[發明專利]SPECT/PET成像系統

有效

• 申請號: 201380024204.2
• 申請日: 2013-04-26
• 公開（公告）號: CN104285161B
• 公開（公告）日: 2017-08-01
• 發明（設計）人: F·C·瓦倫蒂諾
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01T1/164
• 分類號: G01T1/164;G01T1/29
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司72002
• 代理人: 李光穎,王英

1.一種成像系統(100)，包括：

封閉環形環(102)，其具有定義檢查區域(106)的膛；

探測器模塊(108)的集合，其被固定到所述封閉環形環，其中，所述探測器模塊的集合被配置為在SPECT模式中探測具有在40至140keV范圍內的能量的伽瑪射線，并且被配置為在PET單模式中探測具有511keV的能量的伽瑪射線，所述伽瑪射線由所述檢查區域中的放射性同位素發射，其中，511keV伽瑪射線是用所述PET單模式探測的，在所述PET單模式中，個體511keV伽瑪射線被探測并且511keV伽瑪射線的符合對不被探測；

能量鑒別器(132)，其將探測到的伽瑪射線分倉到對應于511keV能量伽瑪射線的第一能量倉中和對應于40至140keV能量伽瑪射線的第二能量倉中；以及

重建器(126)，其重建所述511keV能量伽瑪射線從而生成第一放射性核素的分布的第一圖像，并且重建在40與140keV之間的一個或多個范圍內的所述伽瑪射線從而生成第二放射性核素的分布的第二圖像。

2.根據權利要求1所述的成像系統，其中，所述集合包括單個探測器模塊，所述單個探測器模塊被配置為探測40至140keV伽瑪射線和511keV伽瑪射線兩者。

3.根據權利要求1所述的成像系統，其中，所述集合包括探測器模塊的第一子集合和探測器模塊的第二子集合，所述探測器模塊的第一子集合被配置為僅探測40至140keV伽瑪射線，所述探測器模塊的第二子集合被配置為僅探測511keV伽瑪射線。

4.根據權利要求1至3中的任一項所述的成像系統，還包括：

準直器(114)，其定義針對模塊的輻射探測區。

5.根據權利要求4所述的成像系統，其中，所述探測區是扇形或圓錐形形狀中的一種。

6.根據權利要求1至3中的任一項所述的成像系統，所述探測器模塊，包括：

閃爍體(110)，其包括至少一個鉈摻雜碘化銫閃爍晶體(112)。

7.根據權利要求1至3中的任一項所述的成像系統，所述探測器模塊，包括：

閃爍體，其包括至少一個溴化鑭閃爍晶體。

8.根據權利要求6所述的成像系統，其中，所述閃爍體中的至少一個還包括至少一個鉈摻雜碘化鈉閃爍晶體。

9.根據權利要求1至3中的任一項所述的成像系統，其中，所述探測器模塊被配置為朝向和遠離所述檢查區域徑向平移。

10.根據權利要求1至3中的任一項所述的成像系統，其中，所述探測器模塊被配置為旋轉通過一弧度，以掃掠穿過所述檢查區域的探測區。

11.根據權利要求4所述的成像系統，其中，所述探測區是矩形形狀的。

12.根據權利要求1所述的成像系統，其中，所述探測器模塊的集合包括三個探測器模塊。

13.根據權利要求1所述的成像系統，還包括沿著z方向的多于一個的環形環。

14.根據權利要求1所述的成像系統，其中，所述探測器模塊的集合探測伽瑪射線，所述伽瑪射線具有511keV的能量，由檢查區域中的放射性同位素發射，其中，511keV伽瑪射線是用如下的模式探測的，在所述模式中，511keV伽瑪射線的符合對被探測。

15.一種成像方法，包括：

以SPECT模式和PET單模式操作成像系統，以在SPECT模式中探測具有在40至140keV的范圍內的能量的伽瑪射線，并且以在PET單模式中探測具有511keV的能量的伽瑪射線，所述伽瑪射線由檢查區域(106)中的放射性同位素發射，其中，511keV伽瑪射線是用所述PET單模式探測的，在所述PET單模式中，個體511keV伽瑪射線被探測并且511keV伽瑪射線的符合對不被探測，其中，所述成像系統包括封閉環形環(102)，所述封閉環形環(102)具有定義所述檢查區域的膛，其中，探測器模塊(108)的集合被固定到所述封閉環形環，并且其中每個探測器模塊(108)包括定義針對各自的探測器模塊的輻射探測區的準直器(114)；

利用所述探測器模塊來采集SPECT數據和PET數據；并且

重建采集到的數據，從而產生SPECT圖像數據和PET圖像數據。