[發明專利]X射線CT成像器的運動層分解校準

有效

• 申請號: 201380029896.X
• 申請日: 2013-05-16
• 公開（公告）號: CN104334081B
• 公開（公告）日: 2018-04-10
• 發明（設計）人: J·布雷多諾;E·S·漢西斯
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;G06T11/00;A61B6/03
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司72002
• 代理人: 王英,劉炳勝

1.一種X射線計算機斷層攝影系統(14)，包括：

機架(15)，其運動到不同取向并且生成包括處于多個所述取向的圖像投影數據的X射線數據；

連接到所述機架的多個元件(18)，所述多個元件引起所生成的投影數據的X射線衰減，并且所述多個元件包括X射線源(2)、X射線濾波器(4)、快門/準直器(6)、X射線探測器(8)、以及防散射光柵(10)；

一個或多個處理器(28)，其被編程為：

接收(60)所生成的X射線數據；

將接收到的圖像投影數據分解(62)為對處于所述機架的不同取向的所述多個元件中的至少兩個相對于理想中心的位置的指示。

2.根據權利要求1所述的系統(14)，其中，所述一個或多個處理器還被編程為：

接收(60)X射線數據，所述X射線數據包括對象圖像投影數據并且對應于所述多個取向；

基于處于每個取向的所述元件中的至少兩個相對于理想中心的所述位置，利用測量到的衰減的對應的校正，來校正(64)來自每個取向的所述對象圖像投影數據；

將經校正的對象圖像投影數據重建(66)為3D圖像表示。

3.根據權利要求1和2中的任一項所述的系統(14)，其中，所生成的X射線數據包括可歸因于所成像的對象的衰減的測量結果和可歸因于所述元件的衰減的測量結果，并且可歸因于所述元件的衰減的所述測量結果隨所述機架的所述取向而改變。

4.根據權利要求1-2中的任一項所述的系統(14)，還包括：

至少一個傳感器(36)，其測量所述元件中的任一個的運動，并且所生成的X射線數據包括測量到的運動。

5.根據權利要求1-2中的任一項所述的系統(14)，其中，所述處理器還被編程為：

生成對應于所述元件中的至少兩個相對于理想中心的位置的一系列校正疊加，并且所述疊加的對準隨所述元件中的至少兩個相對于理想中心的所述位置的改變而移位。

6.根據權利要求1-2中的任一項所述的系統(14)，還包括：

測量單元(37)，其接收來自多個傳感器的測量結果，并且基于接收到的測量結果來計算處于不同機架取向的所述元件中的至少兩個相對于理想中心的所述位置。

7.根據權利要求1-2中的任一項所述的系統(14)，還包括：

參考單元(39)，其按機架取向針對每個元件保存以下中的至少一個：

針對每個元件的空氣投影圖像；

針對每個元件的幾何校準信息；以及

由所述元件的設計信息、溫度、系統磨損指標及時間造成的每個元件的相對位移。

8.根據權利要求1-2中的任一項所述的系統(14)，還包括：

校正單元(38)，其根據處于每個機架取向的所述元件的所分解的位置來執行對測量到的衰減的校正。

9.一種X射線計算機斷層攝影校準的方法，包括：

接收(60)X射線數據，所述X射線數據包括來自繞成像區域的多個機架取向中的每個的圖像投影數據；

對接收到的圖像投影數據進行分解(62)，以提取處于一個或多個機架取向的多個元件中的至少兩個相對于理想中心的位置，所述元件中的每個引起接收到的圖像投影數據中可歸因于所述元件的X射線衰減，并且所述多個元件包括X射線源(2)、X射線濾波器(4)、快門/準直器(6)、X射線探測器(8)、以及防散射光柵(10)；并且

基于所述多個元件中的至少兩個相對于理想中心的所述位置來生成(74)對測量到的衰減的校正。

10.根據權利要求9所述的方法，還包括：

接收(66)對象X射線數據，所述對象X射線數據包括來自不同機架取向的對象圖像投影數據；

基于所述元件中的至少兩個相對于理想中心的所述位置，利用對應的校正來校正(74)處于每個取向的所述對象圖像投影數據；

將經校正的對象圖像投影數據重建(76)為3D圖像表示。