[發明專利]被檢物質的檢測系統

有效

• 申請號: 201380035326.1
• 申請日: 2013-07-02
• 公開（公告）號: CN104487845B
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發明（設計）人: 平瀨匠;中山雅人;半田宏;坂本聰;內藤靖之
• 申請（專利權）人: 凸版印刷株式會社;國立大學法人東京工業大學
• 主分類號: G01N33/543
• 分類號: G01N33/543;G01N21/64
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司72003
• 代理人: 崔香丹,李英艷

1.一種被檢物質的檢測系統，包括：

磁性體，是由第一物質修飾的磁性體，該第一物質能夠通過所述被檢物質的第一結合部位與所述被檢物質進行結合；

標識體，是由第二物質修飾的標識體，該第二物質能夠通過與所述第一結合部位不同部位的所述被檢物質的第二結合部位結合于所述被檢物質；

展開介質，包含具有透光性的第一薄片、具有透光性的第二薄片、以及流路，所述流路通過所述第一薄片和所述第二薄片中相互面向的平面構成、且具有通過毛細管現象吸引分散有所述磁性體和所述標識體的液體的間隔，并在所述流路的一部分中具有用于檢測所述標識體的檢測位置，而且，至少在所述檢測位置中具有透光性；以及

磁力發生部，設置于所述展開介質中并用于使所述磁性體保持在所述流路的一部分中。

2.如權利要求1所述的被檢物質的檢測系統，其中，

還具有檢測從所述流路內發出的光的檢測裝置。

3.如權利要求2所述的被檢物質的檢測系統，其中，

所述標識體具有色素。

4.如權利要求2所述的被檢物質的檢測系統，其中，

所述檢測裝置包括：發出含有指定波長的激發光的光源；向所述流路照射所述激發光的光路部件；去除所述激發光的濾波器；以及檢測透過所述濾波器的光的檢測部，

所述標識體被通過所述激發光發出熒光的熒光物質標識。

5.如權利要求1～4中任一項所述的被檢物質的檢測系統，其中，

所述第一物質選自于由抗體、片段化抗體、完全抗原、半抗原以及適體所組成的組中。

6.如權利要求1～4中任一項所述的被檢物質的檢測系統，其中，

所述第二物質選自于由抗體、片段化抗體、完全抗原、半抗原以及適體所組成的組中。

7.如權利要求5所述的被檢物質的檢測系統，其中，

所述第二物質選自于由抗體、片段化抗體、完全抗原、半抗原以及適體所組成的組中。

8.如權利要求1或2所述的被檢物質的檢測系統，其中，

所述標識體含有選自于比色物質、發光物質、酶發色物質以及氧化還原物質所組成的組中的標識物質。