[發(fā)明專利]用于探測微粒的傳感器的功能檢驗(yàn)的方法和用于探測微粒的傳感器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380032804.3
• 申請日: 2013-06-12
• 公開（公告）號: CN104641216B
• 公開（公告）日: 2018-12-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: B·格特納;M·克倫克;K·赫韋格;M·貝森
• 申請（專利權(quán)）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06;F01N11/00;F02D41/00
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002
• 代理人: 郭毅

1.一種用于探測微粒的傳感器(10)的功能檢驗(yàn)的方法，其中，所述傳感器(10)包括至少兩個測量電極(20)和一個加熱元件(14)，所述至少兩個測量電極設(shè)置在由電絕緣材料構(gòu)成的襯底(18)上，其中，所述方法包括以下步驟：

在第一溫度(42)時實(shí)施第一電流電壓測量以求取第一測量參量；

在第二溫度(60)時實(shí)施第二電流電壓測量以求取第二測量參量；

形成所述第一測量參量和所述第二測量參量的差，

其中，基于所述差推斷出所述傳感器(10)的功能性。

2.根據(jù)以上權(quán)利要求所述的方法，其中，僅僅如果所述第一測量參量低于一個閾值，才實(shí)施所述第二電流電壓測量。

3.根據(jù)以上權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其中，所述第二溫度(60)低于所述第一溫度(42)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述第二溫度(60)比所述第一溫度(42)低80℃至220℃。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述第二溫度(60)比所述第一溫度(42)低100℃至200℃。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述第二溫度(60)比所述第一溫度(42)低120℃至180℃。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在時間上在所述第一電流電壓測量之后實(shí)施所述第二電流電壓測量。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在時間上在所述第一電流電壓測量之后1.0s至20.0s實(shí)施所述第二電流電壓測量。

9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在時間上在所述第一電流電壓測量之后1.0s至15s實(shí)施所述第二電流電壓測量。

10.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在時間上在所述第一電流電壓測量之后1.0至12s實(shí)施所述第二電流電壓測量。

11.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在100ms至500ms的時間段上實(shí)施所述第一電流電壓測量和/或所述第二電流電壓測量。

12.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在200ms至400ms的時間段上實(shí)施所述第一電流電壓測量和/或所述第二電流電壓測量。

13.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在250ms至350ms的時間段上實(shí)施所述第一電流電壓測量和/或所述第二電流電壓測量。

14.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，確定所述第一測量參量和所述第二測量參量之間的差0.10μΑ至0.60μΑ作為用于確定所述傳感器(10)的功能能力的閾值。

15.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，確定所述第一測量參量和所述第二測量參量之間的差0.15μΑ至0.35μΑ作為用于確定所述傳感器(10)的功能能力的閾值。

16.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，確定所述第一測量參量和所述第二測量參量之間的差0.20μΑ至0.30μΑ作為用于確定所述傳感器(10)的功能能力的閾值。

17.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在20s至80s的時間段上保持所述第一溫度(42)基本恒定，其中，在所述時間段的結(jié)束時測量所述第一電流電壓測量。

18.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在30s至60s的時間段上保持所述第一溫度(42)基本恒定，其中，在所述時間段的結(jié)束時測量所述第一電流電壓測量。