[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置Tj溫度的矯正、測(cè)量和控制有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380027610.4 | 申請(qǐng)日: | 2013-05-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104335055B | 公開(公告)日: | 2017-06-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | D.哈南;E.雷德馬德;I.德羅爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 桑迪士克科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所11105 | 代理人: | 邱軍,焦玉恒 |
| 地址: | 美國得*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 tj 溫度 矯正 測(cè)量 控制 | ||
1.一種提供半導(dǎo)體裸芯的方法,包括:
(a)將多個(gè)溫度傳感器嵌入該半導(dǎo)體裸芯;
(b)掃描運(yùn)行中的該半導(dǎo)體裸芯中該多個(gè)溫度傳感器的一個(gè)或者多個(gè),以確定該半導(dǎo)體裸芯的在一個(gè)或者多個(gè)位置的溫度是否超過規(guī)定溫度;
(c)確定該半導(dǎo)體裸芯的在一個(gè)或者多個(gè)位置的溫度超過規(guī)定溫度,其中該方法還包括:
(d)通過以下步驟構(gòu)造包括半導(dǎo)體裸芯的封裝體,減小超過規(guī)定溫度的一個(gè)或者多個(gè)位置對(duì)該半導(dǎo)體封裝體的影響:
將第一半導(dǎo)體裸芯安裝在第二半導(dǎo)體裸芯上,超過規(guī)定溫度運(yùn)行的該第一半導(dǎo)體裸芯的該一個(gè)或者多個(gè)位置懸置于該第二半導(dǎo)體裸芯的邊緣。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,還包括,在超過規(guī)定溫度運(yùn)行的該半導(dǎo)體裸芯的該一個(gè)或者多個(gè)位置上增加散熱片至該半導(dǎo)體裸芯的步驟。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法,還包括減小半導(dǎo)體裸芯時(shí)鐘速率的步驟。
4.如權(quán)利要求1或2所述的方法,還包括選擇性地減小關(guān)閉該半導(dǎo)體裸芯的一個(gè)或者多個(gè)組件,該一個(gè)或者多個(gè)組件被認(rèn)為引起該半導(dǎo)體裸芯的該一個(gè)或者多個(gè)位置超過規(guī)定溫度。
5.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其中步驟(a)包括嵌入溫度傳感器陣列的步驟,溫度傳感器陣列包括第一數(shù)量的行和第二數(shù)量的列。
6.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其中步驟(a)包括嵌入溫度傳感器陣列于預(yù)測(cè)比該裸芯的其它位置更熱的位置。
7.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其中所述掃描該半導(dǎo)體裸芯中多個(gè)溫度傳感器中的一個(gè)或者多個(gè)的步驟(b)在該裸芯從裸芯的晶片上切下之后和在該裸芯安裝到基板上之前進(jìn)行。
8.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其中所述掃描該半導(dǎo)體裸芯中多個(gè)溫度傳感器中的一個(gè)或者多個(gè)的步驟(b)在該裸芯安裝到基板上之后和在該基板被引線鍵合之前進(jìn)行。
9.如權(quán)利要求1或2所述的方法,其中該半導(dǎo)體裸芯是控制器裸芯。
10.一種在閃存存儲(chǔ)器封裝體中設(shè)置閃存存儲(chǔ)器裸芯和控制器裸芯的方法,包括:
(a)形成基板,所述基板形成有多個(gè)接觸墊和在該接觸墊和主機(jī)裝置之間傳輸信號(hào)的電耦合,該閃存存儲(chǔ)器封裝體與所述主機(jī)裝置通訊;
(b)將閃存存儲(chǔ)器裸芯和控制器裸芯安裝在該基板上,該閃存存儲(chǔ)器裸芯和控制器裸芯的每一個(gè)包括多個(gè)溫度傳感器;
(c)在該閃存存儲(chǔ)器裸芯和該控制器裸芯運(yùn)行時(shí),掃描該閃存存儲(chǔ)器裸芯和該控制器裸芯中的多個(gè)溫度傳感器中的一個(gè)或者多個(gè),以提供在該閃存存儲(chǔ)器裸芯和該控制器裸芯兩者內(nèi)的溫度的三維熱圖,該三維熱圖用于確定該閃存存儲(chǔ)器裸芯和該控制器裸芯中的在一個(gè)或者多個(gè)位置的溫度是否超過該閃存存儲(chǔ)器裸芯和/或該控制器裸芯的規(guī)定溫度;以及
(d)確定該閃存存儲(chǔ)器裸芯和該控制器裸芯的在一個(gè)或者多個(gè)位置的溫度超過規(guī)定溫度,其中該方法還包括:
(e)通過以下步驟構(gòu)造包括該閃存存儲(chǔ)器裸芯和該控制器裸芯的該閃存存儲(chǔ)器封裝體,減小超過規(guī)定溫度的一個(gè)或者多個(gè)位置對(duì)該閃存存儲(chǔ)器封裝體的影響:
將該控制器裸芯安裝在該閃存存儲(chǔ)器裸芯上,超過規(guī)定溫度運(yùn)行的該控制器裸芯的該一個(gè)或者多個(gè)位置懸置于該閃存存儲(chǔ)器裸芯的邊緣。
11.如權(quán)利要求10所述的方法,其中該控制器裸芯中的該溫度傳感器包括溫度傳感器陣列,該溫度傳感器陣列包括第一數(shù)量的行和第二數(shù)量的列。
12.如權(quán)利要求10或11所述的方法,其中該控制器裸芯中的該溫度傳感器包括在預(yù)測(cè)比該控制器裸芯的其它位置更熱的位置的溫度傳感器陣列。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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