[發明專利]圖像處理裝置、圖像處理方法以及程序有效
| 申請號: | 201380020652.5 | 申請日: | 2013-02-14 |
| 公開(公告)號: | CN104247409B | 公開(公告)日: | 2016-10-12 |
| 發明(設計)人: | 齋藤泰 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | H04N9/07 | 分類號: | H04N9/07 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 杜誠;陳煒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 處理 裝置 方法 以及 程序 | ||
1.一種圖像處理裝置,包括:
數據轉換處理單元,所述數據轉換處理單元被配置成將RGBW陣列圖像作為輸入圖像,以及生成RGB陣列圖像作為輸出圖像,
所述數據轉換處理單元包括:
偽色檢測單元,所述偽色檢測單元被配置成檢測所述輸入圖像中的偽色像素,并且輸出檢測信息,
低頻帶信號計算單元,所述低頻帶信號計算單元被配置成輸入來自所述偽色檢測單元的所述檢測信息,并且根據所述檢測信息來改變處理方面,以計算與各個RGBW顏色對應的低頻帶信號,以及
像素插值單元,所述像素插值單元被配置成通過像素插值來執行所述輸入圖像的所述RGBW陣列的像素轉換,以生成所述RGB陣列圖像,其中由所述低頻帶信號計算單元計算的所述低頻帶信號被應用于所述像素插值,并且
所述插值處理單元
基于W像素的低頻帶信號mW和各個RGB像素的低頻帶信號mR、mG和mB在局部區域中具有比例關系的假設來計算插值像素值。
2.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,
當從所述偽色檢測單元輸入了表明感興趣像素是偽色像素的所述檢測信息時,
所述低頻帶信號計算單元應用低通濾波器來計算所述低頻帶信號,對于所述低通濾波器設置低通濾波器系數,其中使所述感興趣像素附近的像素的像素值貢獻率相對低于與所述感興趣像素分隔開的像素的像素值貢獻率。
3.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,
當從所述偽色檢測單元輸入了表明感興趣像素不是偽色像素的所述檢測信息時,
所述低頻帶信號計算單元應用低通濾波器來計算所述低頻帶信號,對于所述低通濾波器設置低通濾波器系數,其中使所述感興趣像素附近的像素的像素值貢獻率相對高于與所述感興趣像素分隔開的像素的像素值貢獻率。
4.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,
所述偽色檢測單元
檢測是否存在局部高亮區域,所述局部高亮區域是所述輸入圖像中的局部高亮度區域,并且當感興趣像素被包括在所述局部高亮區域中時,所述偽色檢測單元確定所述感興趣像素是偽色像素。
5.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,
所述偽色檢測單元
檢測感興趣像素附近的W像素的斜度信息,并且當所述感興趣像素附近的W像素值在兩個垂直方向上均高于周邊的W像素值時,所述偽色檢測單元確定所述感興趣像素被包括在局部高亮區域中,所述局部高亮區域是局部高亮度區域,并且所述感興趣像素是偽色像素。
6.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,
所述偽色檢測單元
(a)基于設置在感興趣像素附近的多個右下對角線上的多個W像素的像素值來計算與各個線相對應的W像素低頻分量信號,并且執行差值Diff1與閾值Thr1之間的比較處理,所述差值Diff1是靠近所述感興趣像素的多個內側線的W像素低頻分量信號的最大值與遠離所述感興趣像素的多個外側線的W像素低頻分量信號的最大值之間的差值,以及
(b)基于設置在感興趣像素附近的多個右上對角線上的多個W像素的像素值來計算與各個線相對應的W像素低頻分量信號,并且執行差值Diff2與閾值Thr2之間的比較處理,該差值Diff2是靠近所述感興趣像素的多個內側線的W像素低頻分量信號的最大值與遠離感興趣像素的多個外側線的W像素低頻分量信號的最大值之間的差值,以及
作為上述(a)和(b)這兩種情況的比較結果,當在這兩種情況下所述差值均大于所述閾值時,所述偽色檢測單元確定所述感興趣像素是偽色像素。
7.根據權利要求1所述的圖像處理裝置,其中,
所述偽色檢測單元
檢測在W像素和G像素集中在局部高亮區域中時出現的偽色,或者在W像素、R像素和B像素集中在所述局部高亮區域中時出現的偽色,所述局部高亮區域是所述輸入圖像中的局部高亮度區域。
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