[發(fā)明專利]自動分析裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201380027466.4
• 申請日: 2013-05-24
• 公開（公告）號: CN104335051A
• 公開（公告）日: 2015-02-04
• 發(fā)明（設計）人: 吉川惠子;牧野彰久
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N21/01;G01N21/49;G01N21/82;G01N35/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 劉建

1.一種自動分析裝置，其特征在于，具備：

多個檢測部，其具備載置供試料與試劑發(fā)生反應的反應容器的反應容器設置部；

光源，其設置于所述反應容器設置部的底部，并照射光；

第一檢測器，其設置于所述反應容器設置部，并對從所述光源照射的光的來自所述反應容器的散射光進行檢測；

反應容器運送機構，其把持所述反應容器，進行所述反應容器的運送以及設置，并共用于所述多個檢測部；

第二檢測器，其設置于所述反應容器運送機構，并對從所述光源照射的光進行檢測。

2.根據(jù)權利要求1所述的自動分析裝置，其特征在于，

具備控制部，所述控制部在所述第二檢測器的檢測光量小于預先設定的閾值的情況下，發(fā)出表示所述光源的光量不足、或催促更換所述光源的警告。

3.根據(jù)權利要求1或2所述的自動分析裝置，其特征在于，

具備能夠?qū)乃龉庠凑丈涞墓膺M行檢測并且屏蔽來自外部的光的材料以及形狀的輔助工具，

所述輔助工具被所述反應容器運送機構把持，運送至所述光源的上方，在屏蔽了來自外部的光的狀態(tài)下，通過所述第二檢測器對從所述光源照射的光進行檢測。

4.根據(jù)權利要求1至3中任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，

將空的反應容器載置于所述反應容器設置部，

在透過所述空的反應容器的光的所述第二檢測器的檢測光量小于預先設定的第二閾值的情況下，發(fā)出表示所述空的反應容器存在異常的警告。

5.根據(jù)權利要求1至4中任一項所述的自動分析裝置，其特征在于，

基于所述第二檢測器的檢測光量，停止所述反應容器運送機構的水平方向的驅(qū)動。