[發明專利]改進的磁共振采集的方法和系統

有效

• 申請號: 201380034983.4
• 申請日: 2013-06-28
• 公開（公告）號: CN104412118B
• 公開（公告）日: 2017-03-29
• 發明（設計）人: M·韋恩謝斯
• 申請（專利權）人: 合成MR公司
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司11262
• 代理人: 周靖,鄭霞

1.一種磁共振成像的方法，其使用一體式梯度回波采集方式同時估計多個物理參數，所述方法包括：

獲取(401、405、411)至少三個并行的分段的梯度回波采集；

將所述分段的梯度回波采集與R₁敏化階段、R₂敏化階段和延遲時間交錯(403、407、409)；以及

從所述至少三個采集產生(415)對R₁和R₂弛豫速率和質子密度PD的測量。

2.如權利要求1所述的方法，其中所述至少三個采集被執行兩次，產生至少六個采集；將所述采集與至少兩個R₁敏化階段、R₂敏化階段、擴散敏化階段和延遲時間交錯；以及從所述至少六個采集中產生對R₁和R₂弛豫速率、PD和表觀擴散系數ADC的測量。

3.如權利要求1或2所述的方法，其中所述采集是擾相梯度采集。

4.如權利要求1或2所述的方法，其中所述采集是平衡穩定態自由進動采集bSSFP。

5.如權利要求1或2所述的方法，其中所述采集是回波平面成像采集EPI。

6.如權利要求1-5中的任一項所述的方法，其中在二維2D切片上執行所述采集。

7.如權利要求1-5中的任一項所述的方法，其中在三維3D體積上執行所述采集。

8.如權利要求1-7中的任一項所述的方法，其中所述R₁敏化階段包括90度RF飽和脈沖。

9.如權利要求1-7中的任一項所述的方法，其中所述R₁敏化階段包括180度RF反向脈沖。

10.如權利要求1-9中的任一項所述的方法，其中所述R₂敏化階段包括90度RF脈沖、180度再聚焦脈沖和-90度RF脈沖。

11.如權利要求1-9中的任一項所述的方法，其中所述R₂敏化階段包括90度RF脈沖、多個180度再聚焦脈沖和-90度RF脈沖。

12.如權利要求2-11中的任一項所述的方法，其中所述擴散敏化階段包括90度RF脈沖、180度再聚焦脈沖和-90度RF脈沖；并且所述180度再聚焦脈沖被梯度跨越。

13.如權利要求1-12中的任一項所述的方法，其中使用在所述R₁敏化階段之后的所有采集的圖像信號強度來估計R₁弛豫速率。

14.如權利要求1-13中的任一項所述的方法，其中使用在所述R₂敏化階段之前和之后的采集的圖像信號強度來估計R₂弛豫速率。

15.如權利要求1-14中的任一項所述的方法，其中使用在所述R₁敏化階段之前和之后的采集的圖像信號強度來估計用于獲取所述采集的掃描器的B₁場。

16.如權利要求2-15中的任一項所述的方法，其中使用在所述擴散敏化階段之前和之后的以及在所述R₂敏化階段之前和之后的采集的圖像信號強度來估計所述ADC。

17.一種磁共振成像設備(100)，其用于使用一體式梯度回波采集方式同時估計多個物理參數，所述設備被配置成：

獲取至少三個并行的、分段的梯度回波采集；以及

將所述分段的梯度回波采集與R₁敏化階段、R₂敏化階段和延遲時間交錯。

18.如權利要求17所述的設備，其中所述設備還配置成從所述至少三個采集產生對R₁和R₂弛豫速率和質子密度PD的測量。

19.如權利要求17或18所述的設備，其中所述設備被配置成兩次執行所述至少三個采集，從而產生至少六個采集；并且將所述采集與至少兩個R₁敏化階段、R₂敏化階段、擴散敏化階段和延遲時間交錯。