[發明專利]具有線路傳播延遲補償的顯示系統

有效

• 申請號: 201380026539.8
• 申請日: 2013-05-22
• 公開（公告）號: CN104335270B
• 公開（公告）日: 2016-11-09
• 發明（設計）人: G·查吉;Y·阿澤澤
• 申請（專利權）人: 伊格尼斯創新公司
• 主分類號: G09G3/22
• 分類號: G09G3/22;G09G3/3225
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 羅銀燕

技術領域

本公開一般涉及用于在顯示器中使用的電路和對顯示器(特別是諸如有源矩陣有機發光二極管顯示器的顯示器)進行驅動、校準和編程的方法。

背景技術

顯示器可以由發光器件的陣列創建，每個發光器件由單個電路(即，像素電路)控制，該電路具有用于選擇性地控制電路被利用顯示信息編程并且根據顯示信息發射光的晶體管。制造在基板上的薄膜晶體管(“TFT”)可以并入到這樣的顯示器中。隨著顯示器老化，TFT趨向于隨著時間并在顯示面板上表現出不均勻的行為。補償技術可以應用于這樣的顯示器，以實現顯示器上的圖像均勻性并且考慮(account?for)顯示器中隨著顯示器老化的劣化。

用于向顯示器提供補償以考慮隨著時間并在顯示面板上的變化的一些方案利用監視系統來測量與像素電路的老化(即，劣化)相關聯的時間相關參數。然后可以使用所測量的信息來通知像素電路的后續編程，以便確保通過對該編程進行的調整來考慮任何測量到的劣化。這樣的被監視的像素電路可能需要使用另外的晶體管和/或線路來選擇性地將像素電路耦合到監視系統并且提供讀出信息。另外的晶體管和/或線路的并入可能不期望地減小像素間距(即，“像素密度”)。

發明內容

本公開的方面提供適合于在被配置對于像素老化提供補償的被監視的顯示器中使用的像素電路。本文中所公開的像素電路配置允許監視器經由監視開關晶體管訪問像素電路的節點，使得監視器可以測量指示像素電路的劣化量的電流和/或電壓。本公開的方面還提供允許與開關晶體管的電阻無關地對像素進行編程的像素電路配置。本文中所公開的像素電路配置包括用于使像素電路內的存儲電容器與驅動晶體管隔離以使得存儲電容器上的電荷不被編程操作期間通過驅動晶體管的電流影響的晶體管。

鑒于參照其簡要說明被接下來提供的附圖而進行的各實施例和/或方面的詳細描述，本公開的前面的和另外的方面和實施例對于本領域的普通技術人員將是清楚的。

附圖說明

當閱讀以下詳細描述并且參照附圖時，本發明的前面的和其它的優點將變得清楚。

圖1示出根據本公開的用于監視像素中的劣化并且因此提供補償的系統的示例性配置。

圖2是顯示系統中的數據線和監視線的RC模型的電路圖。

圖3A是用于對像素進行編程的電壓對時間的說明性繪圖，該繪圖示出對于圖2中的第N行中的像素的安穩效應。

圖3B是用于對像素進行編程的電壓對時間的說明性繪圖，該繪圖示出對于圖2中的第i行中的像素的安穩效應。

圖3C是用于對像素進行編程的電壓對時間的說明性繪圖，該繪圖示出對于圖2中的第1行中的像素的安穩效應。

圖4A是用于從利用被安穩效應影響的操作編程持續時間進行編程的像素讀取電流的電流對時間的說明性繪圖。

圖4B是用于從利用不被安穩效應影響的延長的編程持續時間進行編程的像素讀取電流的電流對時間的說明性繪圖。

圖5示出由于編程和讀出期間的線路傳播并且還由于來自像素劣化的誤差而導致的誤差的累積。

圖6示出利用啟動校準數據來表征監視線效應的操作序列。

圖7示出利用實時測量來提供像素老化的校準的操作序列。

圖8示出顯示器的操作壽命的早期的編程路徑中的初始誤差的隔離。

圖9提供基本上避免對于顯示器中的每行的安穩效應所需的讀出時間持續時間的示例性曲線圖。

圖10是用于提取監視線上的傳播延遲效應的實施例的流程圖。

圖11是用于提取信號線上的傳播延遲效應的實施例的流程圖。

雖然本公開容易有各種修改和替代形式，但是在附圖中以示例的方式示出了具體實施例，并且將在本文中對這些實施例進行詳細描述。然而，應當理解，本公開并非意圖限于所公開的特定形式。相反，本公開是要覆蓋落在由所附權利要求書限定的本發明的精神和范圍內的所有修改、等同和替代。

具體實施方式