[發明專利]用于接收器質量測試測量的方法和設備有效
| 申請號: | 201380030417.6 | 申請日: | 2013-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN104380631B | 公開(公告)日: | 2016-11-30 |
| 發明(設計)人: | 托斯滕·卡爾松;托吉爾·斯文松 | 申請(專利權)人: | 意法愛立信有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/29 | 分類號: | H04B17/29;H04B17/336 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華;何月華 |
| 地址: | 瑞士普朗*** | 國省代碼: | 瑞士;CH |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 接收器 質量 測試 測量 方法 設備 | ||
1.一種測量接收器的質量的方法,所述接收器具有輸入端、解碼器和輸出端,所述方法包括:
向所述輸入端提供(202、204)測試信號,所述測試信號代表通過所述接收器處理的通信信號;
在所述解碼器之前采樣(206)通過所述接收器的頻率相關部件從所述測試信號生成的信號,從而形成采樣信號;和
基于所述采樣信號的質量生成(208、210、212、214)所述接收器的質量的估值,其中,所述采樣信號的質量代表在所述接收器的所述輸出端的接收信號的質量。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述接收器的質量包括誤碼率或吞吐量,且所述測試信號是已知信號并包括為生成所述接收器的質量的估值選擇的調制。
3.根據權利要求1所述的方法,其中,生成所述估值包括將所述采樣信號與參考信號比較,所述參考信號表示在通過標準的頻率相關部件處理后提供給所述輸入端且在所述解碼器之前被采樣的所述測試信號,所述接收器的質量的所述估值基于所述采樣信號和所述參考信號之間的差異。
4.根據權利要求3所述的方法,其中,生成所述接收器的質量的所述估值,使得經由所述接收器的無線電頻率相關的部分的所述測試信號的線性失真被衰減。
5.根據權利要求3所述的方法,其中,所述接收器的質量的所述估值基于所述采樣信號和所述參考信號之間的差異的函數,所述函數包括誤差矢量調制(EVM)函數;以及生成所述估值包括:
通過至少以下多個形成(208)校正的采樣信號:
估計所述采樣信號中的頻率誤差;
估計所述采樣信號中的直流(DC)偏移;
估計所述采樣信號和所述參考信號之間的規模差異;以及
校正所述頻率誤差和所述DC偏移;
以及
確定(210、212)所述校正的采樣信號和所述參考信號之間的時間偏移,其中,確定所述時間偏移包括滑動所述校正的采樣信號相對于所述參考信號的時間相關;以及
計算EVM值作為所述估值。
6.根據權利要求5所述的方法,還包括:估計對應所述接收器的所述頻率相關部分的線性失真;以及在計算所述EVM值之前衰減所述線性失真。
7.根據權利要求5或6所述的方法,其中,所述測試信號是重復信號,且基于最大似然估計和所述測試信號的重復長度估計所述頻率誤差。
8.根據權利要求5或6所述的方法,其中,估計所述DC偏移包括平均化所述采樣信號或者將所述DC偏移設置成所述參考信號的DC偏移。
9.根據權利要求5或6所述的方法,其中,基于非三角函數校正所述頻率誤差。
10.根據權利要求5或6所述的方法,其中,估計所述頻率誤差和估計所述DC偏移組合執行。
11.根據權利要求5或6所述的方法,其中,滑動所述時間相關包括通過對所述參考信號或所述校正的采樣信號的過采樣和內插的至少一者,確定所述校正的采樣信號和所述參考信號之間的所述相關的峰值。
12.根據權利要求11所述的方法,其中,滑動所述時間相關包括對所述校正的采樣信號和所述參考信號進行傅里葉變換、共軛傅里葉變換的信號之一、將所述傅里葉變換的信號和共軛的傅里葉變換的信號相乘以及對乘積進行反向傅里葉變換。
13.根據權利要求11所述的方法,還包括:在滑動所述時間相關前,下采樣所述校正的采樣信號和所述參考信號,其中,下采樣包括低通濾波所述校正的采樣信號和所述參考信號;以及在滑動下采樣的校正的采樣信號和下采樣的參考信號的時間相關后,逐步上采樣所述下采樣的校正的采樣信號和所述下采樣的參考信號并針對每一步在相關峰周圍滑動上采樣的信號的時間相關,從而確定所述校正的采樣信號和所述參考信號之間的時間偏移。
14.根據權利要求11所述的方法,其中,所述相關的所述峰值基于所述校正的采樣信號的樣本和所述參考信號的樣本之間的數據點,根據基于所述樣本的相關值的函數確定。
15.根據權利要求5或6所述的方法,還包括內插所述參考信號的值或者所述校正的采樣信號的值,以匹配所需的時間偏移。
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