[發(fā)明專利]距離測量方法和距離測量元件

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380027826.0
• 申請日: 2013-06-24
• 公開（公告）號: CN104364671B
• 公開（公告）日: 2017-08-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 雷托·施圖茨
• 申請（專利權(quán)）人: 萊卡地球系統(tǒng)公開股份有限公司
• 主分類號: G01S7/486
• 分類號: G01S7/486;H03M1/12
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127
• 代理人: 呂俊剛,劉久亮

1.一種距離測量方法，至少包括：

·向目標(biāo)物(2，13)發(fā)射至少一個測量信號(MS)，其中產(chǎn)生至少一個開始信號(S)；

·接收從目標(biāo)物(2，13)反向散射的測量信號(MS)，作為目標(biāo)信號(Z)；

·以一采樣率采樣所接收的目標(biāo)信號(Z)，并且確定所述開始信號(S)和所述目標(biāo)信號(Z)的相對位置，其中，所述目標(biāo)信號(Z)在指派了所述采樣率的采樣模式的采樣點(diǎn)處被采樣；

·根據(jù)所述開始信號(S)和所述目標(biāo)信號(Z)的所述相對位置，導(dǎo)出與所述目標(biāo)物(2，13)的距離；

其特征在于，

所述采樣率是能夠調(diào)整的，并且按照依賴于與目標(biāo)物的粗略距離的方式設(shè)置。

2.如權(quán)利要求1所述的距離測量方法，其特征在于，

所述采樣率被設(shè)置為使得所述開始信號(S)和所述目標(biāo)信號(Z)各自的位置相對于所述采樣模式是相同的，從而所述開始信號和所述目標(biāo)信號在各自信號波形的相同位置處被采樣。

3.如權(quán)利要求1所述的距離測量方法，其特征在于，

所述方法是傳播時間測量方法。

4.如權(quán)利要求1所述的距離測量方法，其特征在于，

所述至少一個測量信號(MS)包括光信號。

5.如權(quán)利要求1或2所述的距離測量方法，其特征在于，

所述采樣率是根據(jù)下面的關(guān)系中的一個設(shè)置的：

或者

其中，

f表示待設(shè)置的用于采樣的采樣率，

c表示光速，

D表示粗略距離，

N表示開始信號和目標(biāo)信號之間的采樣間隔的數(shù)量，

表示向下取整函數(shù)，和

表示開始信號和目標(biāo)信號之間的采樣間隔的數(shù)量的向上取整函數(shù)。

6.如權(quán)利要求1或2所述的距離測量方法，其特征在于，

相對于所述目標(biāo)信號(Z)，來確定綜合距離誤差。

7.如權(quán)利要求1或2所述的距離測量方法，其特征在于，

相對于所述目標(biāo)信號(Z)，通過所述目標(biāo)信號(Z)在其位置方面偏移的線性插值來確定綜合距離誤差。

8.如權(quán)利要求1或2所述的距離測量方法，其特征在于，

與所述目標(biāo)物(2，13)的所述粗略距離是通過粗略距離測量確定的。

9.如權(quán)利要求8所述的距離測量方法，其特征在于，

對第一測量信號和第二測量信號執(zhí)行發(fā)射、接收和采樣，其中，粗略距離是根據(jù)所述第一測量信號導(dǎo)出的，并且用于對所述第二測量信號進(jìn)行采樣的采樣率是按照依賴于上述確定的粗略距離的方式設(shè)置的。

10.如權(quán)利要求8所述的距離測量方法，其特征在于，

如果正被檢測的反向散射的測量信號(MS)的強(qiáng)度超過預(yù)定的閾值，則通過正被檢測的反向散射的測量信號(MS)，按照依賴于傳播時間的方式確定與所述目標(biāo)物(2，13)的粗略距離。

11.如權(quán)利要求1或2所述的距離測量方法，其特征在于，

所述采樣率取自其中粗略距離被指派有合適的采樣率的表。

12.如權(quán)利要求1或2所述的距離測量方法，其特征在于，

粗略距離到采樣率的指派是基于以前的距離測量過程實(shí)現(xiàn)的。

13.如權(quán)利要求1或2所述的距離測量方法，其特征在于，

所述采樣率改變，直到所述目標(biāo)信號(Z)的采樣點(diǎn)處的一階導(dǎo)數(shù)最大為止。