[發(fā)明專利]高動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)器校正算法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201380025521.6
• 申請(qǐng)日: 2013-04-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104303259A
• 公開(kāi)（公告）日: 2015-01-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 布魯斯·安德魯·科林斯;馬爾蒂安·迪瑪;G·伊沃什夫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: DH科技發(fā)展私人貿(mào)易有限公司
• 主分類號(hào): H01J49/26
• 分類號(hào): H01J49/26
• 代理公司: 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287
• 代理人: 曹曉斐

1.一種用于針對(duì)質(zhì)譜儀的非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)執(zhí)行空載時(shí)間校正的系統(tǒng)，所述非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)在高計(jì)數(shù)率下展現(xiàn)為非癱瘓電子器件的特性的結(jié)果的空載時(shí)間擴(kuò)展，所述系統(tǒng)包括：

質(zhì)譜儀的非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)，其包含離子檢測(cè)器、比較器/鑒別器、單穩(wěn)態(tài)電路及計(jì)數(shù)器，其中所述單穩(wěn)態(tài)電路需要來(lái)自所述比較器/鑒別器的脈沖的上升沿來(lái)觸發(fā)且僅可在所述脈沖已變低之后再次被觸發(fā)，從而允許恰好在由第一比較器/鑒別器脈沖開(kāi)始的空載時(shí)間的結(jié)束之前到達(dá)的第二比較器/鑒別器脈沖將所述空載時(shí)間擴(kuò)展到所述第二比較器/鑒別器脈沖的后沿；以及

處理器，其與所述計(jì)數(shù)器進(jìn)行數(shù)據(jù)通信，所述處理器

從所述計(jì)數(shù)器接收所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)，

根據(jù)所述所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)計(jì)算所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)率，以及

使用另外包含調(diào)整因子函數(shù)的用于非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)的真實(shí)離子計(jì)數(shù)率的方程式來(lái)執(zhí)行所述所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)率的空載時(shí)間校正，所述調(diào)整因子函數(shù)考慮到所述空載時(shí)間的所述擴(kuò)展。

2.根據(jù)前述系統(tǒng)權(quán)利要求的任一組合所述的系統(tǒng)，其中所述調(diào)整因子函數(shù)為所述所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)率的非線性函數(shù)。

3.根據(jù)前述系統(tǒng)權(quán)利要求的任一組合所述的系統(tǒng)，其中所述調(diào)整因子函數(shù)(adj_fac)包括

adj_fac＝y(tǒng)_o+ae^{b(observed_count_rate)}

其中y_o、a及b為系數(shù)。

4.根據(jù)前述系統(tǒng)權(quán)利要求的任一組合所述的系統(tǒng)，其中所述系數(shù)y_o、a及b是通過(guò)將所述調(diào)整因子函數(shù)與調(diào)整因子對(duì)校準(zhǔn)樣本的所觀測(cè)計(jì)數(shù)率的曲線圖擬合而確定的。

5.根據(jù)前述系統(tǒng)權(quán)利要求的任一組合所述的系統(tǒng)，其中另外包含調(diào)整因子函數(shù)(adj_fac)的用于非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)的真實(shí)離子計(jì)數(shù)率(true_count_rate)的方程式包括

true_count_rate=observed_count_rate(1-observed_count_rate×dead_time×adj_fac).]]>

6.根據(jù)前述系統(tǒng)權(quán)利要求的任一組合所述的系統(tǒng)，其中所述調(diào)整因子函數(shù)取決于所述質(zhì)譜儀。

7.根據(jù)前述系統(tǒng)權(quán)利要求的任一組合所述的系統(tǒng)，其中所述調(diào)整因子函數(shù)取決于所述離子檢測(cè)器的偏置電位及所述鑒別器的閾值電平。

8.根據(jù)前述系統(tǒng)權(quán)利要求的任一組合所述的系統(tǒng)，其中所述質(zhì)譜儀包含一或多個(gè)四極。

9.一種用于針對(duì)質(zhì)譜儀的非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)執(zhí)行空載時(shí)間校正的方法，所述非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)在高計(jì)數(shù)率下展現(xiàn)為非癱瘓電子器件的特性的結(jié)果的空載時(shí)間擴(kuò)展，所述方法包括：

使用質(zhì)譜儀的非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)來(lái)獲得所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)，所述非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)包含離子檢測(cè)器、比較器/鑒別器、單穩(wěn)態(tài)電路及計(jì)數(shù)器，其中所述單穩(wěn)態(tài)電路需要來(lái)自所述比較器/鑒別器的脈沖的上升沿來(lái)觸發(fā)且僅可在所述脈沖已變低之后再次被觸發(fā)，從而允許恰好在由第一比較器/鑒別器脈沖開(kāi)始的空載時(shí)間的結(jié)束之前到達(dá)的第二比較器/鑒別器脈沖將所述空載時(shí)間擴(kuò)展到所述第二比較器/鑒別器脈沖的后沿；

使用處理器根據(jù)所述所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)計(jì)算所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)率；以及

使用所述處理器，通過(guò)使用另外包含調(diào)整因子函數(shù)的用于非可癱瘓檢測(cè)系統(tǒng)的真實(shí)離子計(jì)數(shù)率的方程式執(zhí)行所述所觀測(cè)離子計(jì)數(shù)率的空載時(shí)間校正而計(jì)算真實(shí)離子計(jì)數(shù)率，所述調(diào)整因子函數(shù)考慮到所述空載時(shí)間脈沖的所述擴(kuò)展。