[發(fā)明專利]用于在串聯(lián)質(zhì)譜分析中使用交錯(cuò)窗寬度的系統(tǒng)及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380025471.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-04-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104285276B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-03-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 斯蒂芬·泰特;羅納德·F·邦納 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | DH科技發(fā)展私人貿(mào)易有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01J49/26 | 分類號(hào): | H01J49/26 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11287 | 代理人: | 曹曉斐 |
| 地址: | 新加坡*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 串聯(lián) 譜分析 使用 交錯(cuò) 寬度 系統(tǒng) 方法 | ||
相關(guān)申請(qǐng)案交叉參考
本申請(qǐng)案主張2012年5月18日提出申請(qǐng)的第61/649,199號(hào)美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)案的權(quán)益,所述美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)案的內(nèi)容以全文引用的方式并入本文中。
背景技術(shù)
可從串聯(lián)質(zhì)譜儀獲得定性及定量信息兩者。在此儀器中,在第一質(zhì)量分析器中選擇前驅(qū)物離子,在第二分析器中或在第一分析器的第二掃描中將前驅(qū)物離子碎裂并對(duì)碎片進(jìn)行分析。可使用碎片離子光譜來(lái)識(shí)別分子,且可使用一或多個(gè)碎片的強(qiáng)度來(lái)對(duì)樣本中存在的化合物的量進(jìn)行定量。
選定反應(yīng)監(jiān)測(cè)(SRM)為此情形的眾所周知的實(shí)例,其中選擇前驅(qū)物離子、將其碎裂并將其傳遞到經(jīng)設(shè)定以傳輸單個(gè)離子的第二分析器。當(dāng)選定質(zhì)量的前驅(qū)物碎裂以給出選定碎片質(zhì)量的離子時(shí)產(chǎn)生響應(yīng),且此輸出信號(hào)可用于定量。儀器可經(jīng)設(shè)定以測(cè)量數(shù)個(gè)碎片離子以用于確認(rèn)目的或測(cè)量數(shù)個(gè)前驅(qū)物碎片組合以對(duì)不同化合物進(jìn)行定量。
分析的敏感性及特異性受在第一質(zhì)量分析步驟中選擇的質(zhì)量窗的寬度影響。寬窗傳輸較多離子從而給出增加的敏感性,但也可允許不同質(zhì)量的離子通過(guò);如果后者給出處于與目標(biāo)化合物相同質(zhì)量的碎片,那么將發(fā)生干擾且準(zhǔn)確度將受損害。
在一些質(zhì)譜儀中,可使第二質(zhì)量分析器在高分辨率下操作,從而允許碎片離子窗為窄的,使得特異性可在很大程度上被恢復(fù)。這些儀器還可檢測(cè)所有碎片,因此其固有地檢測(cè)不同碎片。借助此儀器,使用寬窗來(lái)最大化敏感性為可行的。
這些最近開(kāi)發(fā)的高分辨率及高通量?jī)x器允許在一時(shí)間間隔內(nèi)使用具有鄰近或重疊的質(zhì)量窗寬度的多個(gè)掃描準(zhǔn)確地掃描一質(zhì)量范圍。在分離的每一時(shí)間間隔處每一光譜的集合為整個(gè)質(zhì)量范圍的光譜的集合。一種用于使用窗化質(zhì)譜分析掃描來(lái)掃描整個(gè)質(zhì)量范圍的示范性方法稱為循序窗化獲取(SWATH)。
當(dāng)前,SWATH用戶必須平衡SWATH實(shí)驗(yàn)的數(shù)目、積累時(shí)間以及跨越峰值的數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)目。舉例來(lái)說(shuō),如果用戶嘗試跨越一質(zhì)量范圍使用窄質(zhì)量窗寬度,那么結(jié)果可為,不存在足夠的敏感度或循環(huán)時(shí)間過(guò)大以致不能提供跨越峰值的充足數(shù)據(jù)點(diǎn)。
附圖說(shuō)明
所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解,下文所描述的圖式僅用于圖解說(shuō)明目的。所述圖式并非打算以任何方式限制本發(fā)明的范圍。
圖1是圖解說(shuō)明可在其上實(shí)施本發(fā)明教示的實(shí)施例的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的框圖。
圖2是根據(jù)各種實(shí)施例的具有均一長(zhǎng)度的重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度的質(zhì)量涵蓋的圖解說(shuō)明,所述重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度用于通過(guò)相同數(shù)目個(gè)重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度掃描具有均一長(zhǎng)度的目標(biāo)質(zhì)量選擇窗寬度。
圖3是根據(jù)各種實(shí)施例的具有可變長(zhǎng)度的重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度的質(zhì)量涵蓋的圖解說(shuō)明,所述重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度用于通過(guò)相同數(shù)目個(gè)重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度掃描具有可變長(zhǎng)度的目標(biāo)質(zhì)量選擇窗寬度。
圖4是根據(jù)各種實(shí)施例的具有均一長(zhǎng)度的重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度的質(zhì)量涵蓋的圖解說(shuō)明,所述重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度用于通過(guò)可變數(shù)目個(gè)重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度掃描具有均一長(zhǎng)度的目標(biāo)質(zhì)量選擇窗寬度。
圖5是展示根據(jù)各種實(shí)施例的用于使用重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度分析樣本的系統(tǒng)的示意圖。
圖6是展示根據(jù)各種實(shí)施例的用于使用重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度分析樣本的方法的示范性流程圖。
圖7是根據(jù)各種實(shí)施例的系統(tǒng)的示意圖,所述系統(tǒng)包含執(zhí)行用于使用重疊所測(cè)量質(zhì)量選擇窗寬度分析樣本的方法的一或多個(gè)相異軟件模塊。
在詳細(xì)描述本發(fā)明教示的一或多個(gè)實(shí)施例之前,所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員將了解,本發(fā)明教示在其應(yīng)用方面并不限于以下詳細(xì)描述中陳述的或圖式中圖解說(shuō)明的構(gòu)造細(xì)節(jié)、組件布置及步驟布置。而且,應(yīng)理解,本文中所使用的措辭及術(shù)語(yǔ)用于描述目的且不應(yīng)視為具有限制性。
具體實(shí)施方式
計(jì)算機(jī)實(shí)施的系統(tǒng)
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