[發明專利]障礙物檢測系統

無效

• 申請號: 201380022962.0
• 申請日: 2013-05-01
• 公開（公告）號: CN104272136A
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 海姆·尼夫;艾倫·斯拉帕克;馬克·祖塔
• 申請（專利權）人: 雷達障礙檢測有限公司
• 主分類號: G01S13/93
• 分類號: G01S13/93;G01S7/02
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 張瑞;鄭霞

1.一種線檢測設備，其包括帶有發射器裝置和接收器裝置的天線裝置，如此被設計以形成脈沖雷達系統，還包括極化控制裝置和處理裝置，所述極化控制裝置用于控制通過所述天線裝置所發射的波和/或所接收的波的極化，并且所述處理裝置用于根據線的特征極化回波來識別來自線的反射。

2.根據權利要求1所述的線檢測設備，其中所發射的波具有比要被檢測和識別的線的直徑更長的波長。

3.根據權利要求1所述的線檢測設備，其中所發射的波具有比超過要被檢測和識別的線的直徑的6倍更長的波長。

4.根據權利要求1所述的線檢測設備，還包括使用波極化進行塔架檢測和識別的裝置。

5.根據權利要求4所述的線檢測設備，其中進行塔架檢測和識別的所述裝置使用具有比要被檢測的所述塔架的直徑或寬度更長的波長。

6.根據權利要求1-5中任一項所述的線檢測設備，還包括用于實現步進頻率雷達的裝置。

7.根據權利要求1-6中任一項所述的線檢測設備，還包括用于實現雙頻雷達的裝置，所述用于實現雙頻雷達的裝置包括用于檢測和識別線的第一頻率，以及用于檢測和識別塔架的第二頻率，并且其中所述第二頻率比所述第一頻率更低。

8.根據權利要求1-7中任一項所述的線檢測設備，還包括用于實現用于短程檢測的高PRF雷達的裝置。

9.根據權利要1-8中任一項所述的線檢測設備，還包括用于在二維中進行干涉方向探知的裝置，其中所述二維包括方位角和仰角。

10.根據權利要求1-9中的任一項所述的線檢測設備，其中所述天線裝置包括二維天線陣列，所述二維天線陣列用于在天線陣列的鄰近元件之間實現干涉測量。

11.根據權利要求10所述的線檢測設備，其中所述天線陣列元件被安裝在曲凸面上，以便允許所述天線元件指向不同的方向。

12.一種線和塔架的檢測方法，所述方法包括：

a.發射RF波，所述RF波具有受控的極化；

b.使用受控的極化的天線裝置接收RF反射，即回波；

c.處理所接收的信號以識別線或塔架的回波特征；

d.若以第一頻率接收到不能被識別為線的大回波，則使用第二頻率，即更低的頻率來識別塔架。

13.根據權利要求12所述的線和塔架的檢測方法，還使用高PRF雷達發射用于短程檢測。