[發(fā)明專利]設(shè)備斷開檢測

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380028293.8
• 申請日: 2013-06-27
• 公開（公告）號: CN104350481B
• 公開（公告）日: 2017-09-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: H·陳;K·H·張
• 申請（專利權(quán)）人: 英特爾公司
• 主分類號: G06F13/14
• 分類號: G06F13/14;G06F13/38
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司72002
• 代理人: 劉瑜,王英

技術(shù)領(lǐng)域

在本文中公開的方法和系統(tǒng)涉及輸入/輸出(IO)信令協(xié)議。更加具體地，公開了用于通用串行總線2.0(USB2)的低電壓、低功率解決方案。

背景技術(shù)

USB是被設(shè)計(jì)用于使在計(jì)算機(jī)設(shè)備之間的接口標(biāo)準(zhǔn)化，以用于進(jìn)行通信和供應(yīng)電力的行業(yè)協(xié)議。USB2協(xié)議在幾乎每臺計(jì)算設(shè)備都中得到了廣泛應(yīng)用，并且利用已為大家接受的知識產(chǎn)權(quán)(IP)組合和標(biāo)準(zhǔn)化的軟件基礎(chǔ)設(shè)施在技術(shù)發(fā)展方面獲得了巨大支持。

標(biāo)準(zhǔn)USB2規(guī)范使用3.3伏特的模擬信令用于兩個USB2端口之間的通信。3.3伏特的信號強(qiáng)度傾向于引入集成挑戰(zhàn)，這是因?yàn)橐恍┣把氐陌雽?dǎo)體工藝正朝著非常低的幾何形狀發(fā)展，導(dǎo)致CMOS晶體管的柵極氧化層不再能夠承受更高的電壓，例如3.3伏特。此外，標(biāo)準(zhǔn)USB2規(guī)范在空閑和活動狀態(tài)下均導(dǎo)致較高的功耗水平。結(jié)果，USB2可能不適用于在I/O功耗方面設(shè)置了嚴(yán)格規(guī)范的設(shè)備，例如移動平臺。

發(fā)明內(nèi)容

按照本發(fā)明的一個方面，提供一種用于操作通用串行總線的方法，包括：在低速或全速LS/FS模式下，在信號線對上將分組數(shù)據(jù)從USB2(通用串行總線2.0)主機(jī)發(fā)送到USB2設(shè)備，并且在發(fā)送所述分組數(shù)據(jù)之后，將分組結(jié)束(EOP)信號從所述USB2主機(jī)發(fā)送到所述USB2設(shè)備；在發(fā)送所述EOP信號之后，使所述USB2設(shè)備進(jìn)入到LS/FS空閑狀態(tài)中；以及，在LS/FS空閑狀態(tài)期間，將數(shù)字互聯(lián)網(wǎng)分組探測從所述USB2設(shè)備發(fā)送到所述USB2主機(jī)，用于指示設(shè)備存在，其中所述USB2設(shè)備維持所述LS/FS空閑狀態(tài)而不需要設(shè)備上拉電阻器。

按照本發(fā)明的另一個方面，提供一種USB2主機(jī)，包括：主機(jī)端口，其包括用于在低速或全速LS/FS模式下在信號線對上向USB2(通用串行總線2.0)設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)并且從USB2設(shè)備接收數(shù)據(jù)的物理層，所述主機(jī)端口用于：在低速或全速LS/FS模式下傳輸分組數(shù)據(jù)之后，向所述設(shè)備發(fā)送分組結(jié)束(EOP)信號，其中，所述EOP信號使所述設(shè)備的端口進(jìn)入LS/FS空閑狀態(tài)，其中所述USB2設(shè)備維持所述LS/FS空閑狀態(tài)而不需要設(shè)備上拉電阻器；以及在所述LS/FS空閑狀態(tài)期間，從所述設(shè)備接收數(shù)字互聯(lián)網(wǎng)分組探測，用于確定所述設(shè)備的存在。

按照本發(fā)明的再一個方面，提供一種USB2設(shè)備，包括：設(shè)備端口，其包括物理層，用于在第一信號線和第二信號線上驅(qū)動信號，用于與USB2(通用串行總線2.0)主機(jī)進(jìn)行通信；其中，在進(jìn)入低速或全速LS/FS空閑狀態(tài)時，所述設(shè)備端口在所述第一信號線和第二信號線中的一條信號線上向所述USB2主機(jī)發(fā)送數(shù)字互聯(lián)網(wǎng)分組探測，用于指示設(shè)備存在，其中所述USB2設(shè)備維持所述LS/FS空閑狀態(tài)而不需要設(shè)備上拉電阻器。

附圖說明

圖1是根據(jù)實(shí)施例的通用串行總線架構(gòu)的框圖；

圖2是具有高速(HS)、低速(LS)和全速(FS)能力的通用串行總線物理層的框圖；

圖3是具有低速或全速能力的eUSB2物理層的框圖；

圖4是在低速或全速模式下使用的SYNC模式的時序圖；

圖5是在低速或全速模式下的分組結(jié)束(EOP)模式的時序圖；

圖6A和圖6B是示出了eUSB2信號時序的示例的時序圖；

圖7是低速保活信號的時序圖；

圖8是用于在L0期間全速或低速操作的設(shè)備斷開檢測技術(shù)的時序圖；

圖9是用于在L0狀態(tài)期間高速模式的設(shè)備斷開檢測技術(shù)的時序圖；

圖10是示出了設(shè)備連接檢測技術(shù)的示例的時序圖；以及

圖11是示出了設(shè)備在其中宣告了高速能力的設(shè)備連接檢測方案的示例的時序圖。

具體實(shí)施方式