[發(fā)明專利]魚眼透鏡分析器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201380025638.4 | 申請日： | 2013-05-17 |
| 公開（公告）號： | CN104284626B | 公開（公告）日： | 2017-12-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | P.默里 | 申請（專利權(quán)）人： | 西門子醫(yī)療保健診斷公司 |
| 主分類號： | A61B5/1455 | 分類號： | A61B5/1455 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 鄒松青,胡斌 |
| 地址： | 美國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 透鏡 分析器 | ||
1.一種成像設(shè)備，包括：
外殼；
檢測器，其位于所述外殼內(nèi)并具有覆蓋所述外殼內(nèi)的待成像的一個或多個目標(biāo)區(qū)域的視場；
廣角透鏡，其能夠操作地耦合到所述檢測器，從而使得所述檢測器通過所述廣角透鏡接收所述目標(biāo)區(qū)域的圖像數(shù)據(jù)，其中，所述廣角透鏡是魚眼透鏡；
支撐件，其位于目標(biāo)區(qū)域處并被配置為接納一個或多個測試部件，其中，所述一個或多個測試部件是多個測試部件，并且所述檢測器被配置為對所述多個測試部件同時成像，且其中，所述測試部件是試劑條、試劑卡、試劑盒、試劑滑片、微流控芯片、和/或橫向流測試裝置；以及
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，其具有處理器，所述處理器被配置為：
接收由所述檢測器捕獲的圖像并分析所述圖像內(nèi)的一個或多個感興趣區(qū)域，以確定在一個或多個感興趣區(qū)域處被應(yīng)用到所述一個或多個測試部件的樣本內(nèi)分析物的存在和缺乏中的至少一者，
其中，分析所述一個或多個感興趣區(qū)域進(jìn)一步包括：獲取所述一個或多個感興趣區(qū)域的RGB值并且控制和調(diào)節(jié)所述一個或多個測試部件上的光的變化。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像設(shè)備，其中，所述檢測器是CCD陣列。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的成像設(shè)備，其中，所述CCD陣列是2D CCD陣列。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的成像設(shè)備，其中，所述廣角透鏡具有在110°至220°之間的視場。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的成像設(shè)備，其中，所述廣角透鏡具有約140°的視場。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的成像設(shè)備，其中，所述檢測器位于待成像的目標(biāo)區(qū)域的正上方。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的成像設(shè)備，其中，捕獲所述一個或多個測試部件的圖像進(jìn)一步包括：校準(zhǔn)所述檢測器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的成像設(shè)備，其中，所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)一步被配置為使得所述檢測器能夠捕獲所述目標(biāo)區(qū)域處的一個或多個測試部件的圖像。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的成像設(shè)備，其中，所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)一步被配置為識別所述圖像中一個或多個測試部件中的每個內(nèi)的一個或多個感興趣區(qū)域。
10.一種用于成像一個或多個測試部件的方法，包括：
將廣角透鏡耦合到檢測器，從而使得所述檢測器通過所述廣角透鏡接收目標(biāo)區(qū)域的圖像數(shù)據(jù)；以及
將計(jì)算機(jī)系統(tǒng)耦合到所述檢測器，所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)具有處理器以及存儲有處理器可執(zhí)行指令的一個或多個處理器可讀存儲器，當(dāng)所述處理器可執(zhí)行指令被執(zhí)行時所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)使得所述處理器：
使所述檢測器能夠捕獲靠近所述目標(biāo)區(qū)域的一個或多個測試部件的圖像；
識別所述圖像中一個或多個測試部件中的每個內(nèi)的一個或多個感興趣區(qū)域；以及
分析所述圖像內(nèi)的一個或多個感興趣區(qū)域，以確定在所述一個或多個感興趣區(qū)域中被描繪的樣本內(nèi)分析物的存在和缺乏中的至少一者，其中，分析所述一個或多個感興趣區(qū)域進(jìn)一步包括：獲取所述一個或多個感興趣區(qū)域的RGB值并且控制和調(diào)節(jié)所述一個或多個測試部件上的光的變化；
其中，所述一個或多個測試部件是多個測試部件，并且所述檢測器被配置為對所述多個測試部件同時成像，且其中，所述測試部件是試劑條、試劑卡、試劑盒、試劑滑片、微流控芯片、和/或橫向流測試裝置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，進(jìn)一步包括：將光源能夠操作地耦合到所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)以照射所述目標(biāo)區(qū)域。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西門子醫(yī)療保健診斷公司，未經(jīng)西門子醫(yī)療保健診斷公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201380025638.4/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
