[發(fā)明專(zhuān)利]漏電檢測(cè)裝置及漏電檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380030909.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-06-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104412116B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-10-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 辻本浩章 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 公立大學(xué)法人大阪市立大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/02 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/02;G01R15/20;G01R33/09;H01H83/02 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所11256 | 代理人: | 陳偉 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 漏電 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及檢測(cè)漏電的漏電檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
漏電是指電流流至除從電源向負(fù)載連接的電線(xiàn)之外的部分的情況。在實(shí)際中,根據(jù)從電源流向負(fù)載的電流與從負(fù)載流回電源的電流產(chǎn)生不同的情況來(lái)檢測(cè)漏電。在以往的漏電檢測(cè)裝置中提出了一種裝置,其使從電源與負(fù)載連通的2根電線(xiàn)從環(huán)狀的磁性體的孔穿過(guò),并檢測(cè)磁性體的阻抗(impedance)的變化(專(zhuān)利文獻(xiàn)1)。
在圖24中說(shuō)明該漏電檢測(cè)裝置100的概要。漏電檢測(cè)裝置100 由環(huán)狀的磁性體101、粘貼在磁性體101上的磁阻元件102、和檢測(cè)阻抗的變化的檢測(cè)器103構(gòu)成。環(huán)狀的磁性體101使從電源115向著負(fù)載116的一對(duì)電線(xiàn)110、111(設(shè)為電線(xiàn)A以及電線(xiàn)B)均從孔 104的部分穿過(guò)。
磁阻元件102使用電阻因磁場(chǎng)而變化的磁阻元件。磁阻元件配置在環(huán)狀的磁性體101所生成的磁場(chǎng)中。例如,能夠例舉將環(huán)狀的磁性體101的一部分削除來(lái)形成間隙并將上述磁阻元件配置在該間隙內(nèi)的結(jié)構(gòu)。當(dāng)然也可以為除此之外的方法。
檢測(cè)器103只要是能夠檢測(cè)磁阻元件的電阻變化的機(jī)構(gòu)即可,在使電阻變化轉(zhuǎn)換為規(guī)定頻率的信號(hào)、或在通過(guò)濾波電路以及放大電路進(jìn)行波形整形之后,由信號(hào)檢測(cè)電路輸出并轉(zhuǎn)換為主力信號(hào)。
若說(shuō)明該漏電檢測(cè)裝置100的動(dòng)作,則只要沒(méi)有漏電,在電線(xiàn) A110中流動(dòng)的電流與在電線(xiàn)B111中流動(dòng)的電流為相同量,另外,因?yàn)檫@些電流的方向是相反的,所以在環(huán)狀的磁性體101中不產(chǎn)生磁通。因此,此時(shí)磁阻元件102的電阻不發(fā)生變化。另一方面,若發(fā)生了漏電,則在電線(xiàn)A110中流動(dòng)的電流值與在電線(xiàn)B111中流動(dòng)的電流值會(huì)產(chǎn)生不同,因此,在環(huán)狀的磁性體101中產(chǎn)生磁通。
磁阻元件102的阻抗因該產(chǎn)生的磁通而變化,因此,由檢測(cè)器 103檢測(cè)阻抗變化,而檢測(cè)漏電的發(fā)生。
在先技術(shù)文獻(xiàn)
專(zhuān)利文獻(xiàn)
專(zhuān)利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)平10-232259號(hào)公報(bào)
專(zhuān)利文獻(xiàn)1的漏電檢測(cè)裝置是簡(jiǎn)便的,另外還能夠?qū)崿F(xiàn)某種程度的小型化。但是,由于使用環(huán)狀的磁性體,所以其小型化必要會(huì)被限制。另外,因?yàn)樾枰箒?lái)自電源的電線(xiàn)A以及電線(xiàn)B從環(huán)狀的孔穿過(guò),所以在電線(xiàn)變粗的情況下,環(huán)狀的磁性體101自身也會(huì)變大。另外,難以相對(duì)于已經(jīng)配置的電線(xiàn)來(lái)配置環(huán)狀的磁性體101。而且,需要花費(fèi)工時(shí),例如,能夠如鉗型電流表那樣地將環(huán)狀磁性體的一部分開(kāi)放,并使電線(xiàn)從開(kāi)放部分進(jìn)入至孔中,并再次復(fù)原以使環(huán)狀磁性體形成磁通的閉路。
另外,在為了小型化而使電路基板自身集成化之中,在來(lái)自電源的電源線(xiàn)圖案共同具有雙線(xiàn)時(shí)不得不用磁性體包圍,因此,隨后的安裝是極其困難的。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于上述那樣的課題而想到的,而提供一種漏電檢測(cè)裝置,其即使在已經(jīng)進(jìn)行了配線(xiàn)的電路中,也能夠隨后容易地設(shè)置,另外,也能夠小型化。更具體地,本發(fā)明的漏電檢測(cè)裝置設(shè)置在將電源與負(fù)載連接的一對(duì)電源線(xiàn)上,其特征在于,具有:
分別保持一對(duì)所述電源線(xiàn)的一對(duì)保持機(jī)構(gòu);
將一對(duì)所述保持機(jī)構(gòu)彼此以規(guī)定間隔固定的固定機(jī)構(gòu);
與所述電源線(xiàn)平行地分別配置在所述保持機(jī)構(gòu)上的一對(duì)磁性元件;
檢測(cè)一對(duì)所述磁性元件彼此的磁阻效應(yīng)之差的檢測(cè)機(jī)構(gòu);和
使驅(qū)動(dòng)電流流向所述磁性元件的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)。
發(fā)明效果
本發(fā)明的漏電檢測(cè)裝置能夠發(fā)揮非接觸(原理)、容易設(shè)置(超小型、薄型)、節(jié)能(計(jì)測(cè)時(shí)的能量消耗小)的這些磁阻元件的優(yōu)點(diǎn),并即使在已經(jīng)進(jìn)行了配線(xiàn)的電路中,也能夠容易地安裝。另外,通過(guò)將磁阻元件相對(duì)于電線(xiàn)A以及電線(xiàn)B的配置位置固定,而能夠?qū)?lái)自相鄰電線(xiàn)的磁場(chǎng)的影響抑制為充分小,并能夠進(jìn)行穩(wěn)定的漏電檢測(cè)。另外,通過(guò)在磁阻元件上設(shè)置偏置(bias)機(jī)構(gòu),也能夠進(jìn)行功率測(cè)定和電流測(cè)定。
附圖說(shuō)明
圖1是表示本發(fā)明的漏電檢測(cè)裝置的構(gòu)成的圖。
圖2是磁性元件的放大圖。
圖3是說(shuō)明磁性元件的動(dòng)作的圖。
圖4是表示施加了條形的導(dǎo)體圖案的磁性元件(條紋柱型(barber pole type))的圖。
圖5是說(shuō)明由磁性元件進(jìn)行功率計(jì)測(cè)的情況的原理圖。
圖6表示在與本發(fā)明的漏電檢測(cè)裝置的電源線(xiàn)成直角的面上的剖視圖。
圖7是表示本發(fā)明的漏電檢測(cè)裝置的接線(xiàn)圖(電源獨(dú)立的情況)。
圖8是表示本發(fā)明的漏電檢測(cè)裝置的接線(xiàn)圖(電源寄生的情況)。
圖9是表示本發(fā)明的能夠進(jìn)行功率計(jì)測(cè)和電流計(jì)測(cè)的漏電檢測(cè)裝置的接線(xiàn)圖。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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