[發明專利]用于通過微波傳輸測量來測量樣本的介電和/或磁性特性的裝置

有效

• 申請號: 201380032115.2
• 申請日: 2013-05-16
• 公開（公告）號: CN104487827B
• 公開（公告）日: 2017-11-17
• 發明（設計）人: A·克萊因
• 申請（專利權）人: E·卡茨
• 主分類號: G01N22/00
• 分類號: G01N22/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 呂俊剛,劉久亮

1.一種用于通過微波傳輸測量來測量樣本(P)的介電和/或磁性特性的裝置，所述裝置包括：

發射天線(10)和接收天線(20)，其限定傳輸測量段，在該傳輸測量段中能夠放置待測的所述樣本(P)；

至少一個發射側合成器(11，12，14)，其用于產生具有在800MHz到30GHz之間的頻率的高頻信號(F1，F2)；

頻率標準(32)，其經由發射側低頻同步信號線(34a)連接到發射側合成器(11，12，14)，發射側合成器(12，14)可重現地鎖相地耦合到所述頻率標準(32)；以及

評估單元，其至少間接地連接到發射側合成器(11，12，14)以及所述接收天線(20)，其特征在于，

另外設置至少一個接收側合成器(22，23，24)，所述至少一個接收側合成器(22，23，24)通過接收側低頻同步信號線(34b)連接到所述頻率標準(32)，并且可重現地鎖相地耦合到所述頻率標準(32)，并且至少間接地連接到所述評估單元，

其中，所述裝置包括多于一個發射側合成器或多于一個接收側合成器，并且其中，一個發射側合成器和一個接收側合成器產生同一高頻。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，

所述裝置包括兩個發射側合成器(12，14)，所述兩個發射側合成器(12，14)的高頻信號(F1，F2)被供應給發射側混頻器(16)，該發射側混頻器(16)的、在這兩個高頻信號的基礎上產生的中頻信號(lF1)被供應給所述評估單元，并且

由所述接收天線(20)接收的高頻信號(F1')以及由接收側合成器(22)產生的高頻信號被供應給接收側混頻器(26)，接收側混頻器(26)的、從這兩個高頻信號產生的中頻信號(lF2)被供應給所述評估單元，其中，

第一發射側合成器(12)的高頻信號被另外饋送到所述發射天線，并且

第二發射側合成器(14)和接收側合成器(22)產生所述同一高頻，并且其中，由所述第一發射側合成器(12)產生的高頻與該同一高頻不同。

3.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，

設置兩個接收側合成器(23，24)，所述兩個接收側合成器(23，24)的高頻信號(F2，F3)被供應給第一接收側混頻器(27)，所述第一接收側混頻器(27)的、從這兩個高頻信號產生的中頻信號(lF1)被供應給所述評估單元，并且

由所述接收天線(20)接收的高頻信號(F1’)以及由第一接收側合成器(23)產生的高頻信號被供應給第二接收側混頻器(28)，所述第二接收側混頻器(28)的、由這兩個高頻信號產生的中頻信號(IF2)被供應給所述評估單元，其中，

來自發射側合成器(11)的高頻信號被供應給所述發射天線，并且

發射側合成器(11)以及第二接收側合成器(24)產生所述同一高頻，并且所述第一接收側合成器(23)產生與該同一高頻不同的高頻。

4.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，

設置發射側合成器(11)和接收側合成器(22)，其中，來自這兩個合成器的高頻信號的頻率是不同的，并且所述頻率標準(32)經由附加的低頻同步信號線(34)連接到所述評估單元，其中，所述頻率標準的頻率表示這兩個高頻信號的頻率之間的差異。

5.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，

設置發射側合成器(11)和接收側合成器(22)，其中，來自這兩個合成器的高頻信號的頻率是不同的，并且頻率轉換器經由附加的低頻同步信號線(34c)而可重現地鎖相地耦合到所述頻率標準(32)，所述頻率轉換器還連接到所述評估單元，其中，所述頻率轉換器產生參考信號(RF)，該參考信號(RF)的頻率表示這兩個高頻信號的頻率之間的差異。

6.根據前述權利要求中的任一項所述的裝置，其特征在于，

所述測量段與傳送機相交，具體地與傳送帶(60)相交，或者所述測量段位于容器或管(65)內。