[發(fā)明專利]清洗用液態(tài)組合物、半導(dǎo)體元件的清洗方法、以及半導(dǎo)體元件的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380028068.4 | 申請(qǐng)日: | 2013-06-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104662643A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-05-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 島田憲司;安部幸次郎;吉田寬史;大戶秀 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三菱瓦斯化學(xué)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/304 | 分類號(hào): | H01L21/304;G03F7/42;H01L21/027;H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇;李茂家 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 清洗 液態(tài) 組合 半導(dǎo)體 元件 方法 以及 制造 | ||
1.一種清洗用液態(tài)組合物,其用于半導(dǎo)體元件的制造,所述清洗用液態(tài)組合物包含:
0.05~25質(zhì)量%的氫氧化季銨、
0.001~1.0質(zhì)量%的氫氧化鉀、
5~85質(zhì)量%的水溶性有機(jī)溶劑、以及,
0.0005~10質(zhì)量%的吡唑類。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的清洗用液態(tài)組合物,其中,所述氫氧化季銨為選自由氫氧化四甲基銨、氫氧化四乙基銨、氫氧化四丙基銨、氫氧化四丁基銨和膽堿組成的組中的1種以上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的清洗用液態(tài)組合物,其中,所述水溶性有機(jī)溶劑為選自由下述物質(zhì)組成的組中的1種以上:選自乙醇、2-丙醇、乙二醇、丙二醇、甘油、二乙二醇、木糖醇和山梨糖醇的醇類,選自二乙二醇單甲醚、二乙二醇單乙醚、二乙二醇單丁醚、二乙二醇二甲基醚、二丙二醇單甲醚和二丙二醇單丙醚的二醇醚類,選自N,N-二甲基甲酰胺、N,N-二甲基乙酰胺和N-甲基-2-吡咯烷酮的酰胺類,二甲基亞砜,以及1,3-二甲基-2-咪唑烷酮。
4.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的清洗用液態(tài)組合物,其中,所述吡唑類為選自由吡唑、3,5-二甲基吡唑、3-甲基-5-吡唑啉酮和3-氨基-5-羥基吡唑組成的組中的1種以上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的清洗用液態(tài)組合物,其中,所述清洗用液態(tài)組合物還包含水。
6.根據(jù)權(quán)利要求1~5中任一項(xiàng)所述的清洗用液態(tài)組合物,其中,所述清洗用液態(tài)組合物不含除所述吡唑類以外的唑類。
7.一種半導(dǎo)體元件的清洗方法,其包括以下的工序:
在基板上從下到上依次層疊有機(jī)硅氧烷系薄膜和光致抗蝕層的工序,所述基板具有:低介電常數(shù)層間絕緣膜,以及,銅布線和/或銅合金布線;
對(duì)所述光致抗蝕層實(shí)施選擇性的曝光和顯影處理,形成光致抗蝕圖案的工序;
將所述抗蝕圖案作為掩模,對(duì)有機(jī)硅氧烷系薄膜、低介電常數(shù)層間絕緣膜實(shí)施干式蝕刻處理的工序;以及,
使用清洗用液態(tài)組合物,去除有機(jī)硅氧烷系薄膜、干式蝕刻殘?jiān)凸庵驴刮g層的工序,
其中,所述清洗用液態(tài)組合物包含:
0.05~25質(zhì)量%的氫氧化季銨、
0.001~1.0質(zhì)量%的氫氧化鉀、
5~85質(zhì)量%的水溶性有機(jī)溶劑、以及,
0.0005~10質(zhì)量%的吡唑類。
8.一種半導(dǎo)體元件的清洗方法,其包括以下的工序:
在基板上從下到上依次層疊硬掩模、有機(jī)硅氧烷系薄膜和光致抗蝕層的工序,所述基板具有:低介電常數(shù)層間絕緣膜,以及,銅布線和/或銅合金布線;
對(duì)所述光致抗蝕層實(shí)施選擇性的曝光和顯影處理,形成光致抗蝕圖案的工序;
將所述光致抗蝕圖案作為掩模,對(duì)硬掩模、有機(jī)硅氧烷系薄膜和低介電常數(shù)層間絕緣膜實(shí)施干式蝕刻處理的工序;以及,
使用清洗用液態(tài)組合物,去除有機(jī)硅氧烷系薄膜、干式蝕刻殘?jiān)凸庵驴刮g層的工序,
其中,所述清洗用液態(tài)組合物包含:
0.05~25質(zhì)量%的氫氧化季銨、
0.001~1.0質(zhì)量%的氫氧化鉀、
5~85質(zhì)量%的水溶性有機(jī)溶劑、以及,
0.0005~10質(zhì)量%的吡唑類。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的半導(dǎo)體元件的清洗方法,其中,所述氫氧化季銨為選自由氫氧化四甲基銨、氫氧化四乙基銨、氫氧化四丙基銨、氫氧化四丁基銨和膽堿組成的組中的1種以上。
10.根據(jù)權(quán)利要求7~9中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體元件的清洗方法,其中,所述水溶性有機(jī)溶劑為選自由下述物質(zhì)組成的組中的1種以上:選自乙醇、2-丙醇、乙二醇、丙二醇、甘油、二乙二醇、木糖醇和山梨糖醇的醇類,選自二乙二醇單甲醚、二乙二醇單乙醚、二乙二醇單丁醚、二乙二醇二甲基醚、二丙二醇單甲醚和二丙二醇單丙醚的二醇醚類,選自N,N-二甲基甲酰胺、N,N-二甲基乙酰胺和N-甲基-2-吡咯烷酮的酰胺類,二甲基亞砜,以及1,3-二甲基-2-咪唑烷酮。
11.根據(jù)權(quán)利要求7~10中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體元件的清洗方法,其中,所述吡唑類為選自由吡唑、3,5-二甲基吡唑、3-甲基-5-吡唑啉酮和3-氨基-5-羥基吡唑組成的組中的1種以上。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





