[發(fā)明專(zhuān)利]可重新配置的檢測(cè)器系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201380024627.4 | 申請(qǐng)日: | 2013-02-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104335031B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | M·薩法伊 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 波音公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/20 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/20;G01N23/203 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11245 | 代理人: | 趙蓉民 |
| 地址: | 美國(guó)伊*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 重新 配置 檢測(cè)器 系統(tǒng) | ||
1.一種裝置,其包含:
輻射源(118),其經(jīng)配置發(fā)出輻射(122);
瞄準(zhǔn)儀(120),其經(jīng)配置使用由所述輻射源(118)發(fā)出的所述輻射(122)的一部分形成射束(134),其中所述射束(134)指向物體(104)的表面(126),其中所述物體的所述表面包括大體非平面的表面形狀;
檢測(cè)器系統(tǒng)(114),其經(jīng)配置檢測(cè)響應(yīng)所述射束(134)遇到所述物體(104)所形成的反向散射(136),其中所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的形狀(138)經(jīng)配置使用所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)中的結(jié)構(gòu)(144)從所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的第一形狀改變成所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的第二形狀,其中所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述第二形狀大體符合所述物體(104)的所述大體非平面的表面形狀,其中所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述第一形狀和所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述第二形狀是不同的,并且其中所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述第二形狀是所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的選定形狀(140),其中所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)包括若干傳感器(148),所述若干傳感器(148)與所述結(jié)構(gòu)(144)關(guān)聯(lián)并且被配置成檢測(cè)所述反向散射(136);
機(jī)電系統(tǒng),其被配置為隨著可移動(dòng)平臺(tái)(110)相對(duì)于所述物體(104)移動(dòng)而反復(fù)重新配置所述結(jié)構(gòu)(144);并且
其中:
所述可移動(dòng)平臺(tái)(110)與所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)關(guān)聯(lián);
所述機(jī)電系統(tǒng)使用來(lái)自所述若干傳感器(148)的數(shù)據(jù)而反復(fù)重新配置所述結(jié)構(gòu)(144);并且所述機(jī)電系統(tǒng)反復(fù)重新配置所述結(jié)構(gòu)(144)使得所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述形狀改變成大體符合所述物體(104)的所述大體非平面的表面形狀。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)包含:
所述結(jié)構(gòu)(144),其中所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述形狀(138)被配置成使用所述結(jié)構(gòu)(144)改變成所述選定形狀;和
若干個(gè)傳感器陣列(142),其包括所述若干傳感器并且與所述結(jié)構(gòu)(144)關(guān)聯(lián),其中所述若干個(gè)傳感器陣列(142)經(jīng)配置檢測(cè)響應(yīng)所述射束(134)遇到所述物體(104)所形成的所述反向散射(136)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其中所述結(jié)構(gòu)(144)包含:
多個(gè)節(jié)段(156),其通過(guò)若干個(gè)柔性接頭(158)連接到彼此,其中所述多個(gè)節(jié)段(156)中的至少一個(gè)節(jié)段相對(duì)于所述多個(gè)節(jié)段(156)中的另一個(gè)節(jié)段圍繞所述若干個(gè)柔性接頭(158)中的一個(gè)柔性接頭的運(yùn)動(dòng)改變所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述形狀(138)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其中所述結(jié)構(gòu)(144)包含:
可變形材料(160),其中所述可變形材料(160)的變形改變所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述形狀(138)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其中所述結(jié)構(gòu)(144)包含:
柔性電路(162),其中改變所述柔性電路(162)的配置改變所述檢測(cè)器系統(tǒng)(114)的所述形狀(138)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其中所述若干個(gè)傳感器陣列(142)中的傳感器陣列(146)包含:
所述若干個(gè)傳感器(148),其被布置成若干行和若干列。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其中所述若干個(gè)傳感器(148)中的傳感器(150)包含:
閃爍器(152);和
光檢測(cè)器(154)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置,其中所述若干個(gè)傳感器(148)中的傳感器(150)是閃爍檢測(cè)器、閃爍計(jì)數(shù)器、固態(tài)檢測(cè)器和半導(dǎo)體輻射檢測(cè)器中的一個(gè)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中所述物體的所述表面形狀包含凸形、凹形、曲線(xiàn)形和L形中的至少一個(gè)。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其中所述物體的所述表面形狀包含凸形、凹形、波浪形、L形、U形和環(huán)形中的至少一個(gè)。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線(xiàn)、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線(xiàn)輻照樣品以及測(cè)量X射線(xiàn)熒光





