[發明專利]放射線圖像取得裝置

有效

• 申請號: 201380038705.6
• 申請日: 2013-06-18
• 公開（公告）號: CN104487868A
• 公開（公告）日: 2015-04-01
• 發明（設計）人: 杉山元胤;須山敏康
• 申請（專利權）人: 浜松光子學株式會社
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00;G01N23/04;G01T1/20
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 楊琦

技術領域

本發明涉及放射線圖像取得裝置。

背景技術

以往，如下述專利文獻1所記載，已有如下的裝置：將從X射線源發射并透過了攝像對象物的X射線照射于平板狀的閃爍器，由層疊在閃爍的兩面的固體光檢測器檢測出在閃爍器中發光的可視光(閃爍光)，將從各個固體光檢測器輸出的圖像信號重疊以取得放射線圖像。在該裝置中，使光檢測元件耦合于閃爍器中的X射線的入射面及其背面，在入射面側的光檢測元件與背面側的光檢測元件的各個中檢測出可視光，由此提高可視光的檢測效率。

另外，如下述專利文獻2所記載，已有如下的裝置：使用相互重疊的兩塊閃爍器和1塊檢測器，在檢測器的一個面檢測出從入射面側的閃爍器射出的閃爍光，在檢測器的另一個面中檢測出從相反側的閃爍器射出的閃爍光。在該裝置中，在檢測器的各個面，以兩種不同的波長形成圖像。

專利文獻

專利文獻1：日本特開平7-27866號公報

專利文獻2：日本特表2000-510729號公報

發明內容

發明所要解決的技術問題

然而，由于X射線源是點光源，因此，對象物有必要至少配置在X射線的照射區域。例如，成為攝像對象的對象物大并且要對該對象物的整體像進行攝像的情況下，有必要在更靠近閃爍器的位置配置對象物。通過使對象物接近閃爍器，從而能夠降低相對于閃爍器的投影放大率，能夠使對象物的整體像在閃爍器的范圍內。

本發明人銳意研究具備：將從閃爍器中的X射線的入射面射出的閃爍光聚光并攝像的第1攝像機構、以及將從入射面的相反側的面射出的閃爍光聚光并攝像的第2攝像機構的放射線圖像取得裝置。在這樣的放射線圖像取得裝置中，第1攝像機構即入射面側的攝像機構位于以閃爍器為基準與對象物相同的側。

如上所述，為了調整放大率，在使對象物接近閃爍器的情況下，對象物有時會進入入射面側的攝像機構的視野。如果對象物進入入射面側的攝像機構的視野，則例如會在圖像中產生對象物的“漸暈(vignetting)”。因此，期待能夠防止對象物進入入射面側的攝像機構的視野并且能夠以所期望的放大率取得圖像的放射線圖像取得裝置。

本發明的目的在于，提供一種能夠防止對象物進入入射面側的攝像機構的視野并且能夠以所期望的放大率取得圖像的放射線圖像取得裝置。

解決技術問題的手段

本發明的一個方面的放射線圖像取得裝置，其特征在于，具備：放射線源，其朝向對象物射出放射線；保持部，其保持對象物；波長變換構件，其根據從放射線源射出并透過了對象物的放射線的入射而產生閃爍光；第1攝像機構，其將從波長變換構件的放射線的入射面射出的閃爍光聚光并攝像；第2攝像機構，其將從波長變換構件的入射面的相反側的面射出的閃爍光聚光并攝像；保持部位置調整機構，其在放射線源與波長變換構件之間調整保持部的位置；以及攝像位置調整機構，其調整第1攝像機構的位置。

根據該放射線圖像取得裝置，通過第1攝像機構和第2攝像機構，從波長變換構件的放射線的入射面和其相反側的面射出的閃爍光分別被聚光并攝像。第1攝像機構是入射面側的攝像機構，第2攝像機構是入射面的相反側的攝像機構。通過利用保持部位置調整機構在放射線源與波長變換構件之間調整保持部的位置，從而能夠使對象物接近波長變換構件或者遠離波長變換構件。通過使對象物接近波長變換構件，能夠降低放大率。通過使對象物遠離波長變換構件而接近放射源，能夠提高放大率。此處，即使在使對象物接近波長變換構件的情況下，通過利用攝像位置調整機構來調整第1攝像機構的位置，也能夠防止對象物進入第1攝像機構的視野。因此，能夠防止對象物進入入射面側的攝像機構即第1攝像機構的視野，并且能夠以所期望的放大率取得圖像。

攝像位置調整機構以第1攝像機構的光軸與波長變換構件的入射面相交的點為旋轉中心，使第1攝像機構旋轉。根據該結構，即使第1攝像機構的位置被調整，從波長變換構件至第1攝像機構的光路長度也不會改變。因此，對圖像的修正變得容易。

攝像位置調整機構一邊保持第1攝像機構的光軸與波長變換構件的入射面所成的角度，一邊使第1攝像機構和所述波長變換構件旋轉。根據該結構，即使第1攝像機構的位置被調整，第1攝像機構的光軸與波長變換構件的入射面所成的角度也被恒定地保持，因此，對圖像的修正變得更加容易。另外，不必頻繁進行第1攝像機構中的校準，提高了便利性。