[發明專利]檢查牙齒位置的方法有效
| 申請號: | 201380033730.5 | 申請日: | 2013-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN104379083A | 公開(公告)日: | 2015-02-25 |
| 發明(設計)人: | S.旺德拉克;K.林登貝格 | 申請(專利權)人: | 西諾德牙科設備有限公司 |
| 主分類號: | A61C9/00 | 分類號: | A61C9/00;A61C7/00 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 朱君;劉春元 |
| 地址: | 德國本*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢查 牙齒 位置 方法 | ||
1.?一種檢查牙齒位置的方法,其中實施待檢查牙齒(2,?3,?4)的初始三維體積暴露(1),其中基于所述初始體積暴露(1)來測定待檢查牙齒(2,?3,?4)的位置和方向,其中所述待檢查牙齒為由牙殘樁(6,?7,?8)和牙根(9,?10,?11)構成的自然牙齒(2,?3,?4)和/或由人造牙殘樁和植入物構成的人造牙齒,其中測定所述牙殘樁(6,?7,?8)相對于所述牙根(9,?10,?11)和/或相對于所述植入物的所述位置關系和方向,具體地講,其特征在于:要在較長時間周期內以定期時間間隔檢查所述牙齒位置,需在隨后實施所述牙齒(2,?3,?4)的至少一個第一光學表面監測暴露(25),其中使用所述位置關系由此測定的所述牙根(9,?10,?11)和/或所述植入物相對于彼此和/或相對于顎骨(5)的所述位置和方向基于來自所述光學表面監測暴露(25)的所述牙殘樁(6,?7,?8)的所述表面(13,?14,?15)的位置進行測定;其中所述位置關系在計算機輔助過程中自動測定;其中包括所述牙殘樁(6,?7,?8)、所述牙根(9,?10,?11)和/或所述植入物的所述牙齒(2,?3,?4)使用分段法自動對準,并且所述位置關系隨后在計算機輔助過程中自動測定;其中旋轉和/或移位所述分段牙齒(2,?3,?4)的3D模型,直到這些3D模型的所述牙殘樁(6,?7,?8)的所述表面(13,?14,?15)與來自所述光學表面監測暴露(25)的所述牙殘樁(6,?7,?8)的所述表面重合。
2.?根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述牙殘樁(6,?7,?8)的所述表面(13,?14,?15)和所述牙根和/或所述植入物的所述位置基于所述初始三維體積暴露(1)測定,其中所述位置關系僅基于所述體積暴露(1)測定。
3.?根據權利要求1所述的方法,其特征在于,除了所述初始體積暴露(1)之外,實施所述待檢查牙齒(2,?3,?4)的初始光學表面暴露(16)以測定所述位置關系,其中所述牙根(9,?10,?11)和/或所述植入物(2,?3,?4)的所述位置之間的所述位置關系根據所述初始體積暴露(1)測定,并且所述牙殘樁(6,?7,?8)的所述表面(13,?14,?15)根據所述初始光學表面暴露(16)測定。
4.?根據權利要求3所述的方法,其特征在于,在初始檢查期間在最多4個小時的時間周期內實施所述初始體積采集(1)和所述初始光學表面采集(16)。
5.?根據權利要求1至4中任一項所述的方法,其特征在于,所述初始三維體積采集為三維CT?x射線采集(1)。
6.?根據權利要求1至4中任一項所述的方法,其特征在于,所述初始三維體積采集為三維MRT采集。
7.?根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其特征在于,使用帶投影法通過光學測量設備(12)來實施所述光學表面監測采集(25)。
8.?根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其特征在于,通過使用所述牙齒(2,?3,?4)的數字化壓痕來形成所述光學監測暴露(25)。
9.?根據權利要求1至8中任一項所述的方法,其特征在于,對于所述檢查而言,實施所述待檢查牙齒(2,?3,?4)的另外的光學表面監測采集(25),然后從所述牙殘樁(6,?7,?8)的所述表面(13,?14,?15)的位置開始,根據所述光學表面監測暴露(25)測定所述牙根(9,?10,?11)和/或所述植入物相對于彼此和/或相對于顎骨(5)的所述位置和方向。
10.?根據權利要求1至9中任一項所述的方法,其特征在于,使用顯示設備(17),相對于彼此和/或相對于來自所述初始體積暴露(1)的所述顎骨(5)來以圖形方式呈現基于來自所述光學表面監測暴露(25)的所述牙殘樁(6,?7,?8)的所述表面(13,?14,?15)測定的所述牙根(9,?10,?11)和/或植入物。
11.?根據權利要求1至10中任一項所述的方法,其特征在于,來自所述初始三維體積暴露(1)和/或所述初始光學表面暴露(16)的所述已對準牙殘樁(6,?7,?8)的所述表面(13,?14,?15)存儲在數據存儲器中,并且使用圖案識別算法針對所述牙殘樁(6,?7,?8)的這些已對準表面(13,?14,?15)自動搜索所述光學表面監測暴露(25),其中隨后在計算機輔助過程中自動測定所述牙殘樁(6,?7,?8)相對于彼此和/或相對于顎骨(5)的所述位置和方向。
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