述前網(wǎng)格與后網(wǎng)格之間形成局部RF場，同時利用DC場向著RF場區(qū)域吸引離子，所述DC場足夠小，從而避免離子穿透所述RF場的勢壘，這種方式導致離子局限在網(wǎng)格單元周圍的局部RF阱中；
借助所述RF場的區(qū)域中的DC場的脈動開關，推動離子穿過所述RF場，從而形成短離子包；
在1～30mBar的氣壓下，依據(jù)離子在靜電場內(nèi)的遷移率分離離子；
在分離離子的步驟之后對離子流進行空間聚焦；
用間隔不均勻并且平均頻率等于或高于100kHz的編碼的重復脈沖串對所述離子進行正交加速；
分析所述離子在多反射靜電場內(nèi)的飛行時間；以及
在考慮到編碼的不均勻脈沖時間間隔的情況下解碼與離子遷移時間、離子質(zhì)量以及離子強度有關的信息以及解碼與對應于相同m/z核素的信號系列內(nèi)的強度分布有關的信息之前，在檢測器上檢測飛行時間信號，
其中所述前網(wǎng)格與所述后網(wǎng)格隔開等于網(wǎng)格單元大小的距離。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于萊克公司，未經(jīng)萊克公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201380040768.5/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
